
- •Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •Основы визуального органолептического анализа.
- •Основы обонятельного анализа.
- •Основы вкусового анализа.
- •Основы осязательного анализа.
- •Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •Оценка сенсорной чувствительности.
- •10.Метод предпочтения.
- •11.Методы сравнения
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •12 Методы балльной оценки.
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •21. Оптически активные вещества.
- •Характеристика оав
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •24.Сущность нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •Принцип работы.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр.Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен.И количествен. Люминесцентный анализ.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •54Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •62.Фотометрия пламени.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •75,Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •93,94. Качественный и количественный термический анализ. Определение чистоты хим. Веществ методом дта (дифференциальный термический анализ).
- •98. Сенсоры на основе мдп-структур
- •99.Тепловые сенсоры. Термокаталитические сенсоры
26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
Эти анализы используют для исследования процессов, в основе кот.химические реакции, сопровождающ. образованием твердых продуктов.
Химические реакции должны соответствовать след.требованиям:
1. получаемые осадки должны быть практически не растворимы;
2. осадки должны быть в виде взвесей с воспроизводимым размером частиц, оптическими свойствами.
3. взвеси должны быть стойкими во времени, т.е. не должны оседать в теч. достаточно длительного времени.
Нефелометрич-е и турбидиметрич-е измерения применяются в решении аналитических задач, когда вещества нельзя определить фотометрическими методами. Но они менее точны, чем фотометрические методы.
Часто турбидиметр. методы использ. для титрования. В этом случае турбидиметр использ. в качестве индикаторного прибора. С его помощью устанавливается точка эквивалентности. По мере титрования, кот.сопровождается образованием осадка в виде устойчивой взвеси, светопоглощение взвеси увеличивается. А после окончания образования твердых частиц за точкой эквивалентности, светопоглощение остается постоянным. И точка изгиба зависимости светового потока от объема титрования соответствует т.э.
27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
Для проведения ФН анализа применяют ФН-ры . Схема простейшего 1-лучего ФН-ра:
1- лампа; 2- светофильтр; 3- диафрагма; 4- кювета с анализир. раств.; 5- фотоэлемент; 6 – микроамперметр; 7- ловушка света.
Принцип работы.
Световой поток от лампы 1проходит через светофильтр 2, диафрагму 3, поступает в кювету 4, в кот находится анализир. вещ. Световой поток, прошедший через кювету, гасится в ловушке 7, а отраженный свет-поток поступает в фотоэлемент 5.
В фотоэлементе образуется эл. ток, кот.измеряется с помощью микроамперметра 6, и кот. зависит от интенсивности светового отраж. света.
Т.о. по величине силы тока определяют интенсивность светового потока, а азтем конц. твердых частиц в суспензии.
Применение методов: эти методы применяются в лабор. пищевых предприятий, для определения хлоридов, сульфатов в воде, а так же для определения тяжелых металлов.
28. Основы спектроскопии.
Метод основан на взаимодействия электромагнитного излучения с веществом, кот.приводит к возникновению в вещ. различных энергетических переходов: электронных, колебательных, вращательных, переходов связанных с изменением направления магнитного момента электронов и ядер.
Электромагнитное излучение представляет собой вид энергии, кот.распределяется в вакууме со скоростью 300 тыс. Км в сек. и кот. выступает в форме света, теплового и УФ излучения в микро- и радиоволн, гамма и рентгеновских лучей.
Свойства эл.маг. излучения иногда удобнее описывать исходя из его волновой структуры, а иногда из корпускулярной природы.
С волновой точки зрения, как классическая импульсная волна, основными эл.маг. характеристиками явл.:
1) длина волны (м), характер-т наименьшее расстояние между точками синусоидальной волны частиц, колеб-ся в одинаковой фазе.
2)
частота
колебаний (с)
– это число колебаний в сек.
3)
волновое
число (
)-
величина, обратная длине волны.
4)
энергия
колебаний
где
- постоянна Планка