
- •Тема 2. Базування заготованок в верстатних пристроях
- •2) Необхідно обробити наскрізь паз і забезпечити два координатних розміри. Рисунок 2.9 — Схема базування призматичних заготовок координатних розмірів
- •Тема 3 Настановні елементи пристроїв
- •Тема 4 Затискні елементи пристроїв
- •Контрольні питання
- •Тема 5 Настаново-затискне обладнання пристроїв
- •5.2. Класифікація та характеристика самоцентрувальних затискачів
- •Тема 6 Напрямні та настроючи елементи пристроїв
- •Тема 7 Ділильне та поворотне обладнання
- •Тема 8 Корпуси та допоміжні елементи пристроїв
- •Тема 9 Універсальні та спеціалізовані верстатні пристрої
- •Контрольні питання
- •Тема 10 Універсальні-збірні та збірно-розбірні пристрої
- •Контрольні питання
- •Тема 11 Допоміжний інструмент
- •10.1. Допоміжні пристрої та інструменти для свердлильних верстатів
- •11.2. Допоміжні пристрої та інструменти для фрезерних верстатів
- •11.3. Допоміжні пристрої та інструменти для токарних верстатів
- •11.4. Допоміжні пристрої та інструменти для верстатів з програмним керуванням
- •Контрольні питання
- •Тема 12 Методика проектування верстатних пристроїв
- •Тема 13 Методика проектування вимірювальних пристроїв
- •13.2. Основні схеми та елементи контрольно-вимірювальних пристроїв
- •13.3.П рик лади застосування контрольно-вимірювальних пристроїв
- •13.4. Розрахунок точності контрольно-вимірювальних пристроїв
- •Контрольні питання
13.4. Розрахунок точності контрольно-вимірювальних пристроїв
Порядок розрахунку точності контрольно-вимірювальних пристроїв аналогічний методиці розрахунку точності пристроїв для оброблення різанням, розглянутих вище. Різниця полягає у тому, що для контрольно-вимірювальних пристроїв замість допустимої похибки оброблення чи технологічного допуску приймають допустиму похибку контролювання чи вимірювання параметрів виробів, а такі складові похибки оброблення, як похибки від коливання деформування технологічної системи, розмірного спрацювання різального інструмента, оброблювального верстата, деформування технологічної системи від її нагрівання, практично відсутні.
Допустиму сумарну похибку контролювання чи вимірювання визначають за формулою з тією різницею, що коефіцієнт запасу точності цього разу приймають у межах від 0,7 до 0,92. Основними складовими сумарної похибки контрольно-вимірювальних пристроїв є похибка встановлення виробу на робочому місці Еу , похибка налагодження пристрою на контрольований чи вимірюваний розмір Ен і похибка розмірного спрацювання робочих щупів пристроїв Ерс, тому формула для визначення сумарної похибки контрольно-вимірювального пристрою має вигляд:
(13.1)
де Е, Ey, ЕH і Е пс — сумарна похибка вимірювання та її складові, зумовлені відповідно неточністю встановлення, налагодження та розмірного спрацювання робочих поверхонь щупів; К, Ку, Кн і Крс — коефіцієнти відносного розсіяння відповідно для сумарної похибки та її складових.
Похибку розмірного налагодження як детерміновану (систематичну) величину можна винести з-під кореня та вилучити зі сумарної похибки за допомогою внесення відповідної корекції у вимірювальну систему. Похибка розмірного спрацювання, зумовлена спрацюванням робочих поверхонь контрольно-вимірювальних щупів, с здебільшого дуже малою, оскільки зусилля притискання щупів до контрольованих поверхонь незначні, а самі робочі поверхні щупів достатньо стійкі проти спрацювання. Тому сумарну похибку контрольно-вимірювальних пристроїв здебільшого зумовлюють похибки встановлення виробів у пристроях. Беручи до уваги викладене та склад похибки встановлення, маємо
(13.2)
де Е6, Ез і Епр — похибки відповідно базування, закріплення виробів у пристроях та виготовлення самих пристроїв; Кб, Кз і Кпр — коефіцієнти розсіяння перелічених похибок.
У формулі (14.2) дві останні складові похибки також можна вилучити з розрахунків, оскільки Епр є величиною систематичною та може бути компенсована за допомогою еталонних мір чи спеціальних виробів під час налагодження пристрою, а похибка закріплення є дуже малою, бо закріплення виробів у таких пристроях здебільшого зовсім відсутнє або виконується за допомогою механізмів, що мають незначні зусилля затискання. Тому похибку контрольно-вимірювальних пристроїв переважно визначають як похибку базування виробів у пристроях, тобто
Е = Е6<μТ. (13.3)
Контрольні питання
Призначення контрольно-вимірювальних пристроїв.
З яких частин складаються контрольно-вимірювальні пристрої?
Як добирають схеми контрольно-вимірювальних пристроїв?
Класифікація контрольних і вимірювальних пристроїв..
Чим відрізняються контрольні пристрої від вимірювальних?
Застосування стаціонарних і переносних пристроїв.
Чим відрізняються контрольно-вимірювальні пристрої та пристрої для оброблення різанням?
Які установні елементи використовують у контрольно-вимірювальних пристроях?
Способи центрування виробів на контрольних і вимірювальних пристроях.
Особливості конструкцій затискачів у контрольно-вимірювальних пристроях.
Які первинні перетворювачі використовують для котрольно-вимірювальних пристроїв?
Перелічіть додаткові механізми, які використовують для контрольновимірю-вальних пристроїв?
Охарактеризуйте пристрої з пневматичними перетворювачами.
Де застосовують пристрої з годинниковими індикаторами?
Порядок розрахунку точності контрольно-вимірювальних пристроїв.
Список літератури
Боженко Л.І. Технологія машинобудування . Проектування технологічного спорядження. Львів. Світ, 2001
Белоусов А.П. Проектирование станочных приспособлений. М. Высш. Школа, 1980
Корсаков В.С. «Основи конструювання пристроїв» М:, Машинобудування, 1983
Кузнєцов Ю.І., Маслов Л.Р., Байков А.М. «Оснастка для верстатів з ЧПУ», Довідник. М.: Машинобудування , 1990 р.