
- •Физический практикум по электромагнетизму
- •Содержание
- •1. Цепи постоянного тока
- •Передача электроэнергии по линии
- •1. Эффективность передачи электроэнергии
- •2. Распределение нпряжения в линии
- •3. Экспериментальная установка
- •4. Измерения
- •5. Представление результатов
- •Цепь постоянного тока
- •1. Методы расчёта цепей
- •1.1. Правила Кирхгофа
- •1.2. Метод узловых потенциалов
- •1.3. Метод контурных токов
- •3. Измерения
- •Нелинейные элементы в цепи постоянного тока
- •1. Теоретическое введение
- •1.1. Понятие о нелинейных элементах (нэ)
- •1.2. Статическое и дифференциальное сопротивления
- •1.3. Вольт-амперные характеристики
- •1.4. Графический расчёт простейших нелинейных цепей
- •1.5. Стабилизатор напряжения
- •2. Экспериментальная установка
- •3. Программа работы
- •3.1. Снятие вольт-амперных характеристик
- •3.2. Расчёт и испытание стабилизатора напряжения
- •4. Представление результатов
- •1. Назначение осциллографа
- •2. Блок-схема осциллографа с1-65а
- •2.1. Входной делитель и усилитель канала y
- •2.2. Генератор развёртки
- •2.3. Блок синхронизации
- •2.4. Усилитель канала х
- •2.5. Калибратор
- •3. Некоторые технические хароактеристики
- •4. Ручки управления
- •4 .1. Ручки управления элт
- •4.2. Ручки управления канала y
- •4.3. Ручки управления синхронизацией
- •4.4. Ручки управления развёрткой
- •4.5. Ручки управления калибратором
- •5. Программа работы
- •5.1. Установка исходного состояния осциллографа
- •5.2. Включение осциллографа
- •5.3. Работа с калибратором
- •5.4. Измерения параметров синусоидального напряжения
- •5.5. Измерение параметров импульсного напряжения
- •5.6. Представление результатов
- •Мостовые измерения
- •1. Идея метода
- •1.1. Мост постоянного тока
- •1.2. Мост переменного тока
- •1.2.1. Баланс моста на переменном токе
- •1.2.2. Измерение ёмкостей конденсаторов
- •1.2.3. Измерение индуктивностей катушек
- •2. Оценки точности мостовых измерений
- •2.1. Мост постоянного тока
- •2.2. Мост переменного тока
- •3. Экспериментальная установка
- •4. Программа работы
- •4.1. Измерения сопротивлений резисторов
- •4.2. Измерения ёмкостей конденсаторов
- •4.3. Измерения индуктивностей
- •4.4. Оценки точности измерений
- •4.5. Определение взаимной индуктивности катушек
- •Определение удельного заряда электрона из закона «трёх вторых»
- •1. Введение
- •2. Вольт-амперная характеристика
- •2.1. Плоский диод
- •2.2. Цилиндрический диод
- •3. Экспериментальная установка
- •4. Программа работы
- •4.1. Измерения
- •4.2. Обработка результатов
- •Измерение малых сопротивлений
- •1. Теоретическое введение
- •1.1. Проблема измерения малых сопротивлений
- •1.2. Метод шунта
- •1.3. Простой мост
- •1.4. Метод двойного моста
- •1.5. Оценки точности измерений
- •2. Экспериментальная установка
- •3. Программа работы
- •3.1. Измерения сопротивлений методом шунта
- •3.2. Измерения сопротивлений двойным мостом
- •2.2. Магнитные измерения
- •Магнитное поле земли
- •1. Структура магнитного поля земли
- •2. Установка и метод
- •3. Измерения
- •Измерения баллистическим гальванометром
- •1. Теория баллистического гальванометра
- •1.1. Гальванометры
- •1.2. Устройство баллистического гальванометра
- •1.3. Принцип действия баллистического гальванометра
- •1.4. Принцип измерения ёмкости
- •1.5. Принцип измерения магнитного поля
- •1.6. Принцип измерения взаимной индуктивности
- •2. Лабораторная установка
- •3. Измерения и расчёты
- •3.1. Измерение ёмкости конденсатора
- •3.2. Измерение магнитного поля катушки
- •3.3. Измерение взаимной индуктивности обмоток
- •3.4. Расчёты полей в соленоиде
- •Определение параметров конденсаторов и катушек
- •1. Введение
- •2. Метод
- •2.1. Определение ёмкости конденсатора
- •2.2. Определение индуктивности катушки
- •2.3. Определение взаимной индуктивности катушек
- •3. Лабораторная установка
- •4. Измерения
- •4.1. Измерение ёмкости конденсатора
- •4.2. Измерение индуктивности катушек
- •4.3. Измерение взаимной индуктивности
- •Изучение свойств ферромагнетиков
- •1. Магнитное поле в веществе
- •1.1. Намагничивание вещества
- •1.2. Магнитное поле в веществе и вектор н
- •1.3. Связь между векторами м, в и н
- •1.4. Размерности
- •2. Основные характеристики ферромагнетиков
- •2.1. Кривая намагничивания
- •2.2. Магнитная проницаемость
- •2.3. Гистерезис
- •2.4. Потери энергии при перемагничивании ферромагнетика
- •2.5. Природа ферромагнетизма
- •3. Снятие гистерезисных петель
- •3.1. Метод
- •3.2. Экспериментальная установка
- •3.3. Программа измерений
- •3.4. Обработка результатов
- •Определение удельного заряда электрона методом магнетрона
- •1. Введение
- •2. Идея метода
- •3 . Движение электрона в скрещенных полях
- •3.1. Плоский диод
- •3.2. Цилиндрический диод
- •4. Причины уменьшения точности метода
- •5. Экспериментальная установка
- •6. Программа работы
- •6.1. Измерения
- •6.2. Обработка результатов
- •Эффект холла
- •1. Электрические особенности полупроводников
- •2. Элементарная теория эффекта холла
- •3. Лабораторная установка
- •3.1. Состав лабораторной установки
- •3.2. Гальванометр
- •3.3. Образец
- •3.4. Катушки электромагнита
- •4. Программа измерений
- •4.1. Домашняя подготовка
- •4.2. Измерение удельной проводимости
- •4.3. Измерения эдс Холла
- •5. Обработка и представление результатов
- •Определение ампера
- •1. Теоретические сведения
- •1.1 Определение магнитного поля
- •1.2. Действие магнитного поля на ток (сила Ампера)
- •1.3. Закон Био-Савара
- •1.4. Взаимодействие параллельных проводов с токами.
- •2. Идея метода
- •3. Лабораторная установка
- •4. Программа работы
- •4.1. Измерения
- •4.2. Обработка результатов
Эффект холла
Цель работы – исследование эффекта Холла в полупроводнике, определение концентрации и подвижности свободных носителей заряда.
1. Электрические особенности полупроводников
К полупроводникам относят вещества, которые при Т~20°С имеют удельную проводимость λ в пределах примерно от 10−6 до 10+6 (Ом·м)−1. Вещества, у которых λ>106, считаются проводниками, а у которых λ<10−6 – непроводниками, или диэлектриками).
К проводникам относятся все металлы, их сплавы, электролиты и ионизированный газ (плазма). У них высокая концентрация п свободных носителей заряда. У лучших проводников (Аg, Сu, Аu, Al) концентрация п~1029 (м−3), а проводимость λ~108 (Ом·м)−1.
К полупроводникам относятся некоторые химические элементы (Si, Ge, Se), окислы (Cu2O, SnO), интерметаллические соединения (InSb, AsGa) и другие. Концентрация свободных носителей у полупроводников на несколько порядков меньше, чем у металлов. Так например, при 20°С у очень чистого кристалла германия пGe~1019…1020 (λGe~1), а у чистого кремния пSi~1016…1017 (λSi~10−3).
Однако, различие в проводимости между металлами и полупроводниками не только количественное, оно имеет и качественные стороны:
1. В отличие от металлов, проводимость полупроводников сильно зависит от температуры, причём с ростом температуры она увеличивается примерно по экспоненциальному закону, а у металлов она уменьшается как 1/Т.
2. При добавлении примеси в металл проводимость сплава становится меньше проводимости каждого из компонентов, тогда как при добавлении даже ничтожного количества примеси в чистый полупроводник его проводимость сильно растёт. Так например, если в чистый германий ввести нужную примесь в относительной концентрации 10−6 (это один грамм примеси на тонну германия), то его проводимость возрастает в 1000 раз ! Таким образом, проводимость полупроводника практически полностью определяется концентрацией атомов примеси. В зависимости от характера примеси проводимость полупроводника может быть как п-типа (электронная), так и р-типа (дырочная).
3. Проводимость полупроводника сильно возрастает под влиянием внешнего электрического поля, света, ионизирующих излучений.
Все эти отличия связаны с тем, что проводимость металлов определяется в основном подвижностью μ свободных носителей заряда (электронов), т.е. частотой их соударений с узлами решётки, а проводимость полупроводников – концентрацией п свободных носителей.
Подвижность
μ вводится следующим образом. Так как
плотность тока j=пеυ,
где е
– заряд носителя, υ
–
дрейфовая скорость, а, по закону Ома,
j=λЕ,
то υ=
Е.
Таким образом, скорость υ~Е.
Коэффициент пропорциональности μ между
дрейфовой скоростью υ
и полем Е
в образце
υ=μЕ (1)
и называется подвижностью свободных носителей заряда в веществе. Видно, что
μ= . (2)
Если для полупроводника принять λ~1, п~1019, а для металла λ~108, п~1029, то μмет~0,01μп.п.. Низкая подвижность электронов в металлах объясняется большим числом их соударений с узлами кристаллической решётки. Однако из-за очень высокой концентрации носителей проводимость металлов оказывается всё-таки на несколько порядков больше, чем у полупроводников.