4. Оформление отчета

Отчет должен содержать; а) формулировку цели работы; б) схему сварки расщепленным электродом; в) таблицы измерений; г) значения P_opt , U_opt и T для оптимального режима сварки; д) выводы по работе.

6. Контрольные вопросы

1. Каковы особенности получения микросоединений?

2. Какие методы получения микросоединений используются в микроэлектронике?

3. В чем сущность метода сварки расщепленным электродом?

4. Каков характер зависимости прочности микросоединения от напряжения сварочного импульса и давления электрода и почему?

5. Какие параметры микросоединений контролируются и какими методами?

6. В чем сущность метода ультразвуковой сварки?

7. В чем сущность метода термокомпрессионной сварки?

8. В чем сущность метода сварки V-образным электродом?

9. В чем сущность получения микросоединений методом пайки?

ПРИЛОЖЕНИЕ

Статистическая обработка экспериментального материала

Полную характеристику случайной величины x дает функция ее распределения, устанавливающая связь между значением x и вероятностью его появления p(x). Для того чтобы найти закон распределения случайной величины необходимо построить гистограмму и сравнить полученные экспериментальные данные с предполагаемым теоретическим законом (например, по критерию Пирсона).

Для построения гистограммы:

1. Формируем упорядоченный (ранжированный) ряд, располагая измеренные значения x₁, x₂ ,…x_i …x_{n ,} где n – общее число измерений, в возрастающем порядке в виде ряда от x_min до x_max.

2. Выбираем число интервалов k по эмпирической формуле

k = 1 + 3,2lg n,

где n – общее число измерений,

и ширину интервала

Δx = R / k = (x _max - x _min ) / k,

где R = x _max - x _min - рассеяние случайной величины.

3. По упорядоченному ряду определяем число n_i значений x , попавших в данный интервал (значения, находящиеся на границе интервала, разнести по 0,5 в каждый из смежных интервалов), рассчитываем относительную частоту для каждого из интервалов по формуле: p_i = n_i / n и значение x для i-го интервала: x _i^* = (x _i-1 + x _i) / 2. Все результаты заносим в таблицу.

i	xi	xi-1	x i*	ni	pi
1
2
…
…
…
k
∑				n	1,0

4. Строим гистограмму по результатам таблицы: по оси абсцисс откладываем интервалы и на каждом из интервалов, как на основании, строим прямоугольник, площадь которого равна p_i, при этом высота прямоугольника должна быть равна частоте, деленной на ширину интервала.

5. Определяем статистические характеристики.

Математическое ожидание определяется по формуле

.

Среднее квадратическое отклонение определяется по формуле

.

6. Дифференциальная форма нормального закона распределения (закона Гаусса) имеет вид

,

где f(x) – плотность вероятности.

Интегральная форма нормального закона имеет вид

m[x] характеризует положение величины x, а σ[x] - ее рассеяние.

В интервал 2δ = σ попадает 0,68269 площади или 68% значений случайной величины,

2δ = 2σ попадает 0,95450 площади или 95% ,

2δ = 3σ попадает 0,99730 площади или 99,7% всех значений.

Библиографический список

1. Адлер Ю.П. Планирование эксперимента при поиске оптимальных условий. М.: Наука, 1976. 276с.

2. Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.И. Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986, 464с.

3. Черняев В.Н. Технология производства интегральных микросхем и микропроцессоров: Учебник для вузов. М.: Радио и связь, 1987, 464с.

4. Гимпельсон В.Д., Радионов Ю.А. Тонкопленочные микросхемы для приборостроения и вычислительной техники. М.: Машиностроение, 1976, 328с.

5. Волков В. А. Сборка и герметизация микроэлектронных устройств. М.: Радио и связь, 1982, 278с.

6. Батыщев Д.А. Поисковые методы оптимального проектирования. М.: Сов.радио, 1975. 216с.