
- •1.Понятие метода и методики анализа. Характеристики методики.
- •2.Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
- •3. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •4. Принцип действия рефрактометра Аббе.
- •5. Принцип действия рефрактометра Пульфриха.
- •6. Рефрактометр автоматический непрерывный.
- •7. Применение рефрактометрии для идентификации в-ва и контроля качества.
- •8. Физ. Основы поляриметрического метода.
- •9. Типы оптической активности.
- •10. Зависимость угла вращения плоскости поляризации от строения в-ва
- •11. Спекрополяриметрический метод.
- •12. Принцип действия кругового поляриметра. Схема прибора.
- •13. Устройство клиновых поляриметров.
- •14. Применение поляриметрии и спектрополяриметрии.
- •15. Физ. Основы нефелометрии и турбидиметрии. Рассеяние и поглощение света.
- •16. Основные требования к химическим реакциям и условия их проведения.
- •17. Приборы нефелометрического анализа.
- •18. Приборы турбидиметрического анализа.
- •19. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •20. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация методов спектрального анализа.
- •21.Физ. Основы спектрального анализа.
- •22. Схемы энергетических переходов в атомах.
- •23. Схемы энергетических переходов в молекулах.
- •24. Способы атомизации вещества и возбуждения атомов в атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •25. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в пламенной атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •26. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в дуговой и искровой атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •27. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой.
- •28. Вид и основные характеристики спектров атомной эмиссии. Зависимость вида спектра от природы элемента и способа его возбуждения.
- •29. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •30. Устройство и принцип действия трехтрубчатого плазмотрона для атомно-эмиссионного анализа с индуктивно-связанной плазмой.
- •31. Способы выделения аналитических спектральных линий элементов из полихроматического излучения анализируемого образца. Схема и принцип действия монохроматора дисперсионного типа.
- •32. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •33. Достоинства и недостатки фотографической регистрации спектров атомной эмиссии.
- •34. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
- •35. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
- •36. Качественная идентификация спектральных линий в спектрах атомной эмиссии.
- •37. Определение интенсивности спектральной линии элемента при фотографической регистрации спектра.
- •38. Полуколичественный метод сравнения в атомно-эмиссионном анализе.
- •39. Полуколичественный метод гомологических пар в атомно-эмиссионном анализе.
- •40. Полуколичественный метод появления и усиления спектральных линий в атомно-эмиссионном анализе. Уравнение Ломакина-Шейбе.
- •42. Метод добавок в количественном атомно-эмиссионном анализе.
- •43. Основы, преимущества и недостатки количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием фотоэлектрического детектирования.
- •44. Аналитические характеристики и применение атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •45. Физические основы рентгеноспектрального анализа.
- •46. Тормозное и характеристическое рентгеновское излучение.
- •47. Схема возбуждения и испускания рентгеновских спектральных линий. Критический край поглощения.
- •48. Система обозначения характеристических рентгеновских спектральных линий. Серии рентгеновских спектральных линий.
- •49. Методы возбуждения рентгеновских спектров. Принцип действия рентгеновской трубки.
- •50. Диспергирующие и детектирующие устройства рентгеновских спектрометров.
- •51 Основы кач-го и кол-го рентгеноспектрального анализа
- •53. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-флуоресцентного анализа.
- •54. Схема проведения рентгено-абсорбционного анализа.
- •55. Физические основы молекулярной спектроскопии поглощения уф- и видимого диапазона.
- •56. Хромофорные и ауксохромные группы. Гипсохромный и батохромный сдвиги. Гипо- и гиперхромный эффекты
- •57. Вид и основные характеристики молекулярных спектров поглощения уф- и видимого диапазона.
- •59. Основные положения количественного фотометрического анализа.
- •60. Типы отклонений закона светопоглощения от линейности и их причины
- •61.Метод Фирордта
- •62. Метод Аллена
- •63. Аналитическое применение фотометрии.
- •64.Физические основы ик-спектроскопии. Типы колебаний в молекулах. Зависимость положения спектральной полосы поглощения от типа колебаний, вида атомов и др. Особенностей строения молекул.
- •65.Скелетные колебания и колебания характеристических групп.
- •66.Типичный вид ик - спектра сложного органического вещества. Основные характеристики ик - спектров.
- •67. Подготовка образцов в ик - спектроскопии.
- •68. Особенности конструкции ик - спектрометров.
- •69 Порядок идентификации веществ по их ик- спектрам.
- •70.Использование ик-спектроскопии для определения молекулярной структуры неизвестного вещества.
- •71. Использование ик - спектроскопии для количественного анализа и анализа смесей веществ.
- •72.Физические основы люминесцентного метода. Виды люминесценции и способы ее возбуждения.
- •73. Флуоресценция и фосфоресценция.
- •74. Схема возбуждения и эмиссии люминесцентного излучения.
- •75. Взаимовязь спектров поглощения и люминесценции. Правило Стокса,закон Стокса-Ломмеля.
- •76. Квантовый и энергетический выходы люминесценции. Закон Вавилова.
- •77. Вид спектров люминесценции и их основные характеристики.
- •78.Зависимость интенсивности люм. От с,т,рН,примесей.
- •79.Гашение флуоресценции.
- •80 Прямой флуоресцентный анализ.
- •81. Косвенный флуоресцентный анализ
- •82. Аппаратура и практическое применение люминесцентного анализа.
- •83. Схема и принцип действия фотометра люминесцентного анализа.
83. Схема и принцип действия фотометра люминесцентного анализа.
Принцип действия фотометра основан на сравнении интенсивности люминесценции растворов, возбуждаемой излучением лампы. В оптической схеме выдел. ветвь а)возбуждающего излучения и б)флуоресцентного излучения – измерительную ветвь. В (а) входят: источник света 1, линза 2 (расходящийся пучок преобраз. в параллельные лучи), сетчатые ослабители 3,4; диафрагма11 (они регулируют интенсивность), избирательные поглотители 5-10. Параллельный пучок лучей с пом. фокусирующей линзы 12 собирается в центре кювет 17 с исследуемым в-вом. Каждая кювета имеет свою светоловушку 15, есть поворотное зеркало 16 (15 и 16 служат для отвода потока возбуждения, прошедшего ч/з кювету, и снижения фоновых помех).
Измерительная ветвь расположена под углом 90˚ к направлению возбуждающего излучения. Для уменьшения рассеяния света перед кюветой на входе и выходе установлены ограничит. диафрагмы 13 и 14. Изображение светящегося объема люминесц. в-ва из центра кюветы передается на входн. щель монохроматора 20. 19 – обтюратор, кот. преобразует непрерывный свет. поток люминесценции в прерывистый, что надо для получения перемен. эл. тока. Поток флуоресц. излучения, пройдя вход. щель 20 и фильтры 21, 22, попадает на поворотн. зеркало 23, направляющий его на объектив 24, кот. направляет полихромат. пучок на диспергирующий элемент монохр-ра – дифракц. решетку 25, где полихромат. излучение разлаг. на составляющие его монохромат компоненты.
Выделение требуемой волны диапазона производ-ся поворотом дифракц. решетки. Выделенное излучение фокусируется объективом 24 и направл. на поворотное зеркало 23 и ч/з выход. щель 26 – на фотоприемник 30.
30