
- •Тема 2. Фундаментальні основи легування напівпровідників
- •Тема 3. Літографія в мікро- і наноелектроніці.
- •Тема 4. Технологічні, схемо технічні і фізичні обмеження на зменшення активних елементів і ріст ступеня інтеграції
- •Тема 10. Фундаментальні явища нанофізики. Квантове обмеження.
- •Тема 11. Транспорт носіїв заряду вздовж потенціальних бар’єрів.
- •Тема 12. Тунелювання носіїв заряду через потенціальні бар’єри.
- •Тема 13. Спін-залежний траспорт носіїв заряду.
Тема 3. Літографія в мікро- і наноелектроніці.
Останні
роки характеризують надзвичайно високими
темпами розвитку мікроелектроніки. Це
зумовлено можливістю послідовного і
безперервного зменшення мінімального
характеристичного розміру елементів
ІМС, який ще називають «технологічним
стандартом» або «критичним розміром»
- Critical
Dimension
(CD).
Протягом усього часу існування і розвитку
мікроелектроніки прогрес зменшення CD
досягався винятково з застосуванням
літографії. Ступінь володіння методами
літограції зумовлює технічний рівень
сучасної електроніки. Завдяки хвильовому
характеру оптичних процесів найважливішою
перевагою технологій літографічного
формування зображень є можливість
одночасного і паралельного перенесення
зображення, що складається з багатьох
мільйонів (чи мільярдів) елементарних
фрагментів. Саме це є основою високої
технічної та економічної ефективності
методу і можливістю досягення рівня
інтеграції
елементів (транзисторів) на чіп. За
рівнем, досягнутим методом зменшення
CD,
літографія подолала розмір в 100 нм і
може називатись нанолітографією, а
мікроелектроніка – наноелектронікою,
хоча основні
принципи мікроелектроніки при цьому
не зазнають змін.
Літографія – технологія нанесення малюнка майбутньої мікросхеми на шар фоторезисту з допомогою літографічних масок. Найважливіша характеристика літографічного процесу є його роздільна здатність. Від неї залежить мінімальна товщина ліній, які можна нанести на фоторезисту.
В сучасному виробництві УВІМС застосовується проекційна літографія, яка забезпечує високу роздільну здатність.
В проекційній літографії використовуються лінзи або дзеркала, що дозволяють проектувати рисунок шаблона із зменшенням масштабу.
Роздільні
здатність проекційної літографії
визначається критерієм Релея:
,
Де
довжина хвилі джерела випромінювання,
числова
апертура об’єктиву, а
коефіцієнт,
який залежить від типу фоторезисту і
самого технологічного процесу. Збільшення
роздільної здатності: 1.зменшення довжини
хвилі або 2.збільшення числової апертури
проекційної установки. Однак, збільшення
числової апертури має негативний
наслідок, оскільки літографічний процес
характеризується і глибиною різкості,
яка:
. Зменшення глибини різкості вимагає
більшої точності розміщення пластини
в проекційній установці, щоб витримати
паралельність її фокальній площині.
Тому, основний спосіб – зменшення λ.
Літографія глибоко УФ діапазону.
В
сучасній літографії використовується
УФ випромінювання лазера з
глибоке УФ випромінювання (Deep
Ultraviolet)
DUV.
Для
покращення роздільної здатності при
використанні УФ
,
застосовують різні технології поліпшення
роздільної здатності, наприклад,
маски-шаблони з фазовим зміщенням, такі
шаблони (по суті – голограми) мають
прозорих ділянках фазовий фільтр, який
зсовує фазу прохідної хвилі на
.
В результаті інтерференції хвиль в
протифазі відбувається взаємне їх
ослаблення в області між двома
експонованими лініями, що покращує
контраст і підвищує роздільну здатність
Технологія
EUV
(Extreme
Ultraviolet)
– наджорсткого УФ випромінюваня з
довжиною хвилі
передбачала
(Intel).
Однак, виникають певні проблеми:
Світло з поглинається всіма матеріалами. Тому в EUV використовують не традиційну пропускну оптику, а повністю відбивну: серія спеціальних опуклих дзеркал, які зменшують і фокусують зображення, отримане після використання маски-шаблону. Шаблони, які традиційно-пропускні, також повинні бути відбиваючими. Крім цього, вся система повинна перебувати у вакуумі, оскільки EUV хвилі поглинаються повітрям.
За такими показниками, як продуктивність, ресурс, відтворюваність, економічність EUV поступається іншим технологіям і не використовується у масовому виробництві.
Літографія
м’якого рентгенівського діапазону
використовує
хвилі з
.
Роздільна здатність підвищується до
стандарту
,
однак існують також проблеми, як у EUV.
Крім цього, виникає необхідність
використання надточної відбиваючої
оптики: допустимі помилки форми дзеркал
не перевищують 0,2 нм, а жорсткість
поверхні – на атомарному рівні.
Використовують багатошарові дзеркала: «лантош-бор», «уран-бор», «молібден-кремній».
Імерсійна літографія – спосіб підвищення роздільної здатності за рахунок заповнення повітряного проміжку між останньою лінзою об’єктиву і плівкою фоторезисту рідиною з показником заломлення n > 1. Сучасні установки використовують в якості рідини високо очищену воду (CD < 45 нм) (IBM – 30 нм) при .
За допомогою імерсійної рідини можна збільшити показник заломлення простору між лінзою і об’єктом, збільшити тим самим апертуру.
Вимоги до імерсійної рідини: високий коефіцієнт заломлення; хімічна інертність до фоторезисту; відсутні температурні флуктуації, які призводять до неоднорідності, і як наслідок, розсіювання випромінювання, високий рівень фільтрації і дегазації (відсутність мікроскопічних бульбашок).