- •Обоснование и выбор типовых конструктивно-технологических решений.
- •Исходные данные и основные соотношения.
- •Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
- •Определение конструктивных параметров микросборок.
- •Определение конструктивных параметров аппаратуры.
- •Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
- •Конструктивные параметры аппаратуры.
- •Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
- •Количество типов микросхем.
- •Распределение блоков по типам.
- •Распределение микросхем по типам.
- •Определение параметров надёжности аппаратуры.
- •Интенсивность отказов микросхем.
- •Интенсивность отказов аппаратуры.
- •Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
- •Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
- •Число профилактических осмотров.
- •Комплект зип.
- •Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
- •Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
- •Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.
- •Затраты на разработку и производство.
- •Затраты на разработку и производство субблоков.
- •Затраты на разработку и производство аппаратуры.
- •Затраты на эксплуатацию аппаратуры.
- •Расчёт интегрального показателя качества аппаратуры и выбор её оптимального конструктивно-технологического решения.
- •Закючение.
- •Графоаналитическое решение уравнения.
- •Ориентировочная стоимость производства одного эквивалентного вентиля гибридной толстопленочной микросхемы.
Определим мощность, потребляемую блоком от источника питания (Pв – можно принять равной минимальной потребляемой мощности для транзистора [5]):
для J1:
для J2:
Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
Количество типов микросхем.
Определим количество типов микросхем широкого применения и микросборок:
для J1:
для J2:
Определим количество типов микросхем широкого применения:
для J1: | |
для J2: |
где: ξ1 – коэффициент пропорциональности типов схем широкого применения, учитывающий класс аппаратуры. Принимаем ξ1 = 0,6.
Определим количество типов микросборок:
для J1:
для J2:
Определим ориентировочное количество микросхем широкого применения в разрабатываемой аппаратуре:
для J1: | |
для J2: |
где: ξ2 – коэффициент пропорциональности схем широкого применения, учитывающий класс аппаратуры. Принимаем ξ2 = 0,4.
Определим ориентировочное количество микросборок в разрабатываемой аппаратуре:
для J1:
для J2:
Распределение блоков по типам.
Определим количество неповторяющихся субблоков части блока неоднородной структуры:
для J1 и J2: |
Так как , то все субблоки являются неповторяющимися и их количество принимаем равным.
Определяем число типов субблоков аппаратуры для неповторяющихся субблоков:
для J1 и J2:
Распределение микросхем по типам.
Ориентировочное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяем по формуле:
(для неповторяющихся субблоков γj = 1)
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Ориентировочное количество микросборок в субблоке j-го типа определим по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Уточненное количество микросборок в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Уточненное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Уточненное количество микросхем широкого применения в блоке:
для J1:
для J2:
Уточненное количество микросборок в блоке:
для J1:
для J2:
Ориентировочное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: | ||
|
| ||
|
|
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: | ||
|
| ||
|
|
для устройства управления:
для J1: |
для J2: | ||
|
| ||
|
|
Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок i-го типа в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Уточненное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа, за исключением микросхем Nт.с-го типа, определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: | ||
|
| ||
|
|
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: | ||
|
| ||
|
|
для устройства управления:
для J1: |
для J2: | ||
|
| ||
|
|
Уточненное количество микросборок определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Количество микросборок всех типов во всех субблоках записываем в табличной форме:
для J1:
j |
Nс.с.i.j | ||||||||||
1 |
12 |
12 |
12 |
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
|
|
3 |
|
|
|
|
|
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
12 |
для J2:
j |
Nс.с.i.j | |||||||||||
1 |
7 |
7 |
7 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
|
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |
7 |