- •Оптоелектроніка
- •10. В. Аркуша, д-р фіз.-мат. Наук., проф. Кафедри фізичної та напівпровідникової електроніки хну ім. В. Н. Каразіна;
- •3. Приймачі випромінювання
- •5. Елементи інтегральної оптики
- •Перелік скорочень
- •Види й параметри оптичного випромінювання
- •Випромінювачі та їх характеристики
- •Історичні відомості
- •Принцип дії
- •Використання гетероструктур
- •Побудова світлодіодів
- •Характеристики свд
- •Особливості роботи напівпровідникових лазерів
- •Основні типи сучасних напівпровідникових лазерів
- •Відмінності напівпровідникових лазерів
- •Експлуатаційні проблеми напівпровідникових лазерів та шляхи їх подолання
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Види керування
- •Електрооптичні модулятори
- •Електрооптичні ефекти
- •Побудова і параметри електрооптичного модулятора
- •Магнітооптичні модулятори
- •Акустооптичні пристрої
- •Використання ефекту Франца — Келдиша та термооптичних явищ
- •Керування просторовими характеристиками світлового променя
- •Керовані транспаранти
- •Загальні відомості
- •Транспаранти з керуванням електронним пучком
- •Акустооптичні пристрої
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Взаємодія випромінювання з речовиною
- •Принцип дії фотоприймачів
- •Фотопровідність
- •Класифікація й характеристики фотоприймачів
- •Фоторезистори
- •3.4. Фотодіоди
- •Принцип дії фотодіодів, характеристики, параметри
- •3.4.2. Різновиди фотодіодів. Конструкції
- •Фототранзистори, фототиристори
- •Багатоелементні фотоприймачі
- •Технологія фотоприймачів
- •Застосування фотоприймачів. Оптичний прийомний модуль
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Загальні відомості про індикаторні прилади
- •Особливості людського зору
- •Фізичні ефекти, використовувані в індикаторах
- •Класифікація індикаторів
- •Газорозрядні індикатори
- •Вакуумні індикатори
- •Люмінесцентні та розжарювальні індикатори
- •Автоемісійні дисплеї
- •Електролюмінесцентні й напівпровідникові індикатори
- •Електролюмінесцентні індикатори
- •— Скляна підкладка;
- •— Прозорий електрод;
- •Напівпровідникові індикатори
- •Органічні й полімерні дисплеї
- •Рідкокристалічні індикатори
- •Спеціалізовані індикатори
- •Електрохромиі індикатори
- •Електрохімічні індикатори
- •Сегнетоелектричні індикатори
- •Хемілюмінесцентні індикатори
- •Перспективи й напрямки розвитку індикаторів
- •Контрольні запитання
- •10. Як працюють тонкоплівкові електролюмінесцентні індикатори?
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Розв’язання
- •Пасивні елементи
- •Активні елементи
- •Рие. 5.8. Акустооптичний керуючий пристрій: 1 — п’єзокристал;
- •— Хвилевід; 5 — підкладка
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •6.1. Оптрони
- •Елементарний оптрон
- •Різновиди оптронів. Оптоелектронні імс
- •Конструктивне виконання оптронів
- •Оптоелектронні перетворювачі світла й зображень
- •Логічні елементи на основі оптронів
- •Системи зберігання й обробки інформації
- •Оптичні запам’ятовувальні пристрої. Методи запису інформації
- •Голографічні запам’ятовувальні пристрої
- •Оптичні системи обробки інформації
- •Світловод — основний елемент оптичної системи передачі інформації
- •Ряс. 6.20. Метод подвійного тигля
- •Оптичні системи зв’язку. Класифікація. Схеми. Особливості
- •Склад й елемента системи зв’язку
- •З’єднання волоконних світловодів
- •6.3.5. Джерела випромінювання та фотоприймачі
- •Датчики й інтерферометри
- •Системи реєстрації іонізуючих випромінювань
- •Загальні вимоги
- •Мі, цгце’
- •Конструкції детекторів
- •Застосування детекторів іонізуючого випромінювання
- •Детектори з поверхнево-інтегрованими фоточутливими структурами
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Перелік посилань
Основні типи сучасних напівпровідникових лазерів
Інжекційні
лазери на гомопереходах (рис. 1.8)
були створені на основі ОаАБ, однак їхні
параметри виявилися незадовільними:
вони потребували високої граничної
щільності струму, низької робочої
температури (досить глибоке охолодження
рідким повітрям), внаслідок цього
мали низький ККД та короткий термін
експлуатації.
Використання гетеро- структур значно поліпшило умови генерації когерентного випромінювання. Недоліки, властиві гомогенним структурам, були подолані, що дало змогу експериментально підтвердити переваги НЛ. У гетеролазері немає необхідності легувати напівпровідник до виродження — умова (1.12) виконується за рахунок різних розмірів Wg2 і Wg1 , а висока концентрація носіїв заряду в середній області може бути досягнута завдяки властивії?: гетероструктурам концентрації носіїв у вузько- зонній області та запобіганню іх розтікання. При цьому є можливість знизити рівень легування, що відповідно зменшує кількість порушень ґратки та центрів безвипромінювальної рекомбінації. Суттєво зростає й ефективність генерації світла.
Характер інжекції, властивий гетеропереходам, веде до того, що всі носії заряду зосереджуються в активній середній області, їхнє проникнення в широкозонні емітери мізерне. Гетеролазер, особливо з двома гетероструктурами, діє як хвилевод, що концентрує світлові хвилі та не дає їм поширюватися за межі середнього шару, оптично більш щільного, ніж сусідні.
Зважуючи на наведене можемо зробити висновок, що в інжекційному гетеролазері (на відміну від НЛ на гомогенному напівпровіднику) області інверсії населеності, рекомбінації носіїв заряду й поширення світлового випромінювання практично збігаються й зосереджені в активному середньому шарі. Гранічна щільність струму зменшується до 1 кА/м2 і менше (в лазерах на квантових ямах), ККД зростає до 50 % і вище, відпадає необхідність в охолодженні.
Лазер з подвійною гетероструктурою (ПГС-лазер) і з полозковою геометрією електрода (рис. 1.9) являє собою поширену конструкцію НЛ. Теоретичні й експериментальні дослідження подвійних і одинарних гетероструктур (наприклад, n-GаАs-р-GаАs-р+ - GаАlАs ) привели до висновку, що гранична щільність струму пропорційна товщині активного шару: Jгp = ζh , причому для ДГС-лазерів на основі GаАs-СаАlАs при кімнатній температурі ζ < 1 кА/см2 · мкм.
Якщо зневажити деяким зниженням Jгр при зменшенні lр , то легко одержати
іпор = ζ·d·lp·р = ζ·Va (1.18)
таким чином, граничний струм генерації пропорційний об’єму активної речовини Vа . Величина iгр дуже різко зростає у разі підвищення температури: iгр - ехр(Т/Т0) (іноді використовують iгр ~ Тт, де т = 2 ... 3). Перехід від азотної температури до кімнатної веде до збільшення ігр в 5 ... 20 разів.
При зменшенні товщини активної області до значень h, порівнянних з λ /2 (тут ураховується довжина хвилі випромінювання
Рис.
1.9. Лазер з подвійною гетероструктурою
(ПГС-лазер): а
— побудова; б
— зонна діаграма у стані прямого
зміщення з напругою U;
в
— розподіл потужності випромінювання
усередині напівпровідника, значення якої приблизно в 3 рази менше, ніж у повітрі), різко зростає роль дифракційних явищ, і хвилеводні властивості активної області погіршуються: значна частина світлової енергії даремно витрачається в пасивних областях, кутова розбіжність променю при виході з торця кристала виявляється неприйнятно великою.
Суперечливі вимоги до товщини активної області вдається частково обійти при створенні структур, що містять ще більшу, ніж у ДГС-лазері, кількість шарів, що дозволяють просторово розділити генерацію й каналізацію світла. Так, у п’ятишаровому лазері тонкий (-0,2 мкм) центральний шар виконує електронні функції (нагромадження й рекомбінацію носіїв заряду), а світловодом є три внутрішніх шари. При спробі знизити величину Jгр зменшенням ширин и активної області стає істотним розтікання струму й інжекційних носіїв у бічні області. Для ослаблення цього ефекту розроблено конструкцію ПГС-лазерів із зарощеною структурою, в якій активна речовина не з двох, а з чотирьох сторін оточена широко- зонним напівпровідником. При площі поперечного перерізу випромінювальної області, що дорівнює 1 х 1 мкм , отримані рекордно малі значення граничного струму (~15 мА). На жаль, технологія
Рис.
1.10. Напівпровідниковий
РЗЗ-лазер
Зменшення вихідної апертури не може здійснюватися безмежно, тому що при цьому падає потужність випромінювання й збільшується кутова розбіжність променю. Звичайні лазери з резонатором Фабрі — Перо випромінюють зазвичай декілька типів коливань (мод), зміна температури призводить до перескоку на інший тип коливань, вихідна потужність не перевищує 100 мВт.
Нові можливості для подолання цих труднощів відкривають лазери з розподіленим зворотним зв’язком (РЗЗ-лазери) та. лазери з розподіленими бреггівськими відбивачами (РБВ-лазер). В РЗЗ-лазері замість резонатора Фабрі — Перо використовується бреггів- ська ґратка, яка являє собою періодичну послідовність оптичних неоднорідностей (наприклад, зони легування). Ґратка розміщена безпосередньо в активній зоні випромінювання (рис. 1.10). В РБВ-лазері дві бреггівські ґратки розміщують у хвилеводах, які розташовані поряд з активною зоною в якості відбиваючих дзеркал. Ці лазери широко використовуються в волоконних лініях зв’язку, є основними елементами оптичних інтегральних схем (див. розділ 5).
Рис.
1.11. Конструкція УЄСЕЬ-лазера
Перехід до нанорозмі- рів у конструкції НЛ призводить до суттєвого підвищення ефективності роботи, хоча й потребує значного ускладнення технології та підвищення якості матеріалів. Структури на основі квантових ям та надґраток поступово отримують усе більшу популярність.
Сучасні дослідження й розробки концентруються на вдосконаленні інжекційних лазерів на гетеропереходах, у тому числі на складних системах з декількома гетеропереходами, РЗЗ-, РБВ-, VCSEL – лазерів, випромінювачів з використанням надґраток і квантових ям. В імпульсних режимах НЛ досягаються потужності 10...100 Вт, у безперервних — сотні міліват.
