
- •Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение Высшего профессионального образования
- •Лабораторный практикум по курсу «Молекулярно-лучевая эпитаксия в технологии наноструктур» для студентов специальности 210601.65 Нанотехнология в электронике
- •Введение
- •1.1. Задачи лабораторной работы
- •1.2. Теоретическая часть
- •1.2.1. Фотоэлектрические процессы в инжекционном полупроводниковом лазере
- •1.2.2. Основные характеристики и параметры лазерных диодов
- •1.3. Объект исследования
- •1.6. Внешний вид волоконно-оптического лазерного модуля
- •1.4. Описание лабораторной установки и методов измерения
- •1.5. Порядок выполнения работы
- •Содержание отчета
- •1.7. Контрольные вопросы
- •2.1. Задачи лабораторной работы
- •2.2. Теоретическая часть
- •2.2.1. Фотоэлектрические процессы в p-I-n фотодиоде
- •2.2.2. Основные параметры и характеристики p-I-n фотодиода
- •2.3. Объект исследования
- •2.4. Описание лабораторной установки и методов измерения
- •2.5. Порядок выполнения работы
- •2.6. Содержание отчета
- •2.7. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №3 измерение частотной характеристики
- •3.1. Задачи лабораторной работы
- •3.2. Теоретическая часть
- •3.3. Объект исследования
- •3.4. Описание лабораторной установки и методов измерения
- •3.5. Порядок выполнения работы
- •3.6. Содержание отчета
- •3.7. Контрольные вопросы
- •4.1. Задачи лабораторной работы
- •4.2. Теоретическая часть
- •4.2.1. Лавинный процесс в р-п переходе
- •4.2.2. Характеристики лфд
- •4.3. Объект исследования
- •4.4. Описание измерительной установки и методов измерения
- •4.5. Порядок выполнения работы
- •4.6. Содержание отчета
- •4.7. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №5 получение методом молекулярно-лучевой эпитаксии светодиодов и измерение яркостно-токовой характеристики
- •5.1. Задачи лабораторной работы
- •5.2. Теоретическая часть
- •5.2.1. Физические процессы в р-п переходе светодиода
- •5.2.2. Основные параметры и характеристики фотоприемников
- •5.3. Объект исследования
- •5.4. Описание измерительной установки и методов измерения
- •5.5. Порядок выполнения работы
- •5.6. Содержание отчета
- •5.7. Контрольные вопросы
- •Оценка погрешностей результатов измерений
- •Значение коэффициента Стьюдента t для случайной величины X, имеющей распределение Стьюдента с (n-1) степенями свободы
- •Алгоритм обработки результатов косвенных измерений
- •Расчет погрешностей типовых задач
- •Литература
Расчет погрешностей типовых задач
Задача № 1
Обработать ряд результатов наблюдений Xi, представленных в таблице 1, полученный по результатам многократных прямых измерений напряжения на сопротивлении нагрузки фотодиода с помощью вольтметра. Число наблюдений при прямых измерениях п = 10. Оценить случайную погрешность измерения. Доверительную вероятность принять РД = 0.95. Записать результат измерения по установленной форме.
Таблица 1
i |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
Xi |
1.157 |
1.153 |
1.158 |
1.155 |
1.156 |
1.155 |
1.158 |
1.157 |
1.154 |
1.160 |
Решение
Вычисляем среднее арифметическое результатов наблюдений:
Определяем случайные отклонения результатов отдельных наблюдений:
.
Результаты промежуточных расчетов заносим в таблицу 2.
Таблица 2
i |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
4 |
6 |
7 |
8 |
9 |
Vi |
0,096 |
0,138 |
0,160 |
-0,123 |
-0,141 |
-0,123 |
0,014 |
0,193 |
0,237 |
0,088 |
V |
9,21610-3 |
19,04410-3 |
25,60010-3 |
15,12910-3 |
19,88110-3 |
15,12910-3 |
0,19610-3 |
37,24910-3 |
56,16910-3 |
87,74410-3 |
Вычисляем оценку среднеквадратического отклонения результатов наблюдений:
Поверяем наличие грубых погрешностей с помощью критерия "трех сигм":
.
Как видно из таблицы 2, грубые погрешности отсутствуют.
Определяем оценку среднеквадратического отклонения результата измерения:
По заданной доверительной вероятности РД и числу степеней свободы (п-1) распределения Стьюдента находим коэффициент t из таблицы 1, представленной в Приложении 1. Для нашей задачи (РД = 0,95 и (п - 1) = 14) значение t = 2,145. Рассчитываем доверительные границы случайной погрешности результата измерения:
Записываем результат измерения:
R = (25,635 ± 0,077) кОм, Рд = 0,95.
Задача № 2
Мощность постоянного тока Р измерялась косвенным методом путем многократных измерений напряжения U и тока I с учетом зависимости Р = UI. Напряжение U и ток I, результаты наблюдений которых представлены в таблице 3, подвергались прямым измерениям п = 9 раз. Частные погрешности некоррелированы. Определить случайную погрешность результата косвенного измерения с доверительной вероятностью РД = 0,95 и записать результат измерения по установленной форме.
Таблица 3
i |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
U, B |
19,2 |
19,8 |
19,7 |
19,6 |
19,9 |
19,4 |
19,5 |
19,1 |
19,3 |
I, мА |
2,731 |
2,746 |
2,753 |
2,762 |
2,751 |
2,749 |
2,743 |
2,739 |
2,732 |
Решение
Вычисляем средние арифметические значения величин U и I:
,
Находим значение результата косвенного измерения мощности:
=
53,526 мВт.
Вычисляем оценки среднеквадратических отклонений величин U и I:
Определяем частные случайные погрешности косвенного измерения:
Вычисляем оценку среднеквадратического отклонения результата косвенного измерения:
Определяем значение коэффициента Стьюдента t для заданной доверительной вероятности РД = 0,95 и числа наблюдений п = 9. Так как п < 30, то предварительно определяем "эффективное" число степеней свободы распределения Стьюдента:
где
Поскольку значение пэ получили дробное, для нахождения коэффициента Стьюдента применяем линейную интерполяцию. Для решаемой задачи при пэ = 9,23 и РД = 0,95 из таблицы 1, представленной в Приложении 1, находим п1 = 10, t1 = 2,251, п2 = 11, t2 = 2,228, а затем вычисляем значение t:
Вычисляем доверительные границы случайной погрешности результата косвенного измерения:
Записываем результат измерения:
Р = (53,53 ± 0,58) мВт, РД = 0,95.
Стенд для измерения яркостно-токовой характеристики светодиодов