- •Модуль 1 «Диагностика материалов и структур оптическими и электронно-микроскопическими методами»
- •Введение
- •Микроструктура и понятие микроструктурного анализа
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Введение
- •Введение
- •Устройство современного оптического микроскопа
- •Методы наблюдения
- •Дефекты изображения
- •Применение оптической микроскопии в производстве сбис
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендованная литература
- •Введение
- •Введение
- •Устройство и принцип работы растрового электронного микроскопа
- •Формирование контраста в растровом электронном микроскопе
- •Требования к образцам
- •Устройство и принцип работы детектора рентгеновского излучения
- •Количественный рентгеновский микроанализ
- •Пример проведения рентгеноспектрального микроанализа
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
Контрольные вопросы
Перечислите основные способы описания микроструктуры материала.
Какова общая схема микроструктурных исследований?
За счет чего создается изображение в оптическом микроскопе?
Поясните, каким образом упругое рассеяние используется в оптических и электрооптических системах.
Что определяют процессы неупругого рассеяния в растровом электронном микроскопе?
Каково схематическое представление дифракционной картины? Чему пропорционален угол дифракционного рассеяния?
Какова схема получения изображения в РЭМ?
Перечислите основные методы микроструктурного анализа, которые обычно используют в промышленности и научных исследованиях?
Поясните различия в принципах работы просвечивающего и растрового электронного микроскопов.
Рекомендуемая литература
Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля // М.: Техносфера, 2006 – 284с.
Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2-х книгах. Книга 1. Пер. с англ. – М.: Мир, 1984. – 303с.
Практическое занятие 2 Анализ материалов и структур методами оптической микроскопии
План занятия
Введение
Устройство оптического микроскопа
Дефекты оптического изображения
Методы наблюдения
Применение оптической микроскопии в производстве СБИС
Введение
Простейший способ увеличить изображение небольшого предмета – это наблюдать его с помощью лупы. Лупой называют собирающую линзу с малым фокусным расстоянием (как правило, не более 10 см), вставленную в рукоятку. Более совершенным инструментом для наблюдения микроскопических предметов является простой микроскоп. Когда появились эти приборы, в точности неизвестно. Создатель телескопа Галилей в 1610 году обнаружил, что в сильно раздвинутом состоянии его зрительная труба позволяет сильно увеличить мелкие предметы. Его можно считать изобретателем микроскопа, состоящего из положительной и отрицательной линз. В начале XVII века появились и микроскопы, составленные из двух положительных линз. Изобретатель такого микроскопа точно не известен, но многие факты говорят о том, что им был голландец Корнелий Дребель, живший в Лондоне и находившийся на службе у английского короля Иакова I. В 1663 году микроскоп Дребеля был усовершенствован английским физиком Робертом Гуком, который ввел в него третью линзу, получившую название коллектива. Этот тип микроскопа приобрел большую популярность, и большинство микроскопов конца XVII-первой половины VIII века строились по его схеме.
В настоящее время появились разные виды микроскопии: оптическая, электронная, ионная, рентгеновская, лазерная рентгеновская, сканирующая зондовая. Каждый из видов имеет свои особенности и свои области применения, но одной из наиболее доступных и оперативных остается оптическая микроскопия. Оптические микроскопы по области применения разделяются на технические, биологические, хирургические; по классу сложности – на учебные, рабочие, лабораторные и исследовательские; по виду микроскопии – на микроскопы проходящего и отраженного света, стереомикроскопы, поляризационные, люминесцентные (флуоресцентные), фазового контраста, конфокальные и наноскопы.
