
- •Основы электроники Учебное пособие
- •Предисловие
- •Оглавление
- •Введение
- •Полупроводниковые приборы
- •1.1 Электропроводность радиоматериалов
- •1.2 Кристаллическое строение и зонная структура полупроводников
- •1.3 Электропроводность собственных полупроводников
- •1.4 Электропроводность примесных полупроводников
- •1.5 Токи в полупроводниках
- •1.6 Неравновесное состояние полупроводников
- •1.7 Фундаментальная система уравнений для полупроводников
- •1.8 Электронно-дырочные переходы
- •1.9 Полупроводниковые диоды
- •1.11 Полевые транзисторы
- •1.12 Биполярные транзисторы
- •1.13 Свойства и применение транзисторов
- •1.14 Цифровые ключи на транзисторах
- •1.15 Тиристоры
- •1.16 Приборы силовой электроники
- •1.17 Фотоэлектрические и излучающие приборы
- •Контрольные вопросы к разделу 1 Полупроводниковые приборы
- •2 Элементы и узлы аналоговых устройств
- •2.1 Классификация аналоговых устройств
- •2.2 Усилители
- •2.3 Интегральные операционные усилители
- •2.4 Обратная связь в усилителях
- •2.5 Функциональные узлы на основе оу
- •2.6 Электронные регуляторы и аналоговые ключи
- •Контрольные вопросы к разделу 2 Элементы и узлы аналоговых устройств
- •3 Цифровые интегральные микросхемы
- •3.1 Общие сведения
- •3.2 Основы алгебры логики
- •3.3 Параметры цифровых интегральных микросхем
- •3.4 Семейства цифровых имс
- •3.5 Комбинационные устройства
- •3.6 Триггеры
- •3.7 Счетчики
- •3.8 Регистры
- •Контрольные вопросы к разделу 3 Элементы и узлы цифровых устройств
- •4 Микроэлектронные преобразователи сигналов
- •4.1 Классификация преобразователей
- •4.2 Аналоговые перемножители сигналов
- •4.3 Микроэлектронные компараторы и преобразователи уровня
- •4.4 Микроэлектронные выпрямители и стабилизаторы напряжения
- •4.5 Цифро-аналоговые преобразователи
- •4.6 Аналого-цифровые преобразователи
- •4.7 Импульсные и нелинейные устройства
- •Контрольные вопросы к разделу 4 Микроэлектронные преобразователи и генераторы импульсных сигналов
- •5 Большие и сверхбольшие интегральные схемы
- •5.1 Поколения микропроцессоров
- •5.2 Структуры микропроцессоров
- •5.3 Микроэвм
- •5.4 Запоминающие устройства
- •5.5 Оперативные запоминающиеся устройства
- •5.6 Постоянные запоминающие устройства
- •5.7 Репрограммируемые постоянные запоминающие устройства
- •5.8 Цифроаналоговые преобразователи
- •5.9 Аналого-цифровые преобразователи
- •Большие и сверхбольшие интегральные схемы
- •6 Основы наноэлектроники
- •6.1 Физические основы наноэлектроники
- •6.2 Основные способы создания наноструктур
- •6.3 Квантовые наноструктуры: ямы, нити, точки
- •6.4 Нанодиоды
- •6.5 Нанотранзисторы
- •6.6 Оптоэлектронные приборы на наноструктурах
- •6.7 Квантово – точечные клеточные автоматы и беспроводная электронная логика
- •Контрольные вопросы к разделу 6 Основы Наноэлектроники
- •7 Приборы функциональной электроники
- •7.1 Введение в функциональную электронику
- •7.2 Приборы с зарядовой связью
- •7.3 Фотоприемные пзс
- •7.4 Кмоп – фотодиодные сбис
- •7.5 Акустоэлектронные приборы
- •7.6 Магнитоэлектронные приборы
- •Контрольные вопросы к разделу 7 Приборы функциональной электроники
- •Список литературы
- •Приложение a (обязательное) Перечень принятых обозначений
- •Приложение б (обязательное) Перечень принятых сокращений
- •Приложение в Задачи по основным темам курса «Электроника»
7 Приборы функциональной электроники
7.1 Введение в функциональную электронику
Основной тенденцией развития микроэлектроники является повышение степени интеграции элементов. Последние десятилетия характеризуются развитием микроэлектронной элементной базы в соответствии с законом Г.Мура.
Повышение степени интеграции достигается двумя путями: увеличением плотности упаковки элементов и увеличением размеров кристалла. Современные информационные и телекоммуникационные системы непрерывно усложняются и нуждаются в интегральных схемах ультравысокой и гигантской степеней интеграции, (УБИ и ГИС) содержащих 107 109 элементов.
Для характеристики элементов таких ИМС используются субмикронный и нанометровый масштаб измерений. Размеры элементов УБИС и ГИС приближаются к междуатомным расстояниям.
Дальнейшее развитие электроники связано не только с совершенствованием традиционной микросхемотехники, но и с использованием различных физических носителей информации, а также объемных свойств материалов.
Простое количественное наращивание степени интеграции имеет пределы. Качественно новым решением является отказ от традиционных схемных элементов (транзисторов, диодов, резисторов и конденсаторов), и использование объемных эффектов в твердом теле.
Направление, связанное с отказом от компонентной структуры ИМС, и основанное на использовании объемных эффектов, получило название «функциональная электроника».
Изделия, использующие различные физические явления в твердом теле, называются приборами функциональной электроники. К ним относятся приборы с зарядовой связью, акустоэлектронные приборы, магнитоэлектронные приборы и другие.
Принципы действия некоторых перспективных типов приборов функциональной электроники рассматриваются ниже.
7.2 Приборы с зарядовой связью
Первые научные работы о приборах с зарядовой связью (ПЗС) опубликованы в 1970 году. По сути это разновидность приборов со структурой металл-оксид-полупроводник.
Такие приборы содержат последовательную цепочку металлических электродов, отделенную от поверхности тонким слоем диэлектрика. При подаче соответствующего потенциала на тот или иной электрод под ним образуется область, обедненная носителями заряда. Если подложка имеет проводимость n-типа, то при подаче на металлический электрод отрицательного потенциала относительно сплошного нижнего металлического электрода, в приповерхностном слое под ним скапливаются неосновные носители дырки. Дырки скапливаются в образовавшиеся потенциальные ямы, которые называются «карманами».
Для накопления заряда внутри «кармана» необходимо добиться электрическим или оптическим методом повышения концентрации неосновных носителей вблизи этого «кармана» на расстоянии от него не более диффузионной длины.
Этого можно достичь путем введения носителей под металлические электроды инжекцией с электронно-дырочного перехода, либо образованием их при проникновении света в объем полупроводника, через промежутки между металлическими электродами.
Инжекция с перехода требует времени, исчисляемого наносекундами. Она будет зависеть от постоянной времени заряда диффузионной емкости инжектирующего перехода и от времени диффузии носителей от перехода до границы «кармана». Наиболее быстрым процессом может быть инжекция световым зондом. Время образования пары носителей из фотона составляет единицы наносекунд. Если сконцентрировать световой пучок на области «кармана», можно практически исключить наиболее медленный процесс – диффузию носителей от места их возникновения до области поля.
Если напряжения, поданные на соседние электроды ПЗС прибора, различаются по величине, между соседними «карманами» создаются области электрического поля. Направление этого поля будет таким, что неосновные носители будут дрейфовать из более мелкого «кармана» в более «глубокий». Таким образом, можно обеспечить перетекание заряда из одного «кармана» в другой.
Для того чтобы исключить двунаправленность в передаче заряда, используют последовательность электродов, объединенных в группы по три электрода (рисунок 7.1).
Рисунок
7.1 – Трехтактная система переноса
зарядов
Если заряд накоплен под некоторым электродом и необходимо передать его вправо, то на электрод, расположенный справа, подается более высокое напряжение и заряд перетекает к нему. В следующий такт повышенное напряжение подается на следующий электрод, к которому и перетекает заряд. Электроды подсоединены к трем шинам:
- к первой шине – электроды 1, 4, 7, 10 и т. д.
- ко второй шине – электроды 2, 5, 8, 11 и т. д.
- к третьей шине – электроды 3, 6, 9, 12 и т. д.
Допустим, что заряд внесен нами тем или иным способом под электрод 4,находившийся под напряжением «хранения». Для передачи сигнала (пакета заряда) вдоль цепочки электродов подадим повышенное напряжение (назовем его «напряжением приема») на вторую шину. Напряжение приема будет на соседнем с электродом 4 электроде 5. Заряд будет перетекать от электрода 4 к электроду 5. Напряжение приема будет также и на электроде 2, но этот электрод отделен от электрода электродом 3, и поэтому перетекания заряда влево не будет.
Через время, необходимое для полного перетекания заряда из кармана электрода 4 в карман электрода 5, снимем напряжение приема от шины второй и приложим к шине третьей. Теперь напряжение приема будет на электроде 6. Заряд будет перетекать от электрода 5 к электроду 6. В следующий цикл' напряжение приема переносится на первую шину, затем снова на вторую, на третью и т. д. Заряд начинает перемещаться слева направо. В начале цепочки возле электрода 1, может размещаться инжектирующий диод, вводящий заряд в систему. В конце цепочки можно поставить диод с электронно-дырочным переходом, смещенный в обратном направлении. Заряд, инжектированный диодом на входе в «карман» электрода 1 цикл за циклом будет перемещаться от электрода к электроду, пока не достигнет выходного диода. «Впрыскивание» заряда неосновных носителей в запертый диод вызовет толчок тока в его цепи и импульс в нагрузке.
Для ПЗС характерны два режима работы: хранения и передачи информационного заряда. Информационный заряд не может храниться в ПЗС длительное время вследствие процессов термогенерации, которые приводят к накоплению паразитного заряда дырок в инверсном слое и к заполнению потенциальной ямы. В аналоговых устройствах паразитный заряд изменяет величину общего заряда, что приводит к искажению хранимой аналоговой информации.
Максимальное время хранения для современных ПЗС обычно находится в интервале от сотен миллисекунд до десятков секунд.
Важным параметром ПЗС является эффективность переноса зарядов, определяемая отношением величин зарядов в соседних МОП-структурах до и после передачи соответственно. Чем ближе эффективность к единице, тем через большее число структур может быть передана информация. Обычно эффективность переноса заряда составляет от 0,99 до 0,9999.
Время передачи информационного заряда уменьшается с увеличением информационного заряда. Время передачи прямо пропорционально квадрату длины затвора и обратно пропорционально подвижности. Из-за большей подвижности электронов быстродействие n-канальных приборов оказывается в несколько раз выше, чем p-канальных. Максимальная частота работы для современных ПЗС обычно находится в интервале от десятков килогерц до десятков мегагерц.