- •Обоснование и выбор типовых конструктивно-технологических решений.
- •Исходные данные и основные соотношения.
- •Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
- •Определение конструктивных параметров микросборок.
- •Определение конструктивных параметров аппаратуры.
- •Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
- •Конструктивные параметры аппаратуры.
- •Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
- •Количество типов микросхем.
- •Распределение блоков по типам.
- •Распределение микросхем по типам.
- •Определение параметров надёжности аппаратуры.
- •Интенсивность отказов микросхем.
- •Интенсивность отказов аппаратуры.
- •Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
- •Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
- •Число профилактических осмотров.
- •Комплект зип.
- •Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
- •Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
- •Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.
- •Затраты на разработку и производство.
- •Затраты на разработку и производство субблоков.
- •Затраты на разработку и производство аппаратуры.
- •Затраты на эксплуатацию аппаратуры.
- •Расчёт интегрального показателя качества аппаратуры и выбор её оптимального конструктивно-технологического решения.
Совокупность значений интегральных показателей качества аппаратуры для различных уровней интеграции применяемых микросхем графически интерполируется функцией цели. На одном чертеже строится семейство кривых функций цели для различных конструкций аппаратуры и для различных технологий изготовления микросхем. Максимум верхней кривой семейства кривых функций цели соответствует оптимальному уровню интеграции применяемых в разрабатываемой аппаратуре микросхем.
Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
Блок-схема алгоритма расчёта интегрального показателя качества аппаратуры приведена на черт.1.
Значения и варианты исходных данных для расчёта интегрального показателя качества аппаратуры формируются на основе набора исходных данных алгоритма.
По значениям и вариантам исходных данных расчёта определяются конструктивные параметры микросборок.
Исходя из значений и вариантов исходных данных расчёта, с учётом конструктивных параметров микросборок, производится расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные устройства типа устройства управления, устройства ввода-вывода информации, арифметического устройства и так далее.
Используя показатели технической сложности крупных функционально законченных устройств, производят расчленение устройств на субблоки.
Определение конструктивных параметров субблоков и проверочный расчёт конструкции аппаратуры. При отрицательном результате проверочного расчёта необходимо вернуться к п.1.2.4.
По конструктивным и электрическим параметрам аппаратуры производится проверочный расчёт теплового режима блока и выбирается способ его охлаждения.
Если проверочные расчёты дают положительный ответ, то, на основе результатов расчленения крупных функционально законченных устройств на субблоки, производится структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем. В результате структурного анализа определяется число микросхем широкого применения и микросборок в каждом субблоке.
По результатам структурного анализа аппаратуры и данным о надёжности микросхем определяется надёжность субблоков.
Исходя из данных о надёжности субблоков, определяется надёжность аппаратуры.
Используя данные о надёжности аппаратуры, определяются характеристики стратегии её эксплуатации: число профилактических осмотров, число замен субблоков при профилактических осмотрах, число полных замен аппаратуры в течение времени ее эксплуатации.
Структурный состав аппаратуры на уровне микросхем, надёжность субблоков и характеристики стратегии эксплуатации используются для определения количества микросхем и субблоков, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
Блок-схема алгоритма расчета интегрального показателя качества аппаратуры
Черт.1
В соответствии с количеством микросхем и субблоков, необходимых для эксплуатации аппаратуры, определяются затраты на разработку и производство этой аппаратуры.
По конструктивным параметрам аппаратуры определяются затраты на эксплуатацию аппаратуры определенной массы и объёма.
На основании структурного анализа аппаратуры на уровне микросхем определяются затраты на эксплуатацию источников питания.
Исходя из затрат на разработку и производство аппаратуры, затрат на эксплуатацию аппаратуры определенной массы и объёма, затрат на эксплуатацию источника питания определяется интегральный показатель качества аппаратуры на микросхемах.
Результаты расчётов интерполируются функцией цели, максимум которой позволяет произвести выбор оптимального варианта аппаратуры.