42. Метод добавок в количественном атомно-эмиссионном анализе.

При анализе проб неизвестного состава, исследовании чистых и сверхчистых веществ или при отсутствии материала соответствующей чистоты и невозможности по этой причине приготовить эталоны широко применяется метод добавок.

При анализе по методу добавок пробу обычно переводят в раствор и делят его на несколько частей. Затем в каждую часть добавляют различные, но известные количества определяемого элемента, снимают спектры этих проб и определяют интенсивность спектральных линий. При расчете результатов анализа строят график, основываясь на том, что в области малых концентраций дос­таточно хорошо выполняется линейная зависимость

І_пр./І_осн. = аС

В этом случае, если С_х – неизвестная концентрация, а С_ст. – концентрация введенного стандарта (до6авки), то І_пр./І_осн. = а(С_х. + С_ст.).

С_ст. имеет ряд значений. Обычно С_ст.2 = 2С_ст.1; С_ст.3 = 3С_ст.1 и т. д

Откладывая на графике І_пр./І_осн. как функцию С_ст. получают пря­мую, пересекающую ось ординат при С_ст. = 0. Экстраполяция этой прямой до пересечения с осью абсцисс дает на оси С_ст. отрезок, рав­ный С_х.

Метод добавок очень ценен, т. к. применим, когда неизвестен состав анализируемой пробы. Однако при его применении должны выполняться следующие условия:

• градуировочный график должен быть линейным;

• добавляемый элемент должен находиться в той же химиче­ской форме, что и определяемый элемент (проба);

• добавка должна быть равномерно распределена в пробе.

С_х С_ст.1 С_ст.2 С_ст.3

Метод добавок является надежным контрольным методом для установления правильности анализа.

Если после ана­лиза добавить в пробу известное количество определяемого элемента и анализ повторить, то его результат с учетом возможной погрешно­сти должен дать сумму первоначально найденного содержания и вве­денной добавки. Если сумма не получилась, результат анализа следу­ет признать неверным.

Метод добавок применяется для повышения чувствительности спектральных определений в тех случаях, когда почернение аналитической линии является слишком слабым и не может быть точно измерено. Введение добавки приводит к увеличению ин­тенсивности спектральной линии, позволяя проводить измерение с более высокой точностью.

43. Основы, преимущества и недостатки количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием фотоэлектрического детектирования.

Методы, в которых применяется фотоэлектрическая регистрация интенсивности спектральной линии, являются более экспрессными.

В фотоэлектрических установках свет после диспер­гирующего элемента попадает через специальную щель на фотоэле­мент (фотодиод или ФЭУ), соединенный с устройством усиления и обработки сигнала (накопительным конденсатором) и регистрирую­щим потенциометром. Шкала прибора показывает логарифм относи­тельной интенсивности спектральной линии или непосредственно концентрацию определяемого элемента, в связи с чем фотоэлектриче­ские установки называют приборами прямого счета.

При проведении количественного спектрального анализа с ис­пользованием фотоэлектрического детектирования используют те же зависимости между интенсивностью спектр. линии и концентрацией излуч. атомов, что и при использовании визуальной и фотографиче­ской регистрации.

Преимущества метода:

• высокая экспрессность;

• высокая произво­дительность;

• высокая воспроизводимость резуль­татов.

Преимущества достигаются благодаря тому, что отпадает необходимость в операциях обработки фотопластинок и отсутствуют источники погрешностей, связанные с этими операциями.

Недостатки спектрометрического анализа:

• более высокая стоимость обору­дования;

• сложность эксплуатации спектрометра;

• наличие проблем оптической и электрической стабильности;

• невозможность одновремен­но регистрировать широкую область спектра.

При последовательной регистрации (сканировании) сказываются все нестабильности в работе источника атомизации и возбуждения, которые автоматически исчезают при фотографической регистрации.