
- •Регистрация ионизирующего излучения и спектрометрия
- •Глава 1. Основные характеристики детекторов
- •Глава 2. Газовые ионизационные детекторы
- •Глава 3. Полупроводниковые детекторы
- •Глава 4. Сцинтилляционный спектрометр
- •Глава 5. Трековые детекторы
- •Глава 6. Счетчики черенкова
- •Глава 7. Магнитные спектрометры заряженных частиц
- •Глава 8. Кристалл-дифракционные спектрометры
- •Глава 9. Связь между характеристиками поля излучения и показаниями детектора
- •Рассмотрим несколько примеров.
- •Глава 10. Гамма-спектрометрия
- •Глава 11. Спектрометрия заряженных частиц
- •Глава 12. Спектрометрия нейтронов
- •Содержание
- •Глава 1. Основные характеристики детекторов 2
- •Глава 2. Газовые ионизационные детекторы 10
- •Глава 3. Полупроводниковые детекторы 47
- •Глава 8. Кристалл-дифракционные спектрометры 144
- •Глава 9. Связь между характеристиками поля излучения и показаниями детектора 148
- •Глава 10. Гамма-спектрометрия 152
- •Глава 11. Спектрометрия заряженных частиц 189
- •Глава 12. Спектрометрия нейтронов 201
Глава 8. Кристалл-дифракционные спектрометры 144
Теория кристалл-дифракционных спектрометров 145
Глава 9. Связь между характеристиками поля излучения и показаниями детектора 148
Рассмотрим несколько примеров. 150
Глава 10. Гамма-спектрометрия 152
Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания 153
Измерение по продуктам фотоядерных реакций 155
Сцинтилляционный метод 157
Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры 157
Многокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры 162
Магнитные гамма-спектрометры 170
Комптоновские магнитные спектрометры 170
Парный магнитный спектрометр 175
Кристалл-дифракционная гамма-спектрометрия. 176
Спектрометр с плоским кристаллом 176
Спектрометры с изогнутым кристаллом 180
Дифракционные спектрометры с двумя плоскими кристаллами 183
Полупроводниковая гамма-спектрометрия 185
Глава 11. Спектрометрия заряженных частиц 189
Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации 190
Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков 192
Измерение энергии тяжелых заряженных частиц 192
Измерение энергии электронов 194
Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров 197
Магнитные спектрометры для - и -спектрометрии 198
Глава 12. Спектрометрия нейтронов 201
Грубые методы оценки энергетических распределений нейтронов 201
Метод фильтров 201
Метод резонансных индикаторов 203
Метод пороговых индикаторов 205
Метод ядер отдачи 207
Дифференциальные методы измерений 208
Интегральные методы измерений 210
Метод ядерных реакций 213
Общая схема метода 213
Выбор рабочих веществ 214
Метод времени пролета 217
Принципиальные основы метода 217
Энергетическое разрешение 219
Интенсивность счета нейтронов 220
Критерии для сравнения качества установок, работающих по методу времени пролета 220
Установки, работающие по методу времени пролета 221
тепловые нейтроны 221
Механический селектор 221
Механический монохроматор 224
Промежуточные нейтроны 226
Быстрый селектор 226
Спектрометры промежуточных нейтронов с импульсными ускорителями 227
Детекторы при измерениях с промежуточными нейтронами 227
Быстрые нейтроны 229
Использование естественной модуляции пучка циклотрона 229
Импульсные электростатические генераторы 230
Регистрация нейтронов 233
Установки для измерения реакторных спектров 233
Реактор с импульсным источником нейтронов 234
Импульсные реакторы 234
Спектрометр по длине замедления 236
Кристаллические спектрометры 239
Дифракционное отражение нейтронов кристаллами 239
Поликристаллические фильтры 241
Кристаллический монохроматор 241
1 Эффективная пороговая энергия получена применительно к нейтронам спектра деления