
- •Рецензент : к.Т.Н., доцент д.М. Таранов
- •I элементная база
- •1 Общие сведения
- •2 Требования по технике безопасности
- •3 Требования к оформлению отчета по лабораторной работе
- •4 Лабораторная работа № 1 исследование фотоэлектрических приборов
- •Цель работы
- •Краткие теоретические сведения
- •4.2.1 Общие сведения
- •4.2.2 Фоторезистор
- •4.2.3 Фотодиод
- •4.3 Программа работы
- •4.4 Описание лабораторного стенда
- •4.5 Методика выполнения работы
- •4.6 Содержание отчета
- •4.7 Контрольные вопросы
- •Исследование биполярного транзистора
- •5.2.2 Схемы включения транзисторов
- •5.2.3 Схема с общим эмиттером
- •5.2.4 Схема с общим коллектором
- •5.2.5 Режим работы транзистора
- •5.2.6 Представление транзистора четырехполюсником
- •5.2.7 Схемы замещения транзистора
- •5.2.8 Классификация транзисторов
- •5.2.9 Экспериментальная проверка исправности биполярного транзистора
- •5.3 Методика выполнения работы
- •5.4 Описание лабораторного стенда
- •5.5 Методика выполнения работы
- •5.6 Содержание отчета
- •5.7 Контрольные вопросы
- •6 Лабораторная работа № 3 исследование характеристик полевых транзисторов
- •Цель работы
- •6.2 Теоретические сведения
- •6.3 Программа работы
- •6.4 Методика выполнения работы
- •6.5 Приборы и оборудование
- •6.6 Содержание отчета
- •6.7 Контрольные вопросы
- •7 Лабораторная работа № 4 исследование характеристик и
- •Тринистор
- •7.2.3 Оптотиристор
- •Симистор
- •Программа работы
- •Методика выполнения работы и оборудование
- •7.5 Содержание отчета
- •7.6 Контрольные вопросы
- •II функциональные узлы для обработки аналоговых сигналов
- •8 Лабораторная работа № 5
- •8.2.2 Параметры и характеристики усилителей
- •8.2.3 Обратные связи в усилителе
- •8.2.4 Усилительный каскад с общим эмиттером
- •Термостабилизация режима работы усилительного каскада.
- •Усилительный каскад с общим коллектором
- •8.3 Программа работы
- •8.4 Описание лабораторного стенда
- •8.5 Методика выполнения работы
- •8.6 Содержание отчета
- •8.7 Контрольные вопросы
- •9 Лабораторная работа № 6
- •9.2.2 Симметричный дифференциальный усилитель
- •9.2.3 Принципиальная схема
- •9.2.4 Характеристики и параметры оу
- •9.2.5 Схемы усилителей на оу
- •9.2.5.1 Инвертирующий усилитель на оу
- •9.2.5.2 Неинвертирующий усилитель на оу
- •9.2.5.3 Дифференциальный усилитель на оу
- •9.2.5.4 Повторитель напряжения на оу
- •9.2.6 Компенсация сдвига (установка нуля) усилителя
- •9.3 Программа работы
- •9.4 Методика выполнения работы
- •9.4.1 Общие требования
- •9.4.2 Исследование инвертирующего усилителя
- •9.4.3 Исследование неинвертирующего усилителя
- •9.4.4 Исследование усилителя с дифференциальным входом
- •9.4.5 Измерение коэффициента усиления оу
- •9.4.6 Определение напряжения смещения
- •9.5 Содержание отчета
- •9.6. Контрольные вопросы
- •10 Лабораторная работа № 7
- •10.3 Программа работы
- •10.4 Описание лабораторной установки и методика выполнения работы
- •10.4.1 Описание лабораторной работы
- •10.4.2 Методика выполнения
- •10.5 Содержание отчета
- •10.6 Контрольные вопросы
- •11 Лабораторная работа № 8
- •11.2.2 Компаратор на оу
- •11.2.3 Триггер Шмитта на оу
- •11.2.4 Формирователь импульсов и преобразователь напряжение - длительность импульса на оу
- •11.3 Программа работы
- •11.4 Методика выполнения работы
- •11.. Содержание отчета
- •11.6 Контрольные вопросы
- •Литература
4.3 Программа работы
4.3.1 Изучить принцип работы фоторезистора и фотодиода
4.3.2 Снять семейство ВАХ фоторезистора.
4.3.3 Снять семейство статических ВАХ фотодиода в режиме преобразователя.
4.3.4 Снять семейство нагрузочных и ВАХ характеристик фотодиода в генераторном режиме.
4.3.5 Используя экспериментальные данные, рассчитать параметры и построить характеристики фоторезистора и фотодиода.
4.4 Описание лабораторного стенда
Исследуемые приборы расположены в отдельных секциях, прикрываемых от воздействия внешнего светового потока общей шторкой. Источники светового потока (две лампы накаливания) находятся в каждой секции. При включении одной лампы световой поток равен Ф1, при включении двух ламп - Ф2. Включение ламп осуществляется с помощью переключателя на три положения. При выполнении измерений необходимо следить, чтобы лампы в соседних секциях были выключены, а общая шторка закрыта. Упрощённые схемы для снятия характеристик приведены на рисунке 4.6.
Сборка указанной схемы осуществляется с помощью переключателей, расположенных на лицевой панели. Изменение напряжения осуществляется с помощью потенциометров, ручки которых также расположены на лицевой панели.
а б в
а - для фоторезистора; б - для фотодиода в режиме преобразователя;
в - для фотодиода в режиме генератора
Рисунок 4.6 – Упрощенные схемы для снятия характеристик приборов
4.5 Методика выполнения работы
4.5.1 Собрать схему для снятия ВАХ фоторезистора (рисунок 4.6а). Задать значение ф1 = 0,015 лм и снять ВАХ. Задать значение Ф2 = 0,03 лм и снять ВАХ.
4.5.2 Собрать схему для снятия ВАХ фотодиода в режиме фотопреобразователя (рисунок 4.6б). Снять статистические ВАХ при двух значениях светового потока (Ф1 = 0,005 лм; Ф2 = 0,01 лм).
4.5.3 Собрать схему для снятия характеристик фотодиода в генераторном режиме. Снять семейства нагрузочных характеристик Iн = f(Rн) и ВАХ Iн = f(Uн) для двух значений светового потока (Ф1 = 0,005 лм, Ф2 = 0,01лм). Определить значение напряжения холостого хода.
4.5.4 По данным пункта 4.5.1 построить семейство ВАХ фоторезистора. По характеристикам определить статическую и дифференциальную чувствительность. Определить Rсв. Значение U, Rт, Ф задаются преподавателем.
4.5.5 По данным пункта 4.5.2 построить семейство статических характеристик фотодиода в режиме преобразователя. Определить статическую (Rи= 0) и динамическую (Rн 0) чувствительность фотодиода. Для определения динамической чувствительности построить нагрузочную прямую. Значение Un, Rн задаются преподавателем.
4.5.6 По данным пункта 4.5.3 построить семейства нагрузочных и ВАХ. Построить зависимости Рн = f(Rн) и определить оптимальное нагрузочное сопротивление для каждого значения Ф.
4.6 Содержание отчета
В отчете должен быть представлен следующий материал:
краткая теория работы исследуемых элементов;
таблицы экспериментальных данных;
упрощенные схемы для снятия характеристик;
семейства экспериментально снятых и расчетных характеристик;
расчет параметров.