- •Проведение патентных исследований
- •1. Цель и задачи работы
- •2. Теоретическая часть
- •2.1. Общие положения
- •2.2. Содержание патентных исследований
- •2.3. Порядок проведения патентных исследований
- •2.4. Задание на проведение патентных исследований
- •2.5. Регламент поиска
- •2.6. Поиск и отбор информации
- •2.7. Оформление отчета о поиске
- •2.8. Систематизация и анализ отобранной документации
- •2.8.1. Патентно-лицензионная ситуация
- •2.8.2. Технический уровень и тенденции развития объекта техники
- •Определение номенклатуры показателей, необходимых для оценки
- •Формирование группы аналогов и установление значений их показателей
- •Выделение базовых образцов из группы аналогов
- •Сопоставление оцениваемого образца с базовыми
- •Тенденции развития объекта техники
- •2.8.3. Условия использования объектов промышленной (интеллектуальной) собственности с учетом их правовой охраны
- •2.8.4. Исследование патентной чистоты объекта техники
- •2.8.5. Анализ деятельности хозяйствующего субъекта и перспектив ее развития
- •2.9. Отчет о патентных исследованиях
- •2.10. Методика реферирования документов
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Содержание
Выделение базовых образцов из группы аналогов
В качестве базовых образцов выделяются лучшие аналоги из группы аналогов на основе метода попарного сопоставления последовательно всех аналогов по значениям оценочных показателей с учетом точности их измерения.
Базовые образцы выделяются на основе метода попарного сопоставления аналогов с учетом следующего:
аналог не может быть признан базовым образцом и исключается из последующих сопоставлений, если он уступает другому аналогу по совокупности оценочных показателей, т.е. уступает другому аналогу хотя бы по одному показателю, не превосходя его ни по каким из остальных;
оба аналога остаются для дальнейшего сопоставления с другими аналогами, если по одним показателям оказывается лучше первый аналог, а по другим показателям – второй, при этом значения некоторых показателей у аналогов могут совпадать.
В результате попарного сопоставления аналогов остаются только те аналоги, каждый из которых не уступает ни одному из остальных по совокупности оценочных показателей. Оставшиеся аналоги и принимаются в качестве базовых образцов и заносятся в форму Д.1.1 (рис. 8). После отбора базовых образцов проводится сопоставление оцениваемого образца с базовыми.
Сопоставление оцениваемого образца с базовыми
Сопоставление оцениваемого образца с базовыми можно провести, используя дифференциальный метод, путем расчета относительных показателей сопоставимости qi, вычисляемым по формуле (1):
|
(1) |
где Pi – значение показателя оцениваемого образца; Pib – значение показателя базового образца.
|
Рис. 8. Формы для определения технического уровня и тенденций развития объекта техники |
Если значения всех показателей qi≥1, то технический уровень объекта соответствует уровню базы сравнения или превышает дан ный уровень. При этом если базовый образец отражает высшие мировые достижения, то можно сделать вывод о соответствии или превышении мирового уровня.
Если значения всех показателей qi<1, то технический уровень объекта ниже уровня базы сравнения. При этом если базовый образец отражает высшие мировые достижения, то можно сделать вывод о том, что объект оценки уступает мировому уровню (ниже мирового уровня).
Однако часто возникают ситуации, когда исследуемый объект оказывается лучше базы сравнения по одним показателям и хуже – по другим, вследствие чего дифференциальный метод оценки не позволяет сделать однозначный вывод о техническом уровне объекта. В этом случае используется метод, основанный на расчете обобщенного показателя технического уровня КТУ, определяемого по формуле (2):
|
(2) |
где Кi – коэффициент весомости i-го оценочного показателя; qi – относительный показатель сопоставимости i-го оценочного показателя.
Если KТУ≥1, то технический уровень оцениваемой продукции соответствует мировому уровню или превышает его. Если KТУ<1, то технический уровень оцениваемой продукции уступает мировому уровню.
Для определения Кi необходимо выполнить следующее:
построить кумулятивные динамические ряды по каждому из показателей;
построить графики изобретательской активности по каждому из показателей на основе кумулятивных динамических рядов;
определить Кi на основе построенных графиков: 1) выделить участки графиков, соответствующие исследуемому промежутку времени (этот промежуток принимается равным среднему периоду обновления продукции, как правило, 3-5 лет); 2) к средним точкам этих участков провести касательные и определить тангенс угла наклона каждой касательной; 3) рассчитать Кi: значение Кi принимается пропорциональным тангенсу угла наклона касательной; с учетом того, что ΣКi=1, коэффициент весомости i-го показателя определяется по формуле (3):
|
(3) |
где tgαi – тангенс угла наклона касательной к графику изобретательской активности по i-му показателю; Σtgαi – сумма тангенсов углов наклона касательных к графикам изобретательской активности по всем показателям.
На основе анализа графиков изобретательской активности можно составить так называемый «профиль потребностей», который представляет собой перечень показателей продукции с указанием соответствующих им коэффициентов весомости. Анализ «профиля потребностей» позволяет сделать вывод о том, на улучшение каких показателей следует обратить внимание при разработке новой продукции с целью обеспечения ее конкурентоспособности на рынке. Пример построения «профиля потребностей» представлен на рис. 9.
Рис. 9. Построение «профиля потребностей»
