Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
diplom_Khripunov.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
2.51 Mб
Скачать

Список литературы

  1. McNaught A. D. Compendium of chemical terminology. / A. D. McNaught, A. Wilkinson. – N.-Y. (USA) : Blackwell Science, 1997. – 464 p.

  2. Арутюнов П. А. Система параметров для анализа шероховатости и микрорельефа поверхности материалов в сканирующей зондовой микроскопии / П. А. Арутюнов, А. Л. Толстихина, В. Н. Демидов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 1999. – Т. 65, № 9. – С. 27-37.

  3. Tong W. M. Kinetics of surface growth : phenomenology, scaling, and mechanisms of smoothening and roughening / W. M. Tong, R. S. Williams // Ann. Rev. Phys. Chem. – 1994. – V. 45. – P. 401-438.

  4. Surface roughness scaling of plasma polymer films / G. W. Collins [et al.] // Phys. Rev. Lett. – 1994. – V. 73, № 5. – P. 708-711.

  5. Zipin R. B. The height sensitive surface roughness parameters / R. B. Zipin // Appl. Surf. Sci. – 1981. – V. 9, № 1-4. – P. 266-287.

  6. Мандельброт Б. Фрактальная геометрия природы / Б. Мандельброт. – М. : Институт компьютерных исследований, 2002. – 656 с.

  7. Fan L. F. Elementary introduction to spatial and temporal fractals / L. F. Fan, D. Neogi, M. Yashima. – Berlin (Germany) : Springer-Verlag, 1991. – 523 p.

  8. Go J-Y. A study on ionic diffusion towards self-affine fractal electrode by cyclic voltammetry and atomic force microscopy / J-Y. Go, S-I. Pyun, Y-D. Hahn // J. Electroanal. Chem. – 2003. – V. 549. – P. 49-59.

  9. Данилов А. И. Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия в электрохимии поверхности / А. И. Данилов // Успехи химии. – 1995. – Т. 64, № 8. – С. 818-833.

  10. Abdel-Aziz M. H. Mass and heat transfer behavior of a rough vertical vibrating cylinder in relation to annular electrochemical and catalytic reactor design / M. H. Abdel-Aziz, I. Nirdosh, G. H. Sedahmed // Int. J. Heat Mass Transfer. – 2014. – V. 72. – P. 595-601.

  11. Mahato B. K. Effect of surface roughness on mass transfer / B. K. Mahato, L. W. Shemilt // Chem. Engin. Sci. – 1968. – V. 23, № 2. – P. 183-185.

  12. Wuttig M. On the influence of surface roughness on the determination of diffusion constants / M. Wuttig // Scripta Metallurgica. – 1969. – V. 3, № 3. – P. 175-177.

  13. Fouad M. G. Mass-transfer rates at rough surfaces / M. G. Fouad, A. A. Zatout // Electrochim. Acta. – 1969. – V. 14, № 9. – P. 909-919.

  14. Dawson D. A. Mass transfer at rough surfaces / D. A. Dawson, O. Trass // Int. J. Heat and Mass Transfer. – 1972. – V. 15, № 7. – P. 1317-1336.

  15. Poulson B. Mass transfer from rough surfaces / B. Poulson // Corrosion Sci. – 1990. – V. 30, № 6-7. – P. 743-746.

  16. Characterization of the PPO dense membrane prepared at different temperatures by ESR, atomic force microscope and gas permeation / K. C. Khulbe [et al.] // J. Membr. Sci. – 1997. – V. 126, Is. 1. – P. 115-122.

  17. Gronda A. M. Mass transfer in corrugated membranes / A. M. Gronda, S. Buechel, E. L. Cussler // J. Membr. Sci. – 2000. – V. 165, Is. 2. – P. 177-187.

  18. Yao Y. Y. Surface properties of reverse osmosis membrane / Y. Y. Yao, S. W. Guo, Y. X. Zhang // J. Appl. Polym. Sci. – 2007. – V. 105, Is. 3. – P. 1261-1266.

  19. Hirose M. Effect of skin layer surface structures on the flux behaviour of RO membranes / M. Hirose, H. Ito, Y. Kamiyama // J. Membr. Sci. – 1996. – V. 121, Is. 2. – P. 209-215.

  20. Isteiwy O. A. Self-supported palladium-copper membranes, characterization of vacuum deposited membranes and influence of air treatment on cold-rolled membranes / O. A. Isteiwy. – Ph.D. Thesis. – Colorado School of Mines (USA), 2005. – 114 p.

  21. Roa F. The effect of air exposure on palladium-copper composite membranes / F. Roa, J. D. Way // Appl. Surf. Sci. – 2005. – V. 240, Is. 1-4. – P. 85-104.

  22. Goodyer C. E. Mass transfer through membranes with surface roughness / C. E. Goodyer, A. L. Bunge // J. Membr. Sci. – 2012. – V. 409-410. – P. 127-136.

  23. Mass transfer characteristics of corrugated surfaces / N. Tzanetakis [et al.] // Appl. Therm. Eng. – 2004. – V. 24, Is. 13. – P. 1865-1875.

  24. Галлагер Р. Метод конечных элементов : основы / Р. Галлагер. – М. : Мир, 1984. – 428 с.

  25. Wagner C. Oxidation of alloys involving noble metals / C. Wagner // J. Electrochem. Soc. – 1956. – V. 103, № 10. – P. 571-580.

  26. Nolen T. R. The transient diffusion-limited current to a sinusoidal wall. Extension of the Cottrell equation / T. R. Nolen, P. S. Fedkiw // J. Electroanal. Chem. – 1989. – V. 258, № 2. – P. 265-280.

  27. Louch D. S. Transport to rough electrode surface. Part 1. Perturbation solution for two-dimensional steady state diffusion-limited transport to a surface with arbitrary small amplitude features / D. S. Louch, M. D. Pritzker // J. Electroanal. Chem. – 1991. – V. 319, № 1-2. – P. 33-53.

  28. Louch D. S. Transport to rough electrode surface. Part 1. Perturbation solution for 2-dimensional steady-state diffusion-limited transport to an arbitrary surface under mixed diffusion kinetic control / D. S. Louch, M. D. Pritzker // J. Electroanal. Chem. – 1993. – V. 346, № 1-2 – P. 211-237.

  29. Kant R. Can current transients be affected by the morphology of the nonfractal electrode? / R. Kant // Phys. Rev. Lett. – 1993. – V. 70, № 26. – P. 4094-4097.

  30. Kant R. Effect of surface roughness on diffusion-limited charge transfer / R. Kant, S. K. Rangarajan // J. Electroanal. Chem. - 1994. - V. 368, № 1-2. - P. 1-21.

  31. Kant R. Can one electrochemically measure the statistical morphology of a rough electrode? / R. Kant // J. Phys. Chem. – 1994. – V. 98, № 6. – P. 1663-1667.

  32. Kant R. Diffusion to rough interfaces : finite charge transfer rates / R. Kant, S. K. Rangarajan // J. Electroanal. Chem. – 1995. – V. 396, № 1-2. – P. 285-301.

  33. Dhillon S. Theory of double potential step chronoamperometry at rough electrodes : reversible redox reaction and ohmic effects / S. Dhillon, R. Kant // Electrochim. Acta. – 2014. – V. 129. – P. 245-258.

  34. Levie R. Fractals and rough electrodes / R. Levie // J. Electrochem. Soc. – 1990. – V. 137, № 3. – P. 154C-155C.

  35. Кутателадзе С. С. Основы функционального анализа / С. С. Кутателадзе. – Новосибирск : изд-во Ин-та математики, 2000. – 336 с.

  36. Потапов А. А. Фракталы в радиофизике и радиолокации : топология выборки / А. А. Потапов. – М. : Университетская книга, 2005. – 848 с.

  37. Berry M. V. On the Weierstrass-Mandelbrot fractal function / M. V. Berry, Z. V. Lewis / Proc. R. Soc. Lond. A. – 1980. – V. 370, № 1743. – P. 459-484.

  38. Wave scattering from fractal surfaces / N. Lin [et al.] // J. Modern Optics. – 1995. – V. 42, № 1. – P. 225-241.

  39. Mehaute A. Introduction to transfer and motion in fractal media : the geometry of kinetics / A. Mehaute, G. Crepy // Solid State Ionics. – 1983. – V. 9-10, Part 1. – P. 17-30.

  40. Mehaute A. Fractal electrodes and constant phase angle response / A. Mehaute // Solid State Ionics. – 1987. – V. 25, № 1. – P. 99-100.

  41. Nyikos L. Fractal dimension and fractional power frequency-dependent impedance of blocking electrodes / L. Nyikos, T. Pajkossy // Electrochim. Acta. – 1985. – V. 30, № 11. – P. 1533-1540.

  42. Pajkossy T. Impedance of fractal blocking electrodes / T. Pajkossy, L. Nyikos // J. Electrochem. Soc. – 1986. – V. 131, № 10. – P. 2061-2063.

  43. Pajkossy T. Diffusion to fractal surfaces. II. Verification of theory / T. Pajkossy, L. Nyikos // Electrochim. Acta. – 1989. – V. 34, № 2. – P. 171-179.

  44. Pajkossy T. Diffusion to fractal surfaces. III. Linear sweep and cyclic voltammograms / T. Pajkossy, L. Nyikos // Electrochim. Acta. – 1989. – V. 34, № 2. – P. 181-186.

  45. Никош Л. Диффузия на вращающийся дисковый электрод с фрактальной поверхностью / Л. Никош, Т. Пайкоши, С. А. Мартемьянов // Электрохимия. – 1989. – Т. 25, № 11. – С. 1543-1545.

  46. Nyikos L. Electrochemistry at fractal interfaces : the coupling of ac and dc behaviour at irregular electrodes / L. Nyikos, T. Pajkossy // Electrochim. Acta. – 1990. – V. 35, № 10. – P. 1567-1572.

  47. Mulder W. H. Tafel current at fractal electrodes. Connection with admittance spectra / W. H. Mulder [et al.] // J. Electroanal. Chem. – 1990. – V. 285, № 1-2. – P. 103-115.

  48. Borosy A. P. Diffusion to fractal surfaces. V. Quasi-random interfaces / A. P. Borosy, L. Nyikos, T. Pajkossy // Electrochim. Acta. – 1991. – V. 36, № 1. – P. 163-165.

  49. Pajkossy T. Electrochemistry of rough (fractal) electrodes / T. Pajkossy, L. Nyikos // Bulg. Chem. Commun. – 1994. – V. 27, № 3-4. – P. 509-514.

  50. Fractal Geometry of Colloidal Aggregates / D. W. Schaeffer [et al.] // Phys. Rev. Lett. – 1984. – V. 18, № 26. – P. 2371-2374.

  51. Pfeifer P. Fractal dimension as working tool for surface-roughness problems / P. Pfeifer // Appl. Surf. Sci. – 1984. – V. 18, № 1-2. – P. 146-164.

  52. Трухан С. Н. Компьютерное моделирование процессов и явлений физической химии / С. Н. Трухан, В. С. Деревщиков. – Новосибирск : ННИГУ, 2012. – 75 с.

  53. Егоров В. И. Применение ЭВМ для решения задач теплопроводности / В. И. Егоров. – СПб : СПб ГУ ИТМО, 2006. – 77 с.

  54. Вознесенский А. С. Компьютерные методы в научных исследованиях / А. С. Вознесенский. – М. : МГГУ, 2010. – [Ч. 2] – 107 с.

  55. Красников Г. Е. Моделирование физических процессов с использованием пакета Comsol Multiphysics / Г. Е. Красников, О. В. Нагорнов, Н. В. Старостин. – М. : НИЯУ МИФИ, 2012. – 184 с.