- •Глава 2. Статистика электронов и дырок в полупроводниках в условиях термодинамического равновесия
- •2.1. Плотность квантовых состояний.
- •3. Третий случай соответствует эллипсоидальным изоэнергетическим поверхностям.
- •2.2. Функции распределения частиц. Функция Ферми-Дирака
- •2.3. Степень заполнения примесных уровней
- •2.4. Концентрация электронов и дырок
- •2.5. Собственные и примесные полупроводники
- •2.5.1. Закон действующих масс (основное уравнение полупроводника)
- •2.5.2. Собственный полупроводник: концентрация носителей заряда и положение уровня Ферми
- •Положение уровня Ферми находится из соотношения
- •2.6. Зависимость уровня Ферми от концентрации примесей и температуры для невырожденного полупроводника
- •2.7. Зависимость положения уровня Ферми от температуры для невырожденного полупроводника с частично компенсированной примесью
2.4. Концентрация электронов и дырок
Если известны плотность состояний N(E) и вероятность заполнения состояния с энергией Е, то число электронов с энергией в интервале dE, приходящихся на единицу объема будет равна:
dn=F(E)N(E)dE (2.47)
Соответственно полное число электронов, для которых возможный интервал энергий лежит в пределах от E1 до E2 будет определяться интегралом:
(2.48)
Интегрирование нужно проводить от дна зоны проводимости EC до ее потолка. Если учесть резкую зависимость F(E) от энергии, то верхний предел интегрирования можно положить равным бесконечности.
В результате для равновесной концентрации электронов будем иметь:
=
(2.49)
Введем безразмерные величины:
и
(2.50)
Величину называют приведенным уровнем Ферми. Величина - приведенная энергия. Равенство (2.49) преобразуем к виду:
n0==
(2.51)
Здесь F1/2 - интеграл Ферми-Дирака порядка ½ (рис. 2.6), NC - эффективная плотность состояний в зоне проводимости:
(2.52)
Nc=
(2.52а)
Эффективная плотность состояний NC зависит от температуры. Подставив константы получим:
Nc=4.82*1015
=
Аналогично находим концентрацию дырок, приняв во внимание, что вероятность возникновения вакантного уровня в валентной зоне равна 1-F(Е). Интегрирование следует проводить в пределах от - до Ev. p0= Обозначим
где Ec-Ev=Eg -ширина запрещенной зоны. С учетом (2.53) и (2.54) выражение для концентрации дырок примет вид: |
|
Рис. 2.6. Зависимость интеграла Ферми-Дирака F1/2 от положения уровня Ферми. |
(2.55)
где:
=
- (2.56)
есть интеграл Ферми для валентной зоны.
Nv=
- (2.56а)
эффективная плотность состояний в валентной зоне.
Для того чтобы рассчитать равновесные концентрации электронов n0 и дырок p0 необходимо рассчитать значения интеграла Ферми-Дирака (2.52) и (2.56), что представляет значительные трудности для всего диапазона положения уровня Ферми в зонах η. Аналитические решения для интеграла Ферми-Дирака существуют только для крайних случаев – невырожденного и сильно-вырожденного полупроводника.
Рассмотрим три случая.
Первый соответствует невырожденному примесному полупроводнику (рис. 2.7, область A, рис. 2.8).
Принято считать, что полупроводник не вырожден, если:
или
(2.57)
Это
означает, что в невырожденном донорном
полупроводнике уровень Ферми лежит
ниже дна зоны проводимости по крайней
мере на несколько кТ.
В этом случае для электронов, находящихся
в зоне проводимости и обладающих
энергией
,
в функции распределения Ферми-Дирака
экспоненциальный член будет намного
больше единицы, поэтому
(2.58)
Таким образом, в невырожденном полупроводнике носители заряда подчиняются статистике Больцмана. В соответствии с этим интеграл Ферми запишется в виде:
(2.59)
Равновесные концентрации электронов n0 и дырок p0 для случая невырожденного полупроводника соответственно равны (рис. 2.7 (А), рис. 2.8):
(2.60)
(2.61)
Физический смысл параметров Nc и Nv – плотность состояний в зоне проводимости и валентной зоне. Формулы для Nc и Nv определяют пределы заполнения энергетических уровней вблизи дна зоны проводимости и валентной зоны.
Зная концентрацию свободных носителей заряда можно оценить положение уровня Ферми в запрещенной зоне. Для полупроводника n-типа проводимости при комнатной температуре эту зависимость можно записать в виде:
(2.61а)
|
||
|
-1<η<5
|
|
Рис. 2.7. Зависимость концентрации электронов проводимости n0 от положения приведенного уровня Ферми.
|
||
|
||
Рис. 2.8. Зонная диаграмма, плотность состояний, распределение Ферми-Дирака и концентрация носителей заряда в собственном (а), донорном (б) и акцепторном (в) полупроводниках при термодинамическом равновесии. |
||
Если уровень Ферми совпадает с дном зоны проводимости (т.е. EF=EC), тогда из формулы 2.60 следует, что no=NC. Т.е. при легировании полупроводника донорной примесью до концентрации no ~ NC - уровень Ферми приближается к краю запрещенной зоны (аналогично – для легирования акцепторной примесью). Полупроводник является вырожденным, если уровень Ферми расположен вблизи границ разрешенной зоны (в интервале ± несколько kT от EC или EV) .
В Si при Т=300 К: Nc=2.8*1019cm-3 Nv=1019cm-3
Второй случай - сильно вырожденный примесный полупроводник (рис. 2.7, область C, рис.2.9.
Донорный полупроводник считается сильно вырожденным при:
(2.62)
т.е. когда уровень Ферми расположен в зоне проводимости по крайней мере на 5кТ выше Еc. Условие (2.62) действует и при очень низкой температуре. Если kT 0, то η0 ∞ (здесь η0 – приведенный уровень Ферми при нулевой температуре). В этом случае в выражении (2.52) знаменатель = 1, а бесконечный верхний предел интегрирования можно заменить η0. Тогда равновесная концентрация электронов в сильно вырожденном донорном полупроводнике будет равна:
(2.63)
При этом концентрация дырок в сильно-вырожденном полупроводнике n-типа проводимости задается формулой (2.61)!!!
Зная концентрацию свободных носителей заряда можно определить положение уровня Ферми:
(2.63а)
Равновесная концентрация дырок в сильно вырожденном акцепторном полупроводнике запишется следующим образом:
,
(2.64)
При этом концентрация электронов находится из соотношения (2.60).
Из равенств (2.63) и (2.64) следует, что концентрация свободных носителей заряда в сильно вырожденном полупроводнике не зависит от температуры. Она определяется положением уровня Ферми и величиной эффективной массы. При этом, чем меньше эффективная масса носителей заряда, тем соответственно и меньше их концентрация, при которой наступает вырождение.
E
EF EC ED Eg EV |
E
N(E)
N(E) |
EF EC
EV F(E)
|
E
EF EC
EV n0; p0
|
Рис. 2.9. Зонная диаграмма, плотность состояний, распределение Ферми-Дирака и концентрация носителей заряда в сильно-вырожденном полупроводнике n-типа проводимости при термодинамическом равновесии.
Третий случай – вырожденный полупроводник (рис. 2.7, область В).
При
расположении уровня Ферми вблизи границы
зон (зона проводимости/запрещенная
зона) -1<η<5,
точного (аналитического) выражения для
интеграла Ферми-Дирака не существует.
В этом случае используют либо табулированные
(численно-рассчитанные) значения
интеграла Ферми-Дирака, либо применяют
полуэмпирические формулы, например, в
виде
.
Тогда зависимость n0
в зоне проводимости от положения уровня
Ферми может быть представлена как:
(2.65)
Вместе с тем, расчет концентрации носителей по формуле (2.65) может давать существенную погрешность, поэтому на практике, как правило, используют специальные таблицы интегралов Ферми-Дирака. Зависимость интеграла Ферми-Дирака F1/2 от η при расположении уровня Ферми вблизи зоны проводимости в интервале EC ± 6 kT представлена на рис. 2.6.

E