4. Построение тестов методом существенных путей

Для обнаружения неисправности по состоянию выхода лог. комбин. схемы необходимо выполнение 2-х условий:

1. Неисправность должна проявляться, то есть если в узле на выходе элемента числится неисправность типа 1, то необходимо подобрать входной набор таким образом, чтобы при отсутствии неисправности получить на выходе 0.

2. Изменение значения сигнала в месте проявления неисправности должно изменить обратное значение сигнала на контролируемом выходе схемы.

П олученный таким образом путь в схеме, на котором находится эта неисправность называется существенным.

Д ля проявления неисправности в данной точке следует подать набор a=1,b=1. Для этого подбираем такие значения p2, что позволяет(сохранить) проявить изменения p1. Требуемое значение p2=1. Для того, чтобы (p2=1) в точке сигнал=1, необх, что ли. Т.одиагностич набор для выявления неиспр типа 1 т.6 имеет вид 11~ Затем провер. Какие ещё неисправности могут быть выявлены с помощью данного набора. Затем проделываем выше описанные действия для ост. узлов схемы для неиспр. “0”,”1”. В каждом из них полученная сов-ть наборов будет предст. собой контролир. тест. При составлении диагностич. теста следует иметь ввиду, что 2 неисправности различимы, если при каком либо наборе одна меняет свои значения, а вторая нет. Чтобы неиспраность не меняла зн-я вых сигнала, её нужно сделать несущественной. Для этого достаточно не выполнить хотя бы одно из условий, рассм. выше. То нужно проанализировать все пары возможных неисправностей и подобрать такие наборы, чтобы путь для 1-й неисправности был существенным, а для 2-й несущественным. Если схема имеет внутренние ветвления, её потом необходимо преобразовать, чтобы разветвлений не было, а многовыходную схему разбить на отдельные схемы с 1-м выходом каждая.

5.Построение тестов методов булевой переменной

О бщий вид булевой функции:

Булевая функция в раскрытом виде:

Пример: определить x1 и x2, позволяющие выявить неисправность в точке х3:

Контролируемый тест по переменной х3.

6. Склеивание тестов

П роизводится объединением вх. наборов отдельных узлов и склеивается так, что в конечном счёте входные переменные общего теста будут входные переменные схемы, и внутренние (промежут.) переменные, формализуемые в местах условного обрыва обратной связи. А выходные переменные контролируют на входных наборах общего теста выходные переменные и узлы памяти.

В самом простом случае склеенный тест имеет следующий вид:

С точки зрения методов склеивания тестов для схем состоящих из нескольких модифицированных схем следует различать 3 варианта:

1. Склеиваемые тесты для комбинации подсхем, входными сигналами которых являются собственно входные сигналы схемы (начальные)

2. Склеиваемые тесты для комбинации подсхем, но внутренними сигналами последних могут быть и выходные сигналы других подсхем (промежуточные).

3. Склеиваемые тесты для последовательных схем, т.е. схем с ОС.