- •1. Расчет коэффициентов ускорения для основных механизмов отказов.
- •1.1 Электромиграция.
- •1.2 Коррозия.
- •1.3 Зависящий от времени пробой диэлектрика (tddb)
- •2. Моделирование отказов в мэмс переключателях, обусловленных накоплением заряда
- •2.1. Моделирование отказов, обусловленных инжекций и захватом носителей заряда в ловушечный центры в диэлектрике.
- •Туннельная инжекция.
- •Моделирование деградации порогового напряжения мдп–транзистора вследствие захвата горячих носителей.
- •Порядок работы с программой
Лабораторно-практическое занятие № 1-2 — 8 часов
Введение.
Обоснование применимости ускоренных испытаний для оценки надежности 3D устройств и МЭМС.
1. Расчет коэффициентов ускорения для различных механизмов отказов
1.1 Электромиграция
1.2 Коррозия
1.3 Зависимый от времени пробой
2. Моделирование отказов в емкостных МЭМС переключателях, обусловленных захватом заряда в диэлектрике.
2.1 Теоретическая часть.
Виды и механизмы накопления заряда в диэлектрике.
2.2 Моделирование отказов, обусловленных инжекций и захватом носителей заряда в ловушечные центры в диэлектрике.
Введение.
Обоснование применимости ускоренных испытаний для оценки надежности 3D устройств и МЭМС.
Проблемы расчета надежности и проектирования системы ускоренных испытаний МЭМС.
Подобно технологии ИС 30 лет назад, технология МЭМС находится в юном возрасте. Многие МЭМС продукты являются еще прототипами. Как МЭМС приборы будут отказывать еще не очень хорошо понято. С позиции микроскопического уровня предположения относительно макроскопического уровня не всегда действительны. Факторы, которые могут быть проигнорированы на макроуровня становятся важными на микроуровне. Без достаточного внимания этим факторам, надежность и качество МЭМС приборов может быть так снижены, что они становятся нежелательными или даже разрушающими моментами после изготовления. Надежность является препятствующим фактором, в коммерциализации и использовании МЭМС приборов в критических областях применения.
Надежность МЕМС не просто комбинация электрической надежности, надежности материалов, и механической надежности. Изготовление многих приборов на одной подложке обусловливает большинство типов отказов. Комплексное взаимодействие сигналов, границ и подложки вводит новые типы отказов. Для входов сенсоров кристалл должен быть выдержан в определенной окружении, таким как тепло, влажность, вибрации и т.д. Входные и выходные напряжения могут не быть в пределах 5в, характерных для стандартных ИС. Некоторые актюаторы требуют сотни вольт для того чтобы работать. И в микроканальных приборах, в которых химические жидкости могут течь через кристалл, существует более высокий потенциал для появления коррозии. Процесс изготовления МЭМС оказывает непосредственное влияние на надежность. Многие отказы МЭМС вводятся в процессе изготовления и многие типы отказов в процессе работы связаны с процессом производства. Являясь миниатюрными приборами сами по себе, МЭМС приборы обычно производят, используя те же процессы, что и в технологии ИС: используют кремниевую пластину как материал и технологию травления для изготовления компонент. Оба МЭМС и ИС процессы характеризуются такими же характеристиками как массовость, низкая стоимость, продукция производится как единый модуль без разделения на части. Но МЭМС процесс является более сложным, так как включает механическую часть и электромеханическую части, интегрированные с электронной части в одном кристалле. Они имеют более сложную форму, имеют движущиеся части и точки опоры. Нуждаются в большей прочности материала, и могут даже нуждаться в смазке.
Ход технологического процесса показан на рис 1. Различие между МЭМС и ИС отражены курсивом. На этапе проектирования необходимы комплексные САЕ средства, способные моделировать 3D объекты, которые используются в МЭМС. Проблемой является одновременное моделирование приборов во многих направлениях, включая электронные, механические, химические взаимодействия и способные анализировать перекрестные эффекты.
1. Расчет коэффициентов ускорения для основных механизмов отказов.
Для 3D устройств, создаваемых на основе TSV технологий и МЭМС характерны механизмы отказов и виды отказов, наблюдаемые в микроэлектронных устройствах.
Электромиграция;
Коррозия;
Зависимый от времени пробой (TDDB);
Инжекция горячих носителей;
Инверсия поверхности;
Миграция механических напряжений;
Разрушения, возникающие при температурном циклировании /термоударе.
Ошибки сбоя.
Рассмотрим более подробно модели отказов и оценим возможные коэффициенты ускорения.
1.1 Электромиграция.
Общая модель, описывающая время до отказа (TF) предложена Блэком.
TF = A0 (J-Jo)-N exp(Ea/kT)
В этой модели^
J должно быть больше Jcrit, чтобы вызывать отказ,
Критерий отказа должен зависеть от продукта, вероятно определяемый как максимально допустимое увеличение в сопротивлении для наихудшего случая.
Jcrit = критическая пороговая плотность тока Jcrit обратно пропорциональна длине Блеха для рассчитываемых линий, т.е Jcrit t = 6000 А/см2 – для Al сплавов
Когда длина тестовой шины равна 60 мкм, тогда Jcrit сравнима с предельно допустимой плотностью тока 1 МА/см2
В системе металлических шин с относительно большой высотой (ширина линии 1 мкм) N=2 соответствует инкубационному периоду; для глубоко субмикронных технологий необходимо использовать коэффициент N=1.
Ea= 0.5-0.6 эВ для Al и Al с небольшими добавками кремния.
Ea = 0.7-0.9 эВ для чистого Al и сплавов алюминий /медь.
Для однополярной формы тока ,J есть средняя плотность тока
Для биполярной формы тока
Электромиграция. Численный пример
Задание: Рассчитать коэффициент ускорения в условиях внешней среды относительно офисных условий.
Предполагаем:
Очень длинная AL-Cu металлическая шина с крупными размерами зерен относительно ширины шины (бамбуковая структура)
Внешняя среда =800 С — температура чипа вне устройства
Оффис = 50 0 С температура вне рабочего места.
Плотность тока в мобильной и офисной среде 2.5 и 2.0 105 А/см2
Отношения средних времен наработки до отказа будет
AF= отношение TF величин, офис/мобил =
= ( Jофис,/jмоб)N exp [(Ea/k)(1/Tофис–1/Tмоб);
AF= (2.0/2.5)–2 exp [(0.8/8.62 10–5 эВ/К) (1/ {273 K + 50C} –1/{273 K+80 C})]
AF = 1.5 10 = 15;
Итак, переход от офисного к внешнему окружению с более высокой температурой и плотностью тока дает коэффициент ускорения 15. Вклад плотности тока 1.5 и фактор температуры 10. Общее ускорение 15.
1.2 Коррозия.
Модели развития коррозионных процессов.
Чтобы экстраполировать результаты ускоренных испытаний на коррозию к результатам стандартных условий существует четыре модели, каждая из которых является моделью Эйринга. Модели используют произведении функции RH на функцию приложенного напряжения и температурозависимый коэффициент Аррениуса. Выбор модели является преференцией разработчика и рассматривается достаточно широкий диапазон температур, напряжений и относительной влажности, чтобы отличить одну модель от другой на основе статистических данных. Однако недавние работы подтверждают, что экспоненциальная модель является наиболее эффективной. Существует точка зрения, что в этой модели должен присутствовать коэффициент зависящий от напряжения, однако этот вывод не подтверждается результатами испытаний.
Обратная экспоненциальная модель
TF=C0 exp(b/RH) f(V) exp(Ea/kT)
где
С0 – произвольный коэффициент шкалирования;
B= 300
Ea=0,3 eV
f (V) – неизвестная функция напряжения.
Степенная модель Пека
Первоначально разработана для коррозии алюминия, но приложима к другим механизмам отказов с различными значениями N и Ea
TF= A0 RH-N f(V) exp(Ea/kT)
где
A0 – произвольный коэффициент масштабирования;
N= -2,7.
Ea=0,7-0,8 eV (приблизительное значение для коррозии алюминия в присутствии хлора).
f (V) – неизвестная функция напряжения.
Экспоненциальная модель
TF= B0 exp[(-a)RH)] f(V) exp[Ea/kT]
где
B0 – произвольный коэффициент шкалирования;
a= 0,1-0,15 коэффициент относительной влажности.
Ea=0,7-0,8 eV.
f (V) – неизвестная функция напряжения.
Недавно проведенное сравнение четырех моделей показало преимущество экспоненциальной модели с коэффициентом a= 0,12- 0,15.
RH2 –модель (модель Лаусона)
TF=C0 RH2 f(V) exp(Ea/kT)
где
С0 – произвольный коэффициент масштабирования (типичное значение 4,4 х 10-4).
RH-относительная влажность, % (100% - насыщение)
Ea=0, 64 eV.
f (V) – неизвестная функция напряжения.
Пример расчета коррозии.
Задание:
Рассчитать коэффициент ускорения для коррозии алюминия на контактной площадке, обусловленной присутствием хлора, относительно офисной атмосферы, определяемой как HAST условия.
Офис – температура кристалла 500С и относительная влажность RH 10% внутри корпуса (та же самая абсолютная влажность в комнате при 200С/ 50%RH) и приложенном напряжении 5 V.
HAST- условия 1300С и 85% относительной влажности внутри испытательной камеры и приложенном напряжении 6V.
Ea=0,75 eV.
Показатель степени RH = 2,7, который был экспериментально усановлен для коррозии алюминия Пеком и др.
Скорость коррозии линейно зависит от приложенного напряжения.
Таким образом, отношения TF будет
AF отношение TF величин, office/HAST =
(RHoffice/RHHAST)-2,7x(Voffice/VHAST)x exp[Ea/k) x (1/Toffice-1/THAST)]
AF = (10/85)-2,7x (6/5) exp[(0,75 eV/8,62 x 10-5eV/0K) x (1/{2730K+500C} - 1/{273 0K+130 0C})]
AF, office/HAST = 323 x 1,2 x 210= 8,1x104 = 81,400.
Это означает, что переход от HAST окружения к офисному будет увеличивать TF в 81000 раз. В этой величине коэффициент 300 обусловлен RH, коэффициент 1,2 обусловлен приложенным напряжением, коэффициент 250 обусловлен температурой.
