
- •Самостоятельная работа
- •Студентка группы 43 а
- •Причины тепловыделения в электроустановках и характеристики тепловыделения в электроустановках
- •2. Основы расчета теплового состояния трансформатора
- •3. Основы расчета теплового состояния выпрямителя
- •4. Основы устройства систем охлаждения трансформатора и выпрями-теля
- •5. Тепловое действие электрического поля
- •6. Тепловое действие электромагнитного поля.
3. Основы расчета теплового состояния выпрямителя
Выделяющаяся в полупроводниковом кристалле электрическая мощность Pd рассеивается в виде тепла, которое должно быть отведено от р–n-переходов. Надежность приборов непосредственно зависит от максимальной температуры полупроводниковой структуры, а способ отведения тепла определяет зависимость температуры от выделяющей мощности.
Статическое уравнение имеет вид:
(1)
где h – коэффициент теплопередачи;
А – площадь поперечного сечения канала передачи тепла;
ΔΤ – перепад температур на концах канала передачи тепла.
Тепловой канал исходит из небольшого объема полупроводникового кристалла, в котором он зарождается, проходит через несколько слоев различных материалов, из которых изготавливаются термокомпенсаторы (вольфрам, молибден), прокладки (серебро, олово), основание (медь), охладитель (алюминий, силумин), и отводится в окружающую среду. Каждый из этих слоев обладает определенной характеристикой теплопередачи и оказывает сопротивление распространению теплового потока, вследствие чего создается перепад температур полупроводниковой структурой и каждым из слоев. Тепловой расчет с учетом тепловых параметров всех разнородных слоев представляет собой довольно непростую многомерную задачу.
Для характеристики теплопередающих свойств прибора вводят понятие теплового сопротивления:
(2)
Путь теплового потока через последовательность конструктивных элементов можно представить эквивалентной цепью с последовательным соединением тепловых сопротивлений участков цепи «полупроводниковая структура – корпус прибора», «корпус прибора – контактная поверхность охладителя», «контактная поверхность охладителя – охлаждающая среда»:
где Tj, Tc, Th, Ta – соответственно температуры структуры, корпуса, охладителя, охлаждающей среды;
-
соответственно тепловые сопротивления
участков цепи «полупроводниковая
структура – корпус прибора», «корпус
прибора – контактная поверхность
охладителя», «контактная поверхность
охладителя – охлаждающая среда».
Результирующее тепловое сопротивление цепи «структура прибора – охлаждающая среда»:
(6)
Для повышения нагрузочной способности при заданной максимальной температуре структуры стремятся уменьшить общее тепловое сопротивление.
Для приборов
таблеточной конструкции с двусторонним
отводом тепла тепловое сопротивление
«структура – корпус» определяется
исходя из схемы параллельного включения
тепловых сопротивлений со стороны анода
и катода
прибора:
(7)
Сопротивление
«корпус – охладитель»
является нестабильным и зависит от типа
корпуса, площади контакта, силы сжатия
корпуса с охладителем, типа теплопроводящей
прослойки между корпусом и охладителем.
В качестве этой прослойки может быть
применен специальный силиконовый
смазочный материал. Иногда это может
быть электроизолирующая прокладка. В
качестве теплопроводящих прокладок
могут использоваться слюда, оксид
алюминия, оксид бериллия. Применение
теплопроводящего смазочного материала
уменьшает сопротивление «корпус –
охладитель» в 3–5 раз, а установка
электроизолирующей прокладки увеличивает
это сопротивление в 4–8 раз.
Тепловое сопротивление
«охладитель – охлаждающая среда»
зависит от типа охладителя и охлаждающей
среды (воздушная, жидкостная). Наиболее
часто используются воздушные охладители,
которые иногда называют радиаторами.
Большое значение имеет состояние поверхности: ее следует выполнять матовой и черненой. Расположение поверхности должно быть вертикальным.
Метод расчета температуры нагрева полупроводниковой структуры
По известным
значениям переходного теплового
сопротивления «переход – среда»
(справочные данные) для конкретных
временных интервалов t
в соответствии с выделяющейся мощностью
потерь Pd
можно рассчитать температуру
полупроводниковой структуры в момент
t:
(8)
Превышение температурой структуры температуры охлаждающей среды:
(9)