
- •1.Введение
- •2.Метрология
- •2.1 Физические величины и их единицы
- •2.1.1 Основные определения
- •2.1.2 Международная система единиц (си)
- •2.2 Воспроизведение и передача размера единиц
- •2.2.1 Эталоны единиц физических величин
- •2.2.2 Поверка и калибровка средств измерений
- •2.3 Основные вопросы измерений и средств измерений
- •2.3.1 Классификация измерений
- •2.3.2 Основные характеристики измерений.
- •2.3.3 Классификация средств измерений
- •2.4 Теория погрешностей и математическая обработка результатов измерений
- •2.4.1. Основные понятия и виды погрешностей
- •2.4.2 Вероятностный подход к описанию погрешностей
- •2.4.3 Основные законы распределения случайных погрешностей
- •2.4.4 Доверительный интервал и доверительная вероятность
- •2.4.5 Распределение Стьюдента
- •2.4.6 Показатели точности измерений и форма представления результатов измерений
- •2.4.7 Определение показателей точности прямых измерений
- •2.4.8 Определение показателей точности косвенных измерений
- •2.5 Средства измерений и их метрологические характеристики
- •2.5.1 Погрешности средств измерений.
- •2.5.2 Методы повышения точности средств измерений и выполнения измерений
- •2.5.3 Методы нормирования погрешностей средств измерений
- •2.5.4 Определение и коррекция погрешностей результатов в процессе измерения
- •2.6 Методы информационного описания погрешностей средств и результатов измерений
- •2.6.1. Необходимые сведения из теории информации
- •2.6.2. Энтропийный интервал неопределенности.
- •2.6.3 Энтропийное значение случайной погрешности
- •2.6.4 О единицах количества информации
- •2.7 Технические средства метрологии.
- •2.7 Технические средства метрологии.
- •2.7.1. Электромеханические приборы.
- •2.7.2. Электронные вольтметры.
- •2.7.3. Электронные осциллографы.
- •2.7.4. Электроизмерительные мосты.
- •2.7.5. Потенциометры постоянного тока.
- •2.7.6. Цифровые измерительные устройства.
- •2.7.7. Информационно-измерительные системы.
- •2.7.8. Измерение неэлектрических величин.
- •2.8 Законодательная метрология
- •2.8.1 Основные сведения
- •2.8.2 Международные метрологические организации
- •2.8.3 Современное состояние законодательной метрологии в Российской Федерации
- •2.8.4 Государственная метрологическая служба Российской Федерации
2.7.8. Измерение неэлектрических величин.
Современная информационно-измерительная техника располагает средствами измерения около двухсот различных физических величин – электрических, магнитных, тепловых, механических, акустических и т.д. Подавляющее большинство этих величин в процессе измерения преобразуется в величины электрические, как наиболее удобные для передачи, усиления, математической обработки и точного измерения. Поэтому в современной измерительной технике находят широкое применение измерительные преобразователи разного рода физических величин в электрические величины.
Термин “измерительный преобразователь” (ИП) употребляется в настоящее время широко и в разных смыслах. Будем понимать под ИП элементарный измерительный преобразователь, выполненный на основе определенного физического принципа: емкостной, индуктивный, пьезоэлектрический и т.д.
Для обозначения совокупности измерительных преобразователей, объединенных в один конструктивный узел, выносимый на объект измерения, будем использовать укоренившийся на практике термин “датчик”.
В ИП с известной точностью реализуется однозначная функциональная связь между двумя физическими величинами Х и Y. Зависимость Y = f(Х) называется функцией преобразования, которая может быть задана аналитически, в виде таблицы соответствия или графически на основе опытных данных.
При рассмотрении принципа действия ИП необходимо придерживаться следующего порядка:
указать физический закон, на основе которого конструируется и функционирует ИП;
проследить цепь преобразования от входа до выхода (X Y);
привести функцию преобразования в виде уравнения или графика;
привести конструктивную схему.
На входе ИП, кроме измеряемой величины, действуют многие другие параметры объекта измерения и окружающей среды (температура, влажность окружающей среды, вибрации, наводки, неинформативные параметры объекта измерения и т.д.). В этих условиях основной задачей ИП оказывается задача выделения из многообразия действующих на него факторов только значение измеряемой величины Х (информативный параметр) и “отстроится” от влияния всех остальных.
Измерительные преобразователи по виду выходной измеряемой величины делятся на генераторные (выходная величина ЭДС, ток, заряд) и параметрические (выходная величина – параметр электрической цепи R, L, C, M). К генераторным преобразователям относятся индукционные, термоэлектрические, пьезоэлектрические и др., к параметрическим – резистивные, индуктивные, емкостные и др.
К основным статистическим характеристикам ИП относится:
коэффициент преобразования K = Y/X;
порог преобразования – такое значение входной величины, когда X = 0 (0 –погрешность нуля);
рабочий диапазон по входу и выходу DX = XB –XН, DY = YB –YН, где ХВ (YВ) – верхнее значение входной (выходной) величины; Xн (Yн) – нижнее значение входной (выходной) величины;
абсолютные, относительные и приведенные погрешности по входу и выходу (X, Y, X, Y, X, Y).
Между погрешностями по входу и выходу существует взаимосвязь. Например, для абсолютных погрешностей Y = Kx .
Следует отметить, что диапазон изменения многих физических величин очень широк. Например, современная практика требует измерения линейных размеров в диапазоне 10-15 1023 м, угловых размеров 0,0001” 3600; диапазоны измеряемых усилий также весьма широки: внутренние напряжения в материалах 0-2000МПа, силы 0 109 Н, давления 0-1010 Па и т.д. В связи с этим весь диапазон измерения какой-либо физической величины с помощью одного типа датчика измерить оказывается невозможным. Поэтому этот диапазон разбивается на поддиапазоны, внутри которых используются различные методы измерения и типы преобразователей. Для примера рассмотрим методы измерения температуры.
Диапазон существующих температур можно разделить на ряд характерных поддиапазонов: сверхнизкие температуры (0 4,2 К), низкие (4,2 273 К), средние (273 1300 К), высокие (1300 5000 К), сверхвысокие (от 5000 К и выше). Сверхнизкие и низкие температуры необходимо измерять при проведении различных физических экспериментов, и особенно при исследовании сверхпроводимости, в криогенной технике и т.д. Наиболее часто измеряемые температуры лежат в области низких, средних и высоких температур (научные исследования, медицина, промышленность и т.д.). Потребность в измерении сверхвысоких температур непрерывно возрастает особенно с развитием плазменных методов обработки материалов, ракетной и космической техники, исследовании управляемых термоядерных реакций и т.д. Широкий диапазон подлежащих измерению температур обусловил многочисленность методов и средств измерения температуры. Отдельные методы измерения удобно классифицировать по механизму передачи энергии от объекта исследования к термопреобразователю. В соответствии с этим методы и средства измерения температуры можно разделить на термометрические, пирометрические и спектрометрические.
Термометрические методы, как правило, являются контактными, при которых энергообмен между объектом и термопреобразователем осуществляется главным образом путем теплопроводности (при измерении температуры твердых тел) и конвекции. Эти методы основаны на температурной зависимости свойств различных веществ, используемых в качестве термопреобразователя, который находится в непосредственном контакте с объектом и температура которого принимается равной измеряемой температуре. Сюда относятся терморезистивные, термоэлектрические, термошумовые, термочастотные и др. методы.
Неконтактные методы основаны на энергообмене путем излучения между объектом и измерительным преобразователем. Все тела излучают в окружающее пространство электромагнитные волны различных длин. В зависимости от вида излучения и определяемых его параметров неконтактные методы можно разделить на пирометрические, применяемые для измерения температур до 4000 6000 К по тепловому излучению исследуемых объектов, и спектрометрические, используемые для измерения сверхвысоких температур, главным образом температуры плазмы. Спектрометрические методы основаны на измерении параметров отдельных спектральных линий или других величин, зависящих от спектральных свойств излучения исследуемого объекта.