- •41.Тензометрические полупроводниковые чувствительные элементы. Схемы включения тензорезисторов.
- •42.Тензорезистивные кремниевые датчики. Характеристики и параметры мостовых тензорезисторных преобразователей давления.
- •43.Градуировка, балансировка и компенсация температурной погрешности мостовой схемы тензопреобразователей.
- •47. Магнитоупругие преобразователи (муп). Принцип действия и конструкция муп. Схемы включения муп. Погрешность муп. Магнитоупругий датчик измерения силы.
- •48. Гальваномагниторекомбинационные преобразователи.
- •49. Датчики Виганда.
- •51.Эффект Холла. Материалы для изготовления датчиков Холла (дх). Основные параметры дх и их связь со свойствами полупроводника.
- •52. Технология изготовления дх.
- •53.Магниторезистивные преобразователи. Основные параметры магниторезисторов.
- •54.Технология изготовления магниторезисторов.
- •55.Применение гальваномагнитных преобразователей в средствах автоматизации.
- •56.Магнитодиодный эффект. Параметры магнитодиодов.
- •57.Конструкция и технология изготовления магнитодиодов. «Торцевые» и планарные магнитодиоды.
- •59.Основные задачи температурных измерений. Физические основы температурных измерений.
- •60.Погрешности температурных измерений контактными датчиками.
- •61.Полупроводниковые терморезисторы (тр). Основные характеристики тр: температурная зависимость сопротивления, вольт-амперные характеристики, инерционность, стабильность и срок службы.
- •62.Тр с отрицательным и положительным ткс. Кремниевые датчики температуры.
- •63.Применение датчиков температуры: медный, платиновый и марганцевый термометры сопротивления.
- •64.Основные задачи измерений тепловых потоков. Классификация датчиков теплового потока (дтп). Физические модели «тепловых» дтп.
- •65.Тонкопленочные дтп, калориметрические дтп
- •66.Градиентные (с продольным и поперечным градиентом) дтп
- •67. Бесконтактные измерители температуры. Тепловые фотоприемники. Применение пироэлектриков.
- •68. Биосенсоры. Применение биосенсоров: биосенсоры на основе бактерий, микроорганизмов, биологических тканей. Проблемы и перспективы развития.
- •69. Датчики газового состава. Электродные реакции.
- •70.Электрохимические методы анализа: кондуктометрия, потенциометрия, вольтамперометрия, амперометрия, кулонометрия.
- •71. Химические измерения: кислотность, окислительно- восстановительный потенциал, проводимость.
- •73.Особенности «интеллектуальных» датчиков физических величин. Функциональные возможности и требования, предъявляемые к «интеллектуальным» датчикам.
- •74.Микропроцессорные модули для интеллектуальной обработки информации. Измерительный канал «интеллектуальных» датчиков.
- •75.Основные критерии выбора микроконтроллера для «интеллектуального» датчика.
- •76. Универсальный интерфейс преобразователя.
- •77.Стандартизация интерфейсов «интеллектуальных» датчиков (семейство ieee р 1451). Коррекция ошибок в «интеллектуальных» датчиках.
- •79.Исполнение датчиков в зависимости от воздействия климатических факторов внешней среды.
- •80.Исполнение датчиков в зависимости от степени защиты от воздействия твердых тел (пыли) и пресной воды.
- •81. Исполнение датчиков в зависимости от устойчивости к воздействию синусоидальной вибрации.
52. Технология изготовления дх.
При получении полупроводниковых пластин для ДХ в настоящее время используются следующие технологии: Выпиливание кристаллической пластины Холла требуемой конфигурации из монокристаллического бруска. В этом случае типовой технологический процесс состоит из следующих операций: вырезка пластины. Обычно пластины вырезаются на станках с вращающимся абразивным кругом, которым режут при помощи карборундового или алмазного порошка. Из вырезанных брусков дальнейшей резкой получают прямоугольные пластины с необходимым соотношением длин сторон. В последнее время также часто применяются магнитострик- ционные ультразвуковые установки. Особым преимуществом этого вида установок является возможность вырезания пластин почти любых форм; обработка поверхности пластин состоит из двух этапов. Первый - это механическая шлифовка и полирование, цель которых - устранение дефектов, возникших при резке пластин, и одновременно доводка толщины пластин до заданной величины. Толщина вырезанных пластин обычно бывает не менее 200-300 мкм (это обусловлено хрупкостью полупроводниковых материалов), однако конечная толщина пластин находится в пределах от 40 до 200 мкм. При меньшей толщине пластины ухудшаются основные параметры ДХ за счет увеличения рассеивания носителей заряда на дефектах поверхности и соответствующего уменьшения подвижности. Шлифовка проводится при помощи порошков - карборундовых (SiC), алундовых (АЬОз) либо алмазных с соответствующим диаметром зерен (от 30 до 0,1 мкм) на плитах стеклянных, металлических, а в конце - на плитах, покрытых специальными тканями. Вторым этапом обработки поверхности является химическое травление для окончательной очистки поверхности пластин; изготовление контактов к пластине. Контакты металл- полупроводниковый материал должны обладать следующими свойствами: а) контакты должны обладать малым сопротивлением но сравнению с сопротивлением пластины датчика; б) сопротивление контактов должно быть линейным по току; в) холловские контакты при отсутствии магнитного поля должны находиться на эквипотенциальной поверхности. Применяют либо непосредственное приваривание проводов к пластине при помощи пропускания импульса тока, либо вплавливание постоянных контактов в пластину в форме капель или слоев, к которым впоследствии припаиваются гибкие провода. Во втором случае материал электродов в виде фольги накладывается на пластинку или напыляется на нее. через соответствующим шаолон, а затем вплавливается в вакууме либо в атмосфере защитного газа; герметизация. Чаще всего полупроводниковая пластина заливается синтетической смолой.
Получение пластин Холла путем напыления на подложку тонких слоев полупроводниковых материалов. Такая технология позволяет получить за один цикл напыления большое число преобразователей, причем размеры активной области могут быть сделаны порядка десятых долей миллиметра. При подборе пар полупроводник - металл для контактных структур кроме хорошей электропроводности, способности образовывать омический контакт с данным полупроводником металл должен удовлетворять ряду дополнительных требований. Область контакта должна быть резкой, т.е. металл не должен проникать в полупроводник, что возможно, если он будет иметь низкий коэффициент диффузии и не будет обладать смешиваемостью с полупроводником в твердом состоянии. Кроме того, металл должен быть электрически нейтрален по отношению к полупроводнику, чтобы не влиять на его проводимость в области, прилегающей к границе раздела. Необходимо также отметить, что материалы пары полупроводник - металл должны быть технологически совместимыми и соответствовать требованиям эффективного нанесения путем вакуумного напыления. Для полупроводников AiiiBn наиболее подходят металлы А111. Они практически не растворяются в твердом состоянии в полупроводниках AmBv, электрически нейтральны по отношению к ним и технологически совместимы в любых процессах. Для получения пленочных структур полупроводник - металл более всего подходит наиболее тугоплавкий из металлов А111 алюминий. Его использование в составе рассматриваемых структур способно обеспечить существенное расширение рабочего температурного диапазона для измерительных преобразователей по сравнению с приборами, у которых контакты выполнялись на основе пайки индием.
