3. Сравнительно – аналитический (профильный) метод

Сущность метода заключается в изучении системы генетических горизонтов, включая почвообразующую породу, которые являются следствием почвообразовательного процесса, антропогенного воздействия или же связаны с неоднородностью (слоистостью) почвообразующей породы. Разновидностью профильного метода является сравнительно-аналитический метод.

Задача его заключается в сравнении вещественного состава и свойств твердой фазы каждого из почвенных горизонтов, с одной стороны, и материнской породы — с другой. Изменения в почвенном профиле, найденные таким сравнением, служат основой для суждения о природе процессов почвообразования и причинах вертикальной анизотропности почвы: выносе и накоплении веществ, образовании и разрушении химических соединений в отдельных генетических горизонтах. Как правило, эти изменения протекают с малыми скоростями и накапливаются в течение длительного времени (сотни и тысячи лет) [5]. 

3.4 Рентгеновские методы

Рентгеновские методы исследования играют важную роль при изучении тонкодисперсной части почвы, которая не может быть изучена с помощью обычных оптических микроскопов из-за малого размера частиц.

Рентгеновские методы позволяют диагностировать минералы, входящие в состав тонкодисперсных фракций почвы, определять их содержание, оценивать изменения в структуре кристаллической решетки, происходящие под влиянием природных процессов и антропогенного фактора [7].

Для изучения новообразований чаще всего используют рентгенофлуоресцентный метод анализа. Он основан на зависимости интенсивности рентгеновской флуоресценции от концентрации элемента в образце. При облучении образца мощным потоком излучения рентгеновской трубки возникает характеристическое флуоресцентное излучение атомов, которое пропорционально их концентрации в  образце. В почвах рентгенофлуоресцентным методом определяют содержание Na, Mg, Al, Si, P, Cl, K, Ca, Mn, Ni, Cu, Zn, 54 As, Br, Rb, Sr, Zr, Pb [6].

3.5. Метод микроскопии

- световая микроскопия

- электронная микроскопия

При световой микроскопии описывается и изучается форма, размер, структура и состав агрегатов. Уровень почвенных агрегатов включает микро-, мезо — и макроагрегаты, новообразования растворимых солей, извести, гипса, железа и марганца. 

Электронная микроскопия позволяет не только идентифицировать минералы, но и получить представление о протекающих в почвах процессах. С помощью этого метода можно эффективно вести микроморфологические исследования. Можно изучать строение глинистого вещества почв, характер пористости почв, изучать процессы разрушения и формирования различных новообразований [3].

6. . Метод термического анализа

Термический анализ представляет собой метод исследования физико-химических и химических (фазовых) превращений, происходящих в веществе в условиях программированного изменения температуры -нагревании или охлаждении. В почвенных исследованиях обычно изучаются превращения, происходящее с веществом при заданном повышении температуры. Современные приборы-дериватографы позволяют одновременно осуществлять дифференциально-термогравиметрический анализы. Кроме того, многие дериватографы снабжены приспособлениями для регистрации изменения объема образца при нагревании и для улавливания последующего анализа газообразных продуктов, выделяющихся из образца при нагревании [7]. 

3.7. ИК-спектроскопия

ИК-спектроскопия поглощения в ближней и средней областях спектра применяется при изучении органических и  минеральных компонентов почвы, выявлении в них важнейших атомных групп и типов связей, определении структуры молекул. Кроме того, ИК-спектроскопия позволяет получать и исследовать не только спектры поглощения, но и спектры отражения в инфракрасной области. Принцип метода отражательной ИК-спектроскопии основан на существовании зависимости между количеством отдельных компонентов в сложных по составу пробах и интенсивностью диффузного отражения света в ближней ИК-области [6].