
- •2.1 Общие вопросы применения микропроцессоров в измерительной технике
- •2. Улучшение метрологических характеристик приборов
- •4. Принципы автокалибровки
- •5. Целесообразность применения микропроцессоров
- •6. Причины, сдерживающие применение микропроцессоров
- •Архитектура измерительных систем с мп и микроЭвм
- •Подсистема ввода-вывода.
- •Контроллер периферийных событий.
- •Общие сведения
- •Сопряжение ацп с микропроцессором
- •Микропроцессорный время - импульсный вольтметр Первоначальный вариант вольтметра.
- •Лекция 5 Интеллектуальные измерительные и функциональные генераторы
- •5.1 Современная технология построения измерительных и функциональных генераторов
- •5.2 Формирователи синусоидальных сигналов из треугольного
- •5.3 Микросхема функционального генератора мах
- •(Вид сверху)
- •5.4 Функциональные генераторы и частотомеры фирмы Wavetek Meterman
- •5.5 Функциональные генераторы и частотомеры фирмы метех
- •5.6 Программа стыковки приборов метех с компьютером
- •Универсальный мультиметр комплексов
- •Лекция 6 Интеллектуальные портативные цифровые осциллографы
- •Миниатюрные осциллографы объединения актаком
- •Портативные осциллографы фирмы Flulke
- •Скопметры Fluke 105b/99b/96b/92b
- •Графические мультиметры-осцйллографы фирмы веетесн
- •Портативный осциллограф hps40
- •Панельный осциллограф vps10
- •Малогабаритный цифровой осциллограф aps 320
- •Портативный осциллограф-мультиметр dmm-740
- •Портативные осциллографы корпорации Tektronix Серия осциллографов Tektronix ths700
- •Серия осциллографов Tektronix tps2012/2014/2024
- •Портативные осциллографов Tektronix tps2012/2014/2024 с Цифровым люминофором
- •Цифровые осциллографы — ноутбуки фирмы Hitachi
- •Лекция 7
- •7.1 Назначение виртуальных осциллографов и их типы
- •7.2 Виртуальные осциллографы в виде плат расширения пк
- •7.3 Анализатор спектра виртуального осциллографа фирмы
- •7.5 Виртуальные функциональные генераторы фирмы Velleman Функциональные измерительные генераторы
- •Виртуальные функциональные генераторы фирмы Velleman
- •7.6 Создание компьютеризированной лаборатории pc-Lab 2000
- •8.1 Измерительная система и развертывание лаборатории
- •8.2 Автоматические измерения и определяемые параметры сигналов
- •8.3 Предоставление результатов измерений
- •8.4 Настройка графиков
- •8.5 Просмотр табличных данных
- •8.7 Универсальная система сбора данных edx-100a
- •9.1 Интеллектуальные средства измерения магнитных параметров материалов
- •9.2 Интеллектуальные средства измерения линейных и угловых размеров
- •Электромеханический метод
- •Интерферометрический метод
- •9.3. Интеллектуальные средства измерения
- •Характеристики измеряемой величины, классификация методов измерений
- •9.4 Интеллектуальные средства измерения концентрации вещества
9.2 Интеллектуальные средства измерения линейных и угловых размеров
Характеристики измеряемых величин, классификация методов измерений
Измерения линейных и угловых размеров весьма распространены, широко применяются в машиностроении, геодезии, в военном деле, космонавтике, астрономии и т. д. Например, в машиностроении они составляют 80%, от всех производимых измерений. Широкое распространение измерений линейных и угловых размеров обусловлено также тем, что наиболее используемые методы измерений ряда физических величин, таких, как механическое напряжение, сила, момент, давление, параметры движения, основаны на промежуточном преобразовании этих величин в угловое или линейное перемещение и измерении этих перемещений. Кроме того, выходной величиной всех аналоговых измерительных приборов является угловое и линейное перемещение указателя показывающего или регистрирующего устройства и погрешность определения этого перемещения — одна из составляющих основной погрешности прибора.
Современная практика требует измерения линейных размеров в очень широком диапазоне (10-15—1023 м). Угловые размеры чаще всего ограничены полной окружностью, и требуемый диапазон их измерений составляет 0,0001"—360° (или 2π радиан). Нижний предел измерений линейных размеров 10-15 м соответствует размерам микрочастиц (радиусы атомных ядер лежат в пределах 10-15—6·10-15 м) и длинам волн рентгеновского и гамма-излучений.
Относительная нестабильность длины волны лучших лазеров не менее 10-11, а возможная для измерения доля интерференционной полосы составляет 10-9, что в видимой области спектра ( λ = 3 • 10 -7 м) соответствует нижнему теоретическому пределу измерения длины 3·10-27 м. Однако из-за тепловых флюктуации, дробового эффекта, квантовых пределов малых перемещений и других помех нижний предел измеряемых длин в настоящее время составляет 10-12 м, а угловых размеров — 0,0001". Верхний предел измерения длины определяется размерами галактик, которые предположительно составляют 20—200 млрд. световых лет (2-1026—2·1027 м).
Наиболее часто встречающиеся задачи измерений линейных и угловых размеров можно разделить на следующие группы:
воспроизведение и измерение сверхмалых длин и перемещении (менее 10-10 м), которые необходимо выполнять при создании эталонных мер единицы длины с относительной погрешностью менее 10-6, при измерении толщин мономолекулярных пленок, при создании средств измерений очень малых сил (10 -12 Н и менее), при которых надо регистрировать смещения порядка 10-18 м, при детектировании гравитационных волн, исследовании структуры вещества и микрочастиц, определении межатомных расстояний в совершенных монокристаллах, при точном определении числа Авогадро и других экспериментальных исследованиях;
измерение линейных размеров в диапазоне от 0,01мкм до нескольких десятков метров и угловых размеров от 0,1" до 360°, которые имеют место в машиностроении и приборостроении. Наиболее часто встречающиеся задачи этой группы — измерение параметров шероховатости, являющейся модификацией длины; измерение отклонения размера детали от заданного значения; измерение диаметров отверстий, параметров зубчатых передач, толщины деталей и изделий, в том числе при одностороннем доступе, например измерение толщины различных антикоррозийных покрытий. В связи с развитием микроэлектронной элементной базы возникают сложные задачи измерения толщины покрытий и микропленок из полупроводниковых, изоляционных и проводящих материалов, а также толщины многослойных изделий и структур в диапазоне 2-10 -9—10 -5 м;
измерение размеров от тысячных долей до сотен метров при определении уровней жидких и сыпучих веществ в различных резервуарах и скважинах, уровня горючего в баках различных транспортных средств, разности уровней верхнего и нижнего бьефов плотины, в строительстве, в геодезии и т. д.;
определение координат объектов и расстояний между объектами, в том числе и космическими, которые лежат в пределах от долей микрометра до многих миллиардов километров и более.
Измерение линейных и угловых размеров обычно связано с определением координат границ раздела отдельных объектов, веществ, сред и фаз, отличающихся по каким-либо параметрам. Поэтому многие методы и средства измерений размеров основаны на использовании различных свойств сред или объектов, образующих границы измеряемого размера.
Основные электрические методы и соответствующие средства измерений линейных и угловых размеров в зависимости от наличия или отсутствия механического контакта между объектом и средством измерений разделяются на контактные и неконтактные. В зависимости от принципа измерительного преобразования методы делятся на электромеханические, электрофизические и спектрометрические (волновые).
Электромеханические методы в зависимости от используемого вида первичного преобразователя разделяются на резистивные, индуктивные, емкостные, оптоэлектронные, обкатывания и т. д. Электрофизические методы в зависимости от используемого физического свойства вещества или явления делятся на электро-кондуктометрические, теплокондуктометрические, магнитные, емкостные, электромагнитные, многопараметрические и т. д.
Спектрометрические (волновые) методы и соответствующие средства Измерений, с одной стороны, классифицируются в зависимости от длины волны используемого излучения на звуковые, ультразвуковые, радиоволновые, СВЧ, оптические (лазерные), рентгеновские, радиоактивные. С другой стороны, в зависимости от используемого явления или комбинаций явлений спектрометрические методы разделяются на локационные, интерферометрические, рефрактометрические, голографические, доплеровские и др.При наименовании метода или соответствующего средства измерений обычно указываются два или несколько признаков, например рентгеновский интерферометр, лазерный рефрактометр и т. д. По назначению рассматриваемые средства измерений разделяются на микрометры, миниметры, толщиномеры, профилометры, уровнемеры, глубиномеры, путемеры, угломеры, гониометры и т. д.