- •Обоснование и выбор типовых конструктивно-технологических решений.
- •Исходные данные и основные соотношения.
- •Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
- •Определение конструктивных параметров микросборок.
- •Определение конструктивных параметров аппаратуры.
- •Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
- •Конструктивные параметры аппаратуры.
- •Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
- •Количество типов микросхем.
- •Распределение блоков по типам.
- •Распределение микросхем по типам.
- •Определение параметров надёжности аппаратуры.
- •Интенсивность отказов микросхем.
- •Интенсивность отказов аппаратуры.
- •Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
- •Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
- •Число профилактических осмотров.
- •Комплект зип.
- •Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
- •Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
- •Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.
- •Затраты на разработку и производство.
- •Затраты на разработку и производство субблоков.
- •Затраты на разработку и производство аппаратуры.
- •Затраты на эксплуатацию аппаратуры.
- •Расчёт интегрального показателя качества аппаратуры и выбор её оптимального конструктивно-технологического решения.
- •Закючение.
- •Графоаналитическое решение уравнения.
- •Ориентировочная стоимость производства одного эквивалентного вентиля гибридной толстопленочной микросхемы.
Определение параметров надёжности аппаратуры.
Интенсивность отказов микросхем.
В данной курсовой работе пункт 5.1. не считается. Интенсивность отказов гибридных микросхем определяем по справочнику [4]:
Интенсивность отказов аппаратуры.
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяем по формуле:
где: λс.ш – интенсивность отказов схем широкого применения ([4]);
λс.с – интенсивность отказов микросборок ([4]);
λ1К.П – интенсивность отказов паяного контакта ([4]);
ММ.С – количество задействованных выводов микросхемы (для J1 и J2 = 8 [2]).
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления определим по формуле:
, где: К1 = 3.
для J1: |
для J2: |
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода определим по формуле:
, где: К1 = 3.
для J1: |
для J2: |
Количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве определим по формуле:
, где: К1 = 3.
для J1: |
для J2: |
Интенсивность отказов кассеты устройства управления определим по формуле:
для J1: |
для J2: |
Интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода определим по формуле:
для J1: |
для J2: |
Интенсивность отказов кассеты арифметического устройства определим по формуле:
для J1: |
для J2: |
Определим количество внешних выводов аппаратуры:
Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции определим по формуле:
где: λ1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма ([4]).
для J1: |
для J2: |
Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определим по формуле:
для J1: |
для J2: |
Интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции определим по формуле:
для J1: |
для J2: |
Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур определим по формуле:
где: Кэ – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определим по формуле:
где: КМ – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (КМ = 1,0 Приложение 2);
КВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (КВЛ = 1,0 Приложение 2);
КД – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (КД = 1,14 Приложение 2).
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Среднее время безотказной работы аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |