Порівняльна характеристика відеокарт

Характеристики	Asus GeForce GTX 760	Asus Radeon R9 270
Інтерфейс	PCI-Express x16 3.0	PCI-Express x16 3.0
Графічний чіп	2 ГБ	2 ГБ
Частота пам’яті	6008 мГц	5600мГц
Тип пам’яті	GDDR5	GDDR5
Частота ядра	1006мГц	950мГц
Система охолодження	2вентилятора+радіатор	DirectCU II
Тип системи охолодження	Активна	Активна
Розрядність шини пам’яті	256 бит	256 бит
Виходи DVI	2	2
Максимально підтримуюче розширення	4096x2160	2560х1600
Підтримувані 3D API	DirectX 11.1,OpenGL 4.3	DirectX 11.2,OpenGL 4.3
Мінімально необхідна потужність БЖ	500Вт	__
Додаткове живлення	8pin	6pin
Розміри	218.4x127x38.1мм	233.6 x 124.4 x 38.1 мм

2. Прилади для налаштування моніторів

2.1. Типові несправності моніторів та способи їх усунення.

При ремонті моніторів, особливо сучасних, нерідко зустрічаються несправності, пошук і усунення яких викликає певні труднощі не тільки у радіоаматорів, але і у майстрів. Значна їх частка пов'язана з дефектами рядкової розгортки. Річ у тому, що щонайменше відхилення в режимах роботи вузлів рядкової розгортки таких моніторів викликає блокування як її процесорів, так і блоку живлення, а отже, виникають труднощі з їх запуском для традиційної перевірки. Вирішити в більшості випадків виникаючі проблеми дозволяє так зване тестування навантаження вихідного каскаду рядкової розгортки. Пропонована перевірка може не тільки істотно скоротити час пошуку несправності, але і, що саме головне, чітко відповісти на питання, несправний цей каскад чи ні. Тестування проводять при вимкненому моніторі. Воно виявляє більшість дефектів рядкових трансформаторів і систем, що відхиляють. Цей метод тестування можна використовувати для перевірки блоків розгортки комп'ютерних моніторів і імпульсних джерел живлення з відповідною зміною параметрів сигналу тестуючого пристрою - тестера навантаження.

Суть методу тестування навантаження полягає в тому, що на вихідний каскад рядкової розгортки подають малу напругу живлення (близько 15 В), істотно меншу номінального і замінюючого джерело живлення апарату. Імпульси на виході підключеного до нього тестера, слідуючи з частотою, наприклад, 15625 Гц, імітують роботу транзистора вихідного каскаду. При цьому в рядковому трансформаторі і котушці, що відхиляє, виробляються коливання, що досить точно відображають його роботу, тільки амплітуда струмів, що виникають в нім, і напрузі приблизно в 10 разів менше робочої амплітуди. Використовуючи такий тестер, а також міліамперметр і осцилограф, перевіряють роботу вихідного каскаду. Практика показує, що вказану перевірку при пошуку несправностей в ланцюгах рядкової розгортки доцільно проводити завжди.

Рис. 2.1 Принципова схема тестера навантаження

Принципова схема тестера навантаження представлена на Рис. 1. Його польовий транзистор VT1 грає роль силового ключа, що підключається в необхідній полярності до транзистора вихідного каскаду рядкової розгортки. На затвор польового транзистора поступають імпульси із задаючого генератора, зібраного на мікросхемі DD1. Тривалість імпульсів регулюють змінним резистором R4, а частоту проходження - змінним резистором R1. Тумблер SA1 призначений для перемикання режимів перевірки: "Тест." або "Прозвонка" (про цей режим буде розказано далі).

У режимі тестування частоту генератора виставляють рівній робочій частоті імпульсного перетворювача досліджуваного пристрою. Для рядкової розгортки телевізора вона рівна 15625 Гц, а для монітора VGA може бути 31,5 кГц або вище. У режимі "Прозвонка" частота генератора - близько 1 кГц. Тривалість імпульсів і частоту для телевізора вибирають так, щоб час відкритого стану польового транзистора був рівний 50, а закритого стану - 14 мкс.

Польовий транзистор зашунтирован захисним діодом VD1, що підвищує надійність тестера. Він є швидкодіючим пороговим обмежувачем напруги 350 В, що захищає транзистор від високовольтних викидів при тестуванні. Можна, звичайно, відмовитися від його використання, але тоді це понизить надійність приладу.

Рис. 2.2 Друкарська плата тестера

Конструктивно тестер виконаний у вигляді плати з окремим блоком живлення. Тестер зібраний на друкарській платі з односторонньо фольгуванного склотекстоліту, креслення якої представлене на Рис. 2.

У пристрої застосовані змінні резистори Сп4-1 або будь-які інші, відповідні по габаритах, постійні резистори МЛТ, ОМЛТ, С2-ззн і тому подібне Конденсатори С2, С6 - будь-які оксидні з мінімальним струмом витоки, останні - К10-17 або Км. Конденсатор С5 припаюють між виводами живлення мікросхеми DD1 або з боку друкарських провідників, або з боку деталей, розташувавши його над нею. Як вихідні виводи ("Вихід" і "Загальний") використані гнучкі контакти від роз'ємів завдовжки 15...20 мм.

Налагодження зводиться до установки міток частоти і тривалості імпульсів, відповідних режимам тестування, на шкалах змінних резисторів.

Тестер навантаження "навішують" на плату пристрою, що перевіряється, - припаюють два гнучкі виведення ("Вихід" і "Загальний") плати до точок паяння колектора і емітера вихідного транзистора (відповідно) тестованої рядкової розгортки так, як видно на 1-ій с. обкладинки. При цьому потрібно не забути подати напругу живлення (+Uпит = 15 В) на її вихідний каскад.