
- •Оптоелектроніка
- •10. В. Аркуша, д-р фіз.-мат. Наук., проф. Кафедри фізичної та напівпровідникової електроніки хну ім. В. Н. Каразіна;
- •3. Приймачі випромінювання
- •5. Елементи інтегральної оптики
- •Перелік скорочень
- •Види й параметри оптичного випромінювання
- •Випромінювачі та їх характеристики
- •Історичні відомості
- •Принцип дії
- •Використання гетероструктур
- •Побудова світлодіодів
- •Характеристики свд
- •Особливості роботи напівпровідникових лазерів
- •Основні типи сучасних напівпровідникових лазерів
- •Відмінності напівпровідникових лазерів
- •Експлуатаційні проблеми напівпровідникових лазерів та шляхи їх подолання
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Види керування
- •Електрооптичні модулятори
- •Електрооптичні ефекти
- •Побудова і параметри електрооптичного модулятора
- •Магнітооптичні модулятори
- •Акустооптичні пристрої
- •Використання ефекту Франца — Келдиша та термооптичних явищ
- •Керування просторовими характеристиками світлового променя
- •Керовані транспаранти
- •Загальні відомості
- •Транспаранти з керуванням електронним пучком
- •Акустооптичні пристрої
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Взаємодія випромінювання з речовиною
- •Принцип дії фотоприймачів
- •Фотопровідність
- •Класифікація й характеристики фотоприймачів
- •Фоторезистори
- •3.4. Фотодіоди
- •Принцип дії фотодіодів, характеристики, параметри
- •3.4.2. Різновиди фотодіодів. Конструкції
- •Фототранзистори, фототиристори
- •Багатоелементні фотоприймачі
- •Технологія фотоприймачів
- •Застосування фотоприймачів. Оптичний прийомний модуль
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Загальні відомості про індикаторні прилади
- •Особливості людського зору
- •Фізичні ефекти, використовувані в індикаторах
- •Класифікація індикаторів
- •Газорозрядні індикатори
- •Вакуумні індикатори
- •Люмінесцентні та розжарювальні індикатори
- •Автоемісійні дисплеї
- •Електролюмінесцентні й напівпровідникові індикатори
- •Електролюмінесцентні індикатори
- •— Скляна підкладка;
- •— Прозорий електрод;
- •Напівпровідникові індикатори
- •Органічні й полімерні дисплеї
- •Рідкокристалічні індикатори
- •Спеціалізовані індикатори
- •Електрохромиі індикатори
- •Електрохімічні індикатори
- •Сегнетоелектричні індикатори
- •Хемілюмінесцентні індикатори
- •Перспективи й напрямки розвитку індикаторів
- •Контрольні запитання
- •10. Як працюють тонкоплівкові електролюмінесцентні індикатори?
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Розв’язання
- •Пасивні елементи
- •Активні елементи
- •Рие. 5.8. Акустооптичний керуючий пристрій: 1 — п’єзокристал;
- •— Хвилевід; 5 — підкладка
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •6.1. Оптрони
- •Елементарний оптрон
- •Різновиди оптронів. Оптоелектронні імс
- •Конструктивне виконання оптронів
- •Оптоелектронні перетворювачі світла й зображень
- •Логічні елементи на основі оптронів
- •Системи зберігання й обробки інформації
- •Оптичні запам’ятовувальні пристрої. Методи запису інформації
- •Голографічні запам’ятовувальні пристрої
- •Оптичні системи обробки інформації
- •Світловод — основний елемент оптичної системи передачі інформації
- •Ряс. 6.20. Метод подвійного тигля
- •Оптичні системи зв’язку. Класифікація. Схеми. Особливості
- •Склад й елемента системи зв’язку
- •З’єднання волоконних світловодів
- •6.3.5. Джерела випромінювання та фотоприймачі
- •Датчики й інтерферометри
- •Системи реєстрації іонізуючих випромінювань
- •Загальні вимоги
- •Мі, цгце’
- •Конструкції детекторів
- •Застосування детекторів іонізуючого випромінювання
- •Детектори з поверхнево-інтегрованими фоточутливими структурами
- •Контрольні запитання
- •Приклади аудиторних і домашніх завдань
- •Перелік посилань
Характеристики свд
Фотометричні й електротехнічні параметри й характеристики СВД:
сила світла І (або світловий потік Ф, яскравість В);
потужність випромінювання Р для інфрачервоних СВД (при заданому прямому струмі);
колір світіння й довжина хвилі випромінювання λmax;
напівширина спектра Δλ;
часи перемикання tвмик, tвимк або пов’язана з ними гранична частота /гр;
робочий струм і і напруга U;
граничний струм і ;
яскравісна характеристика В = B(і);
вольтамперна характеристика і = i(U);
діаграма спрямованості Рвипр(Θ).
Для реальних приладів характерний такий порядок величин: І = 0,001...100 кд (Ф = 10-4... 10 лм), В = 10...106 кд/м2, Рвипр= 10 ... 10 мВт, робочий струм 10... 500 мА, напруга 2...5 В.
Основною характеристикою інжекційного світлодіода є яскравісна. Зазвичай вона має нелінійну початкову і майже лінійну основну ділянку, довжина якої визначається зміною яскравості на виході діода в межах одного-двох порядків. Лінійна ділянка використовується як робоча. Яскравісна характеристика має вигляд:
B = B0(ig - i*), (1.16)
де В0, i* — сталі.
Параметр i* відповідає граничному значенню струму через діод, при якому вже можлива лінеаризація залежності у B(ig ). Для кімнатних температур значення i* перебуває в межах від 0, 1 ... 0,5 до 1 ... 2, 5 мА й залежить від тину діода, параметрів напівпровідника, температури.
Діапазон значень В0 має порівняно великий розкид від діода до діода того самого типу й становить 2 ... 20 кд/(м2 мА).
Для світлодіодів на основі GaAs, GaAlAs, GaAs напівширина спектра випромінювання Δλ= 40 ... 100 нм, причому зі збільшенням температури значення Δλ росте за лінійним законом зі швидкістю
Потужність випромінювання падає зі збільшенням температури. Характерно, що при зростанні температури від -60 до +70 °С потужність випромінювання зменшується в 2—3 рази.
Залежність Рвицр від щільності прямого струму Jnp лінійна, аж до Jnр = 102... 103 А/см. Виключення становлять GaP — світло-діоди, у яких ця лінійність зберігається до 10 А/см.
З часом характеристики світлодіодів змінюються (знижується потужність випромінювання, зростає пороговий струм). Інтенсивна експлуатація зменшує робочий термін до 103... 104 год, проте, якщо додержуватись певних вимог до джерел живлення та керування, термін життя цих приладів може бути досить високий (по- над 105 год). Це явище — деградація (поступове зменшення потужності випромінювання при тривалому пропусканні через прилад прямого струму) — властиве всім напівпровідниковим приладам, але для випромінювальних структур має особливе значення. Причинами деградації, крім поверхневих ефектів, є:
збільшення концентрації центрів безвипромінювальної рекомбінації, викликане міграцією в електричному полі доміш- кових атомів Сu, Аu, Ni;
дезактивізація частини випромінювальних центрів (2n) за рахунок їхнього переходу з вузлів ґратки в міжвузловину.
Лазери
Особливості роботи напівпровідникових лазерів
Завдяки високій монохроматичності випромінювання лазери є основою когерентної оптоелектроніки.
Напівпровідникові лазери (НЛ) характеризуються тим, що в них дискретні енергетичні рівні через високу щільність активних часток перетворюються в широкі зони. Тому ККД напівпровідникових лазерів теоретично близький до 100 %. Однак з цієї самої причини напівпровідникові лазери за ступенем монохроматичності випромінювання поступаються газовим, рідинним і твердо- тільним.
Інверсія населеностей у напівпровіднику полягає в тому, що на дні зони провідності й стелі валентної зони утвориться велике число відповідно вільних електронів і дірок. Накачування здійснюється струмом великої щільності (104...106 А/см2) через р-п-перехід. Вимушене випромінювання відбувається при переході електронів із зони провідності на вільні рівні валентної зони. При цьому відбувається рекомбінація дірок і електронів і зовнішнє випромінювання з довжиною хвилі, що відповідає різниці енергій переходу.
У силу технологічних особливостей, компактності, високій ефективності й сумісності з мікроелектронними компонентами напівпровідникові лазери є практично єдиним типом лазерів (за деякими винятками), що застосовується в оптоелектроніці.
Інжекційні лазери на гомо- і гетеропереходах за конструкцією нагадують світлодіоди. Інверсія иаселеноетей енергетичних рівнів може бути досягнута шляхом інжекції носіїв заряду через р-п-перехід. Для випромінювання, що генерується прямозошшм напівпровідником, повинна виконуватися умова hλ - Wg тому необхідно, щоб електрони, що інжектуються, одержували достатні порції енергії, тобто напруга, прикладена до робочого переходу, повинна перевищувати добуток енергії фотона (чи ширини забороненої зони) на заряд електрона [1]:
(1.17)
де
— прикладена до р-п-переходу
пряма напруга. Умова (1.17) потребує
використання настільки сильно легованих
напівпровідників (так званих
«вироджених»), що в них рівень Фермі
розташовується в зоні провідності
й у валентній зоні для п-
і p-областей
кристала відповідно (рис. 1.7, а).
Для виготовлення оптичного резонатора в напівпровідникових лазерах традиційні методи не підходять. Оптичні дзеркала несумісні з напівпровідниковим кристалом ані за розміром, ані за складом. Тому застосовують дзеркальні відколи граней кристала, які перпендикулярні площині р-п-переходу. При пропущеній через р-п-перехід досить великого прямого струму може виникнути когерентне випромінювання.