- •Физические основы полупроводниковой электроники.
- •Зонная теория твёрдого тела.
- •Распределение носителей зарядов по энергетическим уровням в полупроводниках.
- •Уравнение электронейтральности.
- •Неравновесные процессы в полупроводниках.
- •Непрямые процессы в объёме и на поверхности полупроводника в условиях динамической неравновесности.
- •Квазиуровни и квазипотенциалы Ферми.
- •Теория р-n перехода
- •2.1)Структура р-n перехода в состоянии термодинамического равновесия.
- •2.2)Работа р-n перехода при внешнем воздействии.
- •2.3)Методы создания электронно-дырочных переходов.
- •2.4)Вольт-амперная характеристика р-n перехода.
- •Полупроводниковые диоды.
- •3.1) Выпрямительные диоды, стабилитроны, стабисторы, диоды Шоттки.
- •Параметры
- •[Править]Свойства диодов Шоттки
- •3.2) Переходные процессы в диодах с р-n переходом.
- •Биполярный транзистор.
- •4.1) Структура и принцип работы.
- •4.2) Статистическая модель биполярного транзистора. Распределение концентрации носителей в области базы, эмиттера, коллектора. Математическая модель Эберса-Молла.
- •4.3) Параметры биполярного транзистора.
- •4.4) Статические характеристики биполярных транзисторов.
- •4.6) Работа транзистора на нагрузку.
- •4.7) Квазистатический режим работы транзистора.
- •4.8) Типы биполярных транзисторов.
- •5.2) Основные параметры полевых транзисторов.
- •6) Переключающие приборы .Тиристоры.
- •6.1) Основные особенности конструкции и классификации тиристоров.
- •[Править]Вольтамперная характеристика тиристора
- •6.2) Тринистор –управляемый динистор. Вах тринистора , зависимость параметров от тока управления . Симисторы ,конструкция и вах.
- •7) Компоненты оптоэлектроники .
- •7.1) Механизм генерации излучения в полупроводниках .
2.3)Методы создания электронно-дырочных переходов.
Электронно-дырочный переход не получают простым соприкосновением двух разнотипных полупроводниковых брусков, так как в месте их соприкосновения не исключено наличие жировых пятен, пыли, чрезвычайно трудноудаляемой воздушной прослойки и прочего. А вместо этого электронно-дырочные переходы создают по специальным технологиям: диффузии, сплавления, эпитаксии, ионного легирования и ионной имплантации и многим другим.Суть диффузии состоит в проникновении атомов паров примесей ввиду теплового движения на поверхность и внутрь кристаллов полупроводников, нагретых примерно до 950 °C … 1200 °C, причём концентрация примесей наиболее высока на поверхности, а наиболее низка в глубине кристаллов.Сплавление заключено в наложении таблетки легирующего вещества на кристалл полупроводника и разогревании их до такой температуры, при которой наступит взаимное сплавление легирующего материала и полупроводника. Образованный таким образом электронно-дырочный переход называют резким, т.е. таким, при котором участок перехода концентраций примесей соизмерим с диффузионной длиной.Эпитаксия – это выращивание плёнки одного полупроводника на кристалле другого полупроводника. Кристалл полупроводника, на который осуществляют наращивание, называют подложкой. Подложку выполняют из полупроводника с кристаллической решёткой, похожей на кристаллическую решётку наращиваемого полупроводника. Если выращиваемый полупроводник и полупроводник подложки – это химически одно и то же вещество, то процесс называют гомоэпитаксией, а если они различны – то гетероэпитаксией.Процесс ионного легирования заключён во внедрении в кристалл полупроводника ионов примеси, которые были в вакууме разогнаны до определённой скорости и направлены на поверхность полупроводника.Помимо рассмотренного электронно-дырочного перехода также выполняют электронно-электронные, дырочно-дырочные переходы, переходы металл-полупроводник и другие.
Технология изготовления полупроводниковых диодов.
Одним из распространенных способов получения электронно-дырочных переходов является вплавление. Очень широко используется вплавление индия, являющегося акцептором для германия, в германий, имеющий проводимостьn-типа, или алюминия в кристалл кремния n-типа, либо вплавление фосфора или сурьмы в кремний p-типа.
Электронно-дырочный переход можно также получить, осуществляя диффузию примесей в исходную пластину полупроводника p-типа или n-типа (диффузионный метод). Диффузия примеси осуществляется в газообразной, жидкой или твердой фазах. Уменьшение емкости электронно-дырочного перехода осуществляют химическим путем — стравливая часть кристалла с одной его стороны и получается так называемая мезаструктура. Такой переход, кроме того, имеет значительно лучшее качество внешних границ, чем полученный методом вплавления, а следовательно, лучшие электрические характеристики и параметры.
Малую емкость p-n-перехода имеют также и точечные диоды. Для изготовления такого перехода электролитически заостренная металлическая игла приваривается к кристаллу полупроводника импульсом тока до 1 А (метод формовки). Приконтактная область с противоположным типом электропроводности. Контактную иглу иногда покрывают для улучшения качества перехода полупроводниковым материалом индием. Однако это приводит к некоторому увеличению его площади.
Современным методом создания полупроводниковых приборов из кремния является планарная технология, основу которой составляет метод фотолитографии. Она включает следующую последовательность операций. На исходной полупроводниковой пластине кремния n-типа получают пленку окисла кремния, которую затем покрывают слоем светочувствительного вещества — фоторезиста. После этого поверхность через специальную маску (фотошаблон) засвечивается ультрафиолетовым светом. Затем слой фоторезиста проявляется с помощью специальных проявителей. В зависимости от типа фоторезиста его растворимость может либо возрастать (позитивные фоторезисты), либо падать (негативные фоторезисты). Далее осуществляется травление пленки окисла. Через образовавшееся «окно» осуществляют локальную диффузию примеси в исходную пластину кремния и получают p-n-переход.
Для изготовления диодов используют германий, кремний, арсенид галлия, фосфид индия, селен и другие проводниковые материалы.
