
- •Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение Высшего профессионального образования
- •Лабораторный практикум по курсу «Молекулярно-лучевая эпитаксия в технологии наноструктур» для студентов специальности 210601.65 Нанотехнология в электронике
- •Введение
- •1.1. Задачи лабораторной работы
- •1.2. Теоретическая часть
- •1.2.1. Фотоэлектрические процессы в инжекционном полупроводниковом лазере
- •1.2.2. Основные характеристики и параметры лазерных диодов
- •1.3. Объект исследования
- •1.6. Внешний вид волоконно-оптического лазерного модуля
- •1.4. Описание лабораторной установки и методов измерения
- •1.5. Порядок выполнения работы
- •Содержание отчета
- •1.7. Контрольные вопросы
- •2.1. Задачи лабораторной работы
- •2.2. Теоретическая часть
- •2.2.1. Фотоэлектрические процессы в p-I-n фотодиоде
- •2.2.2. Основные параметры и характеристики p-I-n фотодиода
- •2.3. Объект исследования
- •2.4. Описание лабораторной установки и методов измерения
- •2.5. Порядок выполнения работы
- •2.6. Содержание отчета
- •2.7. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №3 измерение частотной характеристики
- •3.1. Задачи лабораторной работы
- •3.2. Теоретическая часть
- •3.3. Объект исследования
- •3.4. Описание лабораторной установки и методов измерения
- •3.5. Порядок выполнения работы
- •3.6. Содержание отчета
- •3.7. Контрольные вопросы
- •4.1. Задачи лабораторной работы
- •4.2. Теоретическая часть
- •4.2.1. Лавинный процесс в р-п переходе
- •4.2.2. Характеристики лфд
- •4.3. Объект исследования
- •4.4. Описание измерительной установки и методов измерения
- •4.5. Порядок выполнения работы
- •4.6. Содержание отчета
- •4.7. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №5 получение методом молекулярно-лучевой эпитаксии светодиодов и измерение яркостно-токовой характеристики
- •5.1. Задачи лабораторной работы
- •5.2. Теоретическая часть
- •5.2.1. Физические процессы в р-п переходе светодиода
- •5.2.2. Основные параметры и характеристики фотоприемников
- •5.3. Объект исследования
- •5.4. Описание измерительной установки и методов измерения
- •5.5. Порядок выполнения работы
- •5.6. Содержание отчета
- •5.7. Контрольные вопросы
- •Оценка погрешностей результатов измерений
- •Значение коэффициента Стьюдента t для случайной величины X, имеющей распределение Стьюдента с (n-1) степенями свободы
- •Алгоритм обработки результатов косвенных измерений
- •Расчет погрешностей типовых задач
- •Литература
Литература
Общая теория оптоэлектронных приборов
Зи С. Физика полупроводниковых приборов: В 2 кн. / пер. с англ.; Под ред. У. Тсанга. – М.: Мир, 1988. – 526 с.
Носов Ю.Р. Оптоэлектроника. – М.: Сов. радио, 1977. – 232 с.
Основы оптоэлектроники: Пер. с япон./ Я. Суэмацу, С. Катаока, К. Кисино и др. – М.: Мир, 1988. – 288 с.
Полупроводниковые инжекционные лазеры
Елисеев П.Г. Введение в физику инжекционных лазеров. – М.: Наука, 1983. – 295 с.
Полупроводниковые инжекционные лазеры. Динамика, модуляция, спектры: Пер. с англ. / Под ред. У. Тсанга. – М.: Радио и связь, 1990. – 320 с.
Фотодетекторы
Техника оптической связи: Фотоприемники: Пер. с англ. / Под ред. У. Тсанга. – М.: Мир, 1988. – 526 с.
Фотоприемники видимого и ИК диапазонов / Р.Дж. Киес, П.В. Крузе, Э.Г. Патли и др.; Под ред. Р.Дж. Киеса; Пер. с англ. – М.:Радио и связь, 1985. – 328 с.
ГОСТ 17772-88. Приемники излучения. Полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик. – Взамен ГОСТ 17772-79; Введ. 01.07.89. – М.: Изд-во стандартов, 1988. – 64 с.
Малышев С.А., Чиж А.Л. Высокоскоростные фотодиоды на основе соединений AIIIBV для волоконно-оптических линий связи // Изв. вузов “Северокавказский регион. Технические науки”. 2002. Спецвыпуск. С. 5-21.
Светодиоды
Берг А., Дин П.Светодиоды. Пер.с англ. Под ред. А.Э. Юновича. – М.: Мир, 1979. – 686 с.
ГОСТ 19834.2-74. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости. Издательство стандартов, 1985 г.
Оценка погрешностей результатов измерений
Елизаров А.С. Электрорадиоизмерения: Учебник для вузов. – Мн.: Выш. шк., 1986. – 320 с.
Новицкий П.В., Зограф И.А. Оценка погрешностей результатов измерений. – Л.: Энергоатомиздат, 1987.