
- •Введение 3.
- •Часть I. Теоретическая часть 5.
- •Часть II. Расчет ширины p-n-перехода 30.
- •Введение.
- •Часть I. Теоретическая часть.
- •1.1 Понятие о p-n переходе.
- •1.2 Структура p-n-перехода.
- •1.3 Методы создания p-n-переходов.
- •1.3.1 Точечные переходы.
- •1.3.2 Сплавные переходы.
- •1.3.3 Диффузионные переходы.
- •1.3.4 Эпитаксиальные переходы.
- •1.4 Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии.
- •1.5 Токи через p-n-переход в равновесном состоянии.
- •1.6 Методика расчета параметров p-n-перехода.
- •1.7. Расчет параметров ступенчатого p-n-перехода.
- •Часть II. Расчет ширины p-n-перехода.
- •Изготовление диффузионным методом
- •Заключение
- •Приложение.
- •Библиографический список использованной литературы.
1.3 Методы создания p-n-переходов.
Электронно-дырочные переходы в зависимости от технологии изготовления разделяются на точечные, сплавные, диффузионные, эпитаксиальные, планарные и другие.
1.3.1 Точечные переходы.
1.3.2 Сплавные переходы.
О
бычно
получают выплавлением примеси в
монокристалл полупроводника (рис. 1.5.).
Монокристалл, например, германия n-типа
распиливают на пластины толщиной 200-400
мкм и затем после травления и полировки
разрезают на кристаллы площадью в
два-три миллиметра и больше. На кристаллы,
помещенные в графитовые кассеты,
накладывают таблетку акцепторного
материала, чаще всего индия. Затем
кассета помещается в вакуумную печь, в
которой таблетка индия и слой германия
под ней расплавляются. Нагрев прекращается
и при охлаждении германий кристаллизуется,
образуя под слоем индия слой p-типа.
Застывшая часть индия представляет
собой омический (невыпрямляющий) контакт,
на нижнюю часть пластины наносят слой
олова, который служит омическим контактом
к германию n-типа.
К индию и олову припаивают выводы обычно
из никелевой проволочки.
Иногда, для образования омического контакта с областью n-типа, на неё напыляют сплав Au-Sb, содержащий примерно 0,17% сурьмы, и вплавляют его при температуре 40°С.
1.3.3 Диффузионные переходы.
Диффузионные переходы получают диффузией примесного вещества в исходную полупроводниковую пластинку (рис. 1.6.). Это один из наиболее широко используемых методов получения p-n-перехода, он имеет несколько разновидностей.
При планарном методе диффузии переходы получают, используя изолирующий слой, препятствующий диффузии примесей. На поверхности кремния n-типа выращивается тонкий (около 3 мкм) слой двуокиси кремния SiO2 (рис. 1.6.). Фотолитографическим методом в определенных местах окисла получают «окна», через которые диффундирующие примеси проникают в n-слой, образуя переход.
Методы диффузии обеспечивают получение плавных p-n переходов и используются при изготовлении интегральных микросхем.