Министерство образования и науки Российской Федерации

ФГАОУ ВПО «Северо-Восточный федеральный университет им. М.К. Аммосова»

Физико-технологический институт

Кафедра «Физика материалов и технологии сварки»

ОТЧЕТ

По научно-исследовательской практике

Специальность: Машиностроение

Место прохождения практики: ЦКП "Станция низкотемпературных натурных испытаний" ИФТПС СО РАН

Сроки прохождения практики:26.06.2017-07.07.2017

Выполнил: студент группы МС-14 Андреев Дмитрий

Руководитель: ____________________________

Оценка:___________________________

«___»________________2017г.

Якутск-2017

Описание

1. Введение

2. Общая характеристика предприятия

3. Техника безопасности, охрана труда и пожарная безопасность

4. Микроскоп для анализа металла

5. Микроскоп hitachi tm3030

Заключение

Использованные литературы

Введение

Я, студент 4 курса специальности «Машиностроение» группы МС-14(АБ), Андреев Дмитрий Яковлвич проходил практику по научно-исследовательской в г.Якутск На базе ЦКП “Станция низкотемпературных натурных испытаний” ИФТПС СО РАН с 26 июня по 7 июля 2017 года

Задачи практики:

Задача практики закрепление научных знаний на основе изучения опыта работы предприятия и получение организаторских, воспитательных и производственных навыков инженерной деятельности. В процессе прохождения практики мы должны подготовиться к выполнению курсовых проектов по технологии производства сварных конструкций, организации и экономике сварочного производства.

Общая характеристика предприятия

Центр коллективного пользования «Станция низкотемпературных натурных испытаний» создан в 2002 году на базе Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института физико-технических проблем Севера имени В.П. Ларионова Сибирского отделения Российской академии наук.

Направления научных исследований

• создание и оснащение комплексных полигонов для проведения натурных испытаний узлов, деталей техники, элементов конструкций, различных материалов и новых технологий в условиях естественных температур Крайнего Севера;

• разработка и отработка методов испытаний элементов конструкций и материалов при естественных низких температурах;

• выполнение совместных крупных научно-технических проектов между академическими институтами, образовательными учреждениями и другими организациями;

• оказание консультационной и методической помощи пользователям и исследователям при проведении натурных испытаний.

Техника безопасности, охрана труда и пожарная безопасность

1. Программа обучения по охране труда для рабочего персонала;

2. Подготовка и аттестация руководителей и специалистов по охране труда ЦКП “Станция низкотемпературных натурных испытаний” ИФТПС СО РАН.

3. Организация работ повышенной опасности в ЦКП “Станция низкотемпературных натурных испытаний” ИФТПС СО РАН.

4. Инструкция по технологическому расследованию и учету технологических нарушений в ЦКП “Станция низкотемпературных натурных испытаний” ИФТПС СО РАН.

5. Положение о расследовании инцидентов на опасных объектах ЦКП “Станция низкотемпературных натурных испытаний” ИФТПС СО РАН.

6. Правила обеспечение работников ЦКП “Станция низкотемпературных натурных испытаний” ИФТПС СО РАН. специальной одеждой, специальной обувью и другими СИЗ;

7. Порядок и условия выдачи витаминизированных напитков для работников занятых на вредных условиях труда;

8. Порядок прохождения обязательного психиатрического освидетельствования работников, работающих в условиях повышенной опасности связанных с источниками повышенной опасности (с влиянием вредных веществ и неблагоприятных производственных факторов»);

9. Типовые инструкции по охране труда и безопасным методам выполнения работы.

Когда мы рассматриваем кусок стали, меди, свинца или какого-либо другого металла невооружённым глазом, металл нам кажется совершенно однородным, сплошным.

С помощью лупы можно увидеть, что поверхность одного металла оказывается зернистой, поверхность дру­гого имеет волокнистый вид. Можно также рас­смотреть на поверхности трещины, раковины и т. д. (Рис 1.)

Рис. 1. Зернистое строение литой стали и волокнистое строение стали после прокатки.

HITACHI TM3030

Настольный сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM4000Plus отличается компактными размерами и широкими возможностями. Прибор штатно имеет режим низкого вакуума, который позволяет обойтись без пробоподготовки и исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления металла. Для использования микроскопа достаточно обычного лабораторного стола. Управление микроскопом осуществляется через простой и понятный интерфейс, в котором доступны функции автоматической настройки фокуса, контрастности и яркости. Прибор готов к работе в течении 3-х минут после включения, а время смены образца не превышает 2-х минут. Микроскоп оснащен двумя детекторами – вторичных и отраженных электронов, благодаря чему может давать исчерпывающую информацию по поверхности исследуемых объектов. В новом ТМ4000Plus оптимизирована работа детектора, за счёт чего существенно улучшилось качество изображения при работе на низких ускоряющих напряжениях. (Рис 2.)

Рис 2. Настольный сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM4000Plus

Микроанализ (микроскопический анализ) представляет собой исследование структуры металла при больших увеличениях с помощью специального металлографического микроскопа, предназначенного для изучения металла.

Металлы и сплавы подвергаются микроанализу с целью исследования общей структуры (типа структурных составляющих, их величины, формы и расположения), наличия неметаллических включений и различных дефектов (крупное зерно, перегрев, пережоги т.д.), контроля качества тепловой обработки металла.

Используемый для исследования металлов металломикроскоп позволяет рассматривать предмет в отраженном свете (в отличие от биологического микроскопа, где предмет просматривается в проходящем свете).

Рис. 3 Во время исследования стали после сварки.

Относительно маленькая длина свободного пробега (15 нм) на 5 кВ для органических образцов приводит к тому, что для образцов с постоянной толщиной высокий контраст будет получаться уже при малом изменении плотности. Например для 5 % контраста в светлопольном изображении в низковольтном электронном микроскопе нужно отличие в плотности в 0,07 г/см³. Это значит, что отпадает необходимость маркировать полимеры тяжелыми элементами.^[2]

Современные низковольтные микроскопы имеют пространственное разрешение порядка 2,5 нм в режиме ПЭМ, 2,0 нм в ПРЭМ и 3,0 нм в РЭМ^[2]

Низкое значение ускоряющего напряжения позволяет существенно уменьшить размеры колонны по сравнению с микроскопами с большими ускоряющими напряжениями, что в итоге позволяет низковольтному микроскопу иметь типичные размеры настольного микроскопа. Уменьшение размеров колонны уменьшает чувствительность к внешним вибрациям и шуму. Это в свою очередь приводит к тому, что микроскоп не нуждается в таких же средствах изолирования, как традиционные электронные микроскопы.