
- •Вопросы госэкзамена 2012 – 2013 г. Для бакалавров
- •Формализация входной информации перед проектированием. Системное (внешнее) проектирование. Частное (внутреннее) проектирование. Проектировщики. Продукт проектирования.
- •Связь системологии и системотехники. Основные понятия, связанные со сложным объектом. Составляющие системного исследования.
- •Проблема управления сложным объектом. Описание объекта в пространстве "управление-отклики-время".
- •Концепция системотехники. Системный подход.
- •Методы ии для решения трудно формализуемых задач. Комбинаторные алгоритмы: проблема сложности.
- •Модели представления знаний. Извлечение и приобретение знаний.
- •Логико-лингвистические модели принятия решений при нечеткой исходной информации.
- •Процедуры в Объектном Паскале. Описание и вызов процедур. Параметры-переменные и параметры-значения. Пример программы.
- •Описание типизованных файлов в программе. Стандартные процедуры и функции для работы с типизованными файлами. Пример программы.
- •Принципы объектно-ориентированного программирования. Описание класса и объекта. Основные элементы класса: поля, методы, свойства, события. Динамика существования объекта.
- •Файловый ввод/вывод информации. Поиск файлов в каталогах. Создание текстового файла в проекте приложения. Диалоги сохранения и открытия файлов.
- •Системный интерфейс пэвм. Функции, характеристики, требования к интерфейсу. Организация обмена данными.
- •Архитектура процессора. Системы команд микропроцессоров (risc-, cisc- и vliw – архитектура процессоров).
- •Арбитраж на шине. Способы задания (смены) приоритетов. Виды арбитража. Примеры реализации.
- •Циклическая смена приоритетов с учетом последнего запроса
- •Смена приоритета по случайному закону
- •Алгоритм наиболее давнего использования
- •Параллельный централизованный арбитраж
- •Система параллельного централизованного арбитража для статических приоритетов
- •Центральный последовательный арбитраж
- •Децентрализованный (распределенный) арбитраж
- •Микропроцессорные системы для автоматизации технологических процессов. Функции управления оборудованием.
- •Архитектура и особенности работы программируемых контроллеров. Особенности распределения памяти.
- •Определение операционной системы. Задачи и функции операционной системы.
- •Архитектура операционной системы.
- •2. Многослойная структура ос. Слоеные системы (Layered systems)
- •3. Виртуальные машины
- •4. Микроядерная архитектура
- •Процессы. Управление процессами.
- •Асинхронные параллельные процессы: взаимоисключение, критические участки, примитивы взаимоисключения, семафоры.
- •Физическая и виртуальная память. Управление памятью.
- •Базы данных (Кара-Ушанов в.Ю.)
- •Модель данных: тип структуры данных; ограничения целостности; действия с данными (проиллюстрировать на примере реляционной модели данных).
- •Реляционный подход к проектированию бд: нормализация отношений путем декомпозиции на основе анализа функциональных зависимостей.
- •Основные этапы проектирования системы бд.
- •Эволюция концепции бд. Отличие представления данных в системе бд от файловой организации данных.
- •Трехуровневая архитектура системы бд: модели данных, схемы структуры данных, отображения и интерфейсы, независимость данных, функционирование системы бд (прохождение запроса).
- •Семиуровневая модель управления взаимодействия открытых систем.
- •Физический уровень
- •Локальные вычислительные сети. Типы, вопросы организации, основные характеристики.
- •Протокол tcp/ip. Состав, функции.
- •3 Уровень
- •4 Уровень
- •7 Уровень
- •Протокол ip
- •Протокол ip
- •Маски ip – адресов.
- •Модели систем массового обслуживания. Марковские случайные процессы. Потоки событий. Классическая смо и смо с отказами. Их основные операционные характеристики.
- •Экономический аспект метрологического обеспечения
- •Информационные измерительные модели
- •Метрологические характеристики эксперта
- •Классификация погрешностей измерений.
- •Постановка задачи обработки результатов измерений.
- •Факторный анализ.
- •Постановка задачи планированного измерительного эксперимента
- •Топологии интерфейсов, их особенности, достоинства и недостатки.
- •Физические основы и логические принципы магнитной записи информации.
- •Математические основы и технические реализации способов формирования изображения на экране и бумаге.
- •Логическая и программная организация системы ввода-вывода, способы организации обмена, функции драйверов устройств.
- •Закон функционирования автомата Мили.
- •Закон функционирования автомата Мура.
- •Концепция процедурного и обьектно-ориентированного программирования.
- •Концепция средо-ориентированного программирования. Основные типы сред как системы программирования.
- •1. Начало (Inception)
- •2. Уточнение (Elaboration)
- •3. Построение (Construction)
- •4. Внедрение (Transition)
Классификация погрешностей измерений.
Погрешность – оценка достоверности измерения, численно равна отклонению измеренного параметра от его истинного значения.
Классификация погрешностей:
I. По причинам возникновения
1) инструментальная (отображает несовершенства прибора или устройства):
• основная (указывается в паспорте)
• дополнительная (возникает из-за отклонений условий измерений от указанных в паспорте)
2) методическая (возникает из-за несовершенства метода измерения; оценивается экспертным методом путем анализа объекта измерений и его взаимодействия с измерительной системой)
3) субъективная (зависит от лица, принимающего решения - ЛПР)
II. По характеру изменения во времени
1) систематические (погрешность-константа, изменяется по определенному закону)
2) случайная (зависит от конкретных условий измерений, когда условия непредсказуемые)
3) грубая (промах; связана с отказом прибора, неполадка измерительной линии)
4) статическая (зависит от постороннего фактора, не зависит от времени)
5) динамическая (связана с инертностью измерительных систем и средств; зависит от времени)
6) квантование (не зависит от внешних условий и от текущего параметра, связана с цифро-аналоговой методикой преобразования сигнала, ещё связана с методом обработки информации об объекте, д/б оптимизирована)
III. По рассчитываемым параметрам
1)абсолютная
x – измеренное значение
X – действительное значение
2) относительная
3)приведенная (численная характеристика класса точности измерительного устройства (в паспорте))
xmax – верхнее значение шкалы измерительного прибора
xmin – нижнее значение этой шкалы
k*(привед. погреш)2+P2 =1, p – коэффициент корреляции, k – энтропийный коэффициент, зависит от закона распределения ошибок.
4)Аддитивная (абсолютная; значение абсолютной погрешности не зависит от измеряемой величины)
5)Мультипликативная (зависит от измеряемой величины)
Надежность (правильная работа в течение заданного времени (гарантийный или общий срок службы измерительной системы))
Постановка задачи обработки результатов измерений.
Задача разбивается на 4 этапа, выполнение которых позволит добиться требуемого результат обработки. 1) Идентификация объекта А) физическая постановка
Б) Мат формулировка По типу математические модели подразделяются на:
- Статистические (метод наименьших квадратов МНК) - Детерминированные (запись дифуров, их решение, расчет ошибок по найденным формулам, при этом отклонение от заданной аналитической модели=0, все точки лежат на кривой)
- комбинированные модели: детерминировано-статистические, нейронные сети и структуры.
2) Идентификация датчика 3)Определение закона ошибок 4) Назначение или выбор критериев
Этапы:
1. Поставить задачу, т.е. взять реальные данные, установить цель сбора этих данных. Выяснить, что требуется узнать (получить) при обработке этих данных;
• Построить или подобрать математическую модель
• Параметризовать качественные признаки (сделать их в числовом экиваленте)
2. Поставить машинный эксперимент: Провести факторный эксперимент с целью уточнения математической модели: (правильно ли выбрал тип модели, закон, значение коэффициентов) При всем этом этап включает в себя следующее:
• Матрица плана полного факторного эксперимента
• Таблица расчетов дисперсий и целевой функции
• Расчет коэффициентов целевой функции
• Проверка адекватности модели (критерий Фишера)
• Определение метрологических характеристик (учесть возможность дальнейшего
использования результатов)
• Относительная точность (погрешность)
• Класс точности модели
• Степень компетентности (для нейросети)
3. Анализ и выводы. Пригодна модель или нет, если не пригодна, объяснить почему и вернуться к пункту 2.
4. Грамотно оформить работу