Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Оптоелектроніка 1.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
08.01.2020
Размер:
12.11 Mб
Скачать
  1. Характеристики свд

Фотометричні й електротехнічні параметри й характеристики СВД:

  • сила світла І (або світловий потік Ф, яскравість В);

  • потужність випромінювання Р для інфрачервоних СВД (при заданому прямому струмі);

  • колір світіння й довжина хвилі випромінювання λmax;

  • напівширина спектра Δλ;

  • часи перемикання ­tвмик, tвимк або пов’язана з ними гранична частота /гр;

  • робочий струм і і напруга U;

  • граничний струм і ;

  • яскравісна характеристика В = B(і);

  • вольтамперна характеристика і = i(U);

  • діаграма спрямованості Рвипр(Θ).

Для реальних приладів характерний такий порядок величин: І = 0,001...100 кд (Ф = 10-4... 10 лм), В = 10...106 кд/м2, Рвипр= 10 ... 10 мВт, робочий струм 10... 500 мА, напруга 2...5 В.

Основною характеристикою інжекційного світлодіода є яскра­вісна. Зазвичай вона має нелінійну початкову і майже лінійну ос­новну ділянку, довжина якої визначається зміною яскравості на виході діода в межах одного-двох порядків. Лінійна ділянка вико­ристовується як робоча. Яскравісна характеристика має вигляд:

B = B0(ig - i*), (1.16)

де В0, i* — сталі.

Параметр i* відповідає граничному значенню струму через діод, при якому вже можлива лінеаризація залежності у B(ig ). Для кім­натних температур значення i* перебуває в межах від 0, 1 ... 0,5 до 1 ... 2, 5 мА й залежить від тину діода, параметрів напівпровідника, температури.

Діапазон значень В0 має порівняно великий розкид від діода до діода того самого типу й становить 2 ... 20 кд/(м2 мА).

Для світлодіодів на основі GaAs, GaAlAs, GaAs напівширина спектра випромінювання Δλ= 40 ... 100 нм, причому зі збільшенням температури значення Δλ росте за лінійним законом зі швидкістю

Потужність випромінювання падає зі збільшенням температу­ри. Характерно, що при зростанні температури від -60 до +70 °С потужність випромінювання зменшується в 2—3 рази.

Залежність Рвицр від щільності прямого струму Jnp лінійна, аж до Jnр = 102... 103 А/см. Виключення становлять GaP — світло-діоди, у яких ця лінійність зберігається до 10 А/см.

З часом характеристики світлодіодів змінюються (знижується потужність випромінювання, зростає пороговий струм). Інтенсив­на експлуатація зменшує робочий термін до 103... 104 год, проте, якщо додержуватись певних вимог до джерел живлення та керу­вання, термін життя цих приладів може бути досить високий (по- над 105 год). Це явище — деградація (поступове зменшення потужності випромінювання при тривалому пропусканні через прилад прямого струму) — властиве всім напівпровідниковим при­ладам, але для випромінювальних структур має особливе значен­ня. Причинами деградації, крім поверхневих ефектів, є:

  • збільшення концентрації центрів безвипромінювальної ре­комбінації, викликане міграцією в електричному полі доміш- кових атомів Сu, Аu, Ni;

  • дезактивізація частини випромінювальних центрів (2n) за ра­хунок їхнього переходу з вузлів ґратки в міжвузловину.

  1. Лазери

  1. Особливості роботи напівпровідникових лазерів

Завдяки високій монохроматичності випромінювання лазери є основою когерентної оптоелектроніки.

Напівпровідникові лазери (НЛ) характеризуються тим, що в них дискретні енергетичні рівні через високу щільність активних часток перетворюються в широкі зони. Тому ККД напівпровід­никових лазерів теоретично близький до 100 %. Однак з цієї самої причини напівпровідникові лазери за ступенем монохроматич­ності випромінювання поступаються газовим, рідинним і твердо- тільним.

Інверсія населеностей у напівпровіднику полягає в тому, що на дні зони провідності й стелі валентної зони утвориться велике число відповідно вільних електронів і дірок. Накачування здійс­нюється струмом великої щільності (104...106 А/см2) через р-п-перехід. Вимушене випромінювання відбувається при переході електронів із зони провідності на вільні рівні валентної зони. При цьому відбувається рекомбінація дірок і електронів і зовнішнє випромінювання з довжиною хвилі, що відповідає різниці енергій переходу.

У силу технологічних особливостей, компактності, високій ефективності й сумісності з мікроелектронними компонентами напівпровідникові лазери є практично єдиним типом лазерів (за деякими винятками), що застосовується в оптоелектроніці.

Інжекційні лазери на гомо- і гетеропереходах за конструкцією нагадують світлодіоди. Інверсія иаселеноетей енергетичних рівнів може бути досягнута шляхом інжекції носіїв заряду через р-п-пе­рехід. Для випромінювання, що генерується прямозошшм напів­провідником, повинна виконуватися умова - Wg тому необхід­но, щоб електрони, що інжектуються, одержували достатні порції енергії, тобто напруга, прикладена до робочого переходу, повинна перевищувати добуток енергії фотона (чи ширини забороненої зони) на заряд електрона [1]:

(1.17)

де — прикладена до р-п-переходу пряма напруга. Умова (1.17) потребує використання настільки сильно легованих напівпровід­ників (так званих «вироджених»), що в них рівень Фермі розташо­вується в зоні провідності й у валентній зоні для п- і p-областей кристала відповідно (рис. 1.7, а).

Для виготовлення оптичного резонатора в напівпровідникових лазерах традиційні методи не підходять. Оптичні дзеркала несумісні з напівпровідниковим кристалом ані за розміром, ані за складом. Тому застосовують дзеркальні відколи граней кристала, які перпендикулярні площині р-п-переходу. При пропущеній че­рез р-п-перехід досить великого прямого струму може виникнути когерентне випромінювання.