- •Обоснование и выбор типовых конструктивно-технологических решений.
- •Исходные данные и основные соотношения.
- •Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
- •Определение конструктивных параметров микросборок.
- •Определение конструктивных параметров аппаратуры.
- •Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
- •Конструктивные параметры аппаратуры.
- •Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
- •Количество типов микросхем.
- •Распределение блоков по типам.
- •Распределение микросхем по типам.
- •Определение параметров надёжности аппаратуры.
- •Интенсивность отказов микросхем.
- •Интенсивность отказов аппаратуры.
- •Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
- •Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
- •Число профилактических осмотров.
- •Комплект зип.
- •Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
- •Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
- •Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.
- •Затраты на разработку и производство.
- •Затраты на разработку и производство субблоков.
- •Затраты на разработку и производство аппаратуры.
- •Затраты на эксплуатацию аппаратуры.
- •Расчёт интегрального показателя качества аппаратуры и выбор её оптимального конструктивно-технологического решения.
Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
Число профилактических осмотров.
Т.к. аппаратура эксплуатируется в течение части суток, и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величину среднего времени между отказами аппаратуры определяем путем решения уравнения:
где: ТПР – время профилактического осмотра.
Это уравнение решаем графоаналитически (Приложение 2), путем нахождения общей точки кривых Т1 и Т2 – Т3, описываемых формулами:
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Время назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Время наработки между двумя профилактическими осмотрами определим по формуле:
, где ТПР = 2.
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Комплект зип.
Типовыми элементами замены (ТЭЗ) аппаратуры являются:
для варианта разъёмной конструкции – субблок,
для варианта кассетной конструкции – кассета,
для варианта книжной конструкции – блок.
Количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определяется в два этапа:
а) определим количество ЭВ, необходимое для замены:
для устройства ввода-вывода:
для J1 и J2: |
для арифметического устройства:
для J1 и J2: |
для устройства управления:
для J1 и J2: |
б) количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определим по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1 и J2: |
для арифметического устройства:
для J1 и J2: |
для устройства управления:
для J1 и J2: |
Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
Количество ТЭЗ, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: |
для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: |
для J2: |
Распределение по типам субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров, для варианта разъёмной конструкции аппаратуры определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков j-го типа, заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
где: א – число допустимых замен микросхем в субблоке (א = 3).
для устройства ввода-вывода:
для J1: |
для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: |
для J2: |
для устройства управления:
для J1: |
для J2: |
Количество кассет устройства управления, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество кассет устройства управления, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков j-го типа в устройстве управления аппаратуры варианта кассетной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество кассет устройства ввода-вывода, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество кассет устройства ввода-вывода, заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков в устройстве ввода-вывода аппаратуры варианта кассетной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество кассет арифметического устройства, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество кассет арифметического устройства, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта кассетной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков аппаратуры варианта книжной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков j-го типа устройства управления аппаратуры варианта книжной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков устройства ввода-вывода аппаратуры варианта книжной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |
Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта книжной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: |
для J2: |