- •Часть 1. Патентный поиск по базам данных Российских патентных документов 13
- •Часть 2. Просмотр патентов и изобретений 15
- •Часть 3. Патентный поиск по базам данных иностранных патентных документов 16
- •Часть 1. Патентный поиск по базам данных Российских патентных документов 1
- •Часть 2. Просмотр патентов и изобретений 4
- •Часть 3. Патентный поиск по базам данных иностранных патентных документов 5
- •Часть 1. Патентный поиск по базам данных Российских патентных документов
- •1.1. Поиск патентов и изобретений в банке данных Федерального института промышленной собственности России с 1994 года по настоящее время
- •1.2. Поиск Российских патентных документов 1924-1993 г.Г.
- •Часть 2. Просмотр патентов и изобретений
- •Часть 3. Патентный поиск по базам данных иностранных патентных документов
- •Методические рекомендации по проведению патентных исследований при выполнении нир
- •1. Работа с базами данных патентной информации
- •2. Аналитическая обработка патентной информации
- •3. О подходах к экспертизе отчетов о патентных исследованиях
- •1. Общие положения.
- •1.1. Разработка задания на проведение патентных исследований
- •2. Разработка регламента патентного поиска
- •2.1. Определение объекта (предмета) патентного поиска
- •2.2. Определение стран патентного поиска информации
- •2.3. Определение глубины патентного поиска
- •2.4. Определение классификационных рубрик
- •2.4.1. Международная патентная классификация
- •2.4.2. Международная классификация промышленных образцов
- •2.4.3. Международная классификация товаров и услуг
- •2.5. Выбор источников информации
- •3. Поиск и отбор информационных материалов
- •3.1. Виды патентного поиска
- •3.1.1. Тематический (предметный) поиск
- •3.1.2. Фирменный (именной) поиск
- •3.1.3. Нумерационный поиск
- •3.1.4. Поиск с использованием библиографических ссылок
- •3.1.5. Поиск патентов-аналогов
- •3.1.6. Поиск для установления правового статуса патентов
- •3.2. Использование полных описаний к патентам для поиска информации
- •3.3. Использование электронных патентных баз данных для поиска информации
- •3.3.1. Электронная патентная база Федеральной службы по интеллектуальной собственности, патентам и товарным знакам Российской Федерации (Роспатента)
- •3.3.2. Зарубежные электронные базы данных
- •3.4. Отбор информации
- •3.5. Оформление результатов поиска
- •4. Систематизация и анализ патентной документации
- •4.1. Патентно-лицензионная ситуация
- •4.1.1. Определение динамики патентования
- •4.1.2. Определение структуры взаимного патентования
- •4.1.3. Патенты-аналоги
- •4.2. Технический уровень
- •4.3. Анализ научно-технической деятельности зарубежных фирм
- •4.4. Тенденции развития техники
- •4.4.1. Общие вопросы
- •4.4.2. Определение тенденций развития техники по данным об изобретательской активности промышленно развитых стран
- •4.4.3. Оформление результатов исследований тенденций
- •4.5. Новизна и правовая защита
- •4.5.1. Анализ применимости в объекте известных объектов промышленной (интеллектуальной) собственности
- •4.5.2. Оценка патентоспособности вновь созданных технических и художественно-конструкторских решений, определение целесообразности их правовой охраны
- •4.5.3. Перечень используемых объектов промышленной собственности в объекте исследования
- •4.6. Патентная чистота объекта
- •4.7. Анализ научной, производственной и коммерческой деятельности хозяйствующего субъекта и перспектив ее развития
- •5. Построение, изложение и оформление отчета о патентных исследованиях
4.1. Патентно-лицензионная ситуация
Патентно-лицензионная ситуация в отношении исследуемого объекта техники характеризуется совокупностью сведений:
о патентно-правовой охране выявленных аналогичных технических и художественно-конструкторских решений, а также товарных знаков;
о наличии заключенных лицензионных договоров, договоров отчуждения (уступки) исключительных прав.
Основой определения патентно-лицензионной ситуации является статистическая обработка патентной документации, относящейся к объекту патентных исследований.
Порядок работы при оценке патентно-лицензионной ситуации включает следующие этапы:
определение динамики патентования и структуры взаимного патентования;
выявление фирм - патентообладателей с указанием всех имеющихся охранных документов, как в стране принадлежности фирмы, так и в странах патентования (патенты-аналоги);
анализ лицензионной деятельности выявленных фирм-патентообладателей.
4.1.1. Определение динамики патентования
Под динамикой патентования понимается изменение активности изобретательской деятельности в исследуемой области техники за определенный период времени.
При исследовании динамики патентования определяют:
годы, на которые приходится активная изобретательская деятельность в каждой из стран исследования;
количество патентов на изобретения, полезные модели и промышленные образцы, созданные в каждом году в исследуемой области на момент выполнения патентных исследований.
Для определения динамики патентования распределенный по странам массив охранных документов систематизируют по национальным и иностранным заявителям и по датам приоритета и подсчитывают общее число по каждой позиции.
Результаты анализа заносят в таблицу В.6.4 "Количество опубликованных охранных документов по годам (изобретательская активность)" (Приложение 11), которая заполняется следующим образом.
В графе 1 таблицы В.6.4 Приложения 11 указывается наименование объекта техники или его составных частей, которые были выбраны в качестве предмета поиска и по которым необходимо проследить динамику патентования по годам.
В графе 2 указывается страна-заявитель, т. е. страна, по которой необходимо проследить активность изобретательской деятельности по годам (динамику патентования).
Начиная с графы 3, указывается количество патентов, опубликованных заявок по годам подачи заявки, при этом патенты-аналоги исключаются. Количество последующих граф соответствует количеству лет, по которым оценивается активность изобретательской деятельности.
По данным таблицы В.6.4 может быть построен график или диаграмма динамики патентования. На оси абсцисс откладываются годы, на оси ординат - количество изобретений, полезных моделей и промышленных образцов, созданных в каждом году. Графики динамики патентования имеют сложный характер - это экспериментальные кривые. По ним можно установить годы наибольшей активности изобретательской деятельности, относительный количественный вклад каждого исследуемого объекта, его части или способа в разрабатываемый объект техники или технологию, а также выявить направления в технике и технологии, имеющие тенденции к росту, и сделать прогноз развития новых направлений.