Безусловная вероятность проявления дефектов бд после автономной отладки
M |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
1 |
0,0059 |
0,0059 |
0,0117 |
0,0117 |
0,0232 |
0,0232 |
0,0458 |
0,0458 |
5 |
0,0285 |
0,0287 |
0,0553 |
0,0562 |
0,1043 |
0,1075 |
0,1867 |
0,1977 |
10 |
0,0551 |
0,0560 |
0,1035 |
0,1071 |
0,1843 |
0,1964 |
0,2989 |
0,3347 |
100 |
0,3331 |
0,3841 |
0,4444 |
0,5555 |
0,5062 |
0,6916 |
0,5196 |
0,7565 |
1000 |
0,5200 |
0,7638 |
0,5201 |
0,7700 |
0,5201 |
0,7700 |
0,5201 |
0,7700 |
Таблица 4.20
Условная вероятность проявления дефектов бд после комплексной отладки
M |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
1 |
0,0083 |
0,0042 |
0,0041 |
0,0022 |
0,0021 |
0,0232 |
0,0010 |
0,0005 |
5 |
0,0411 |
0,0220 |
0,0206 |
0,0107 |
0,0115 |
0,0059 |
0,0057 |
0,0030 |
10 |
0,0800 |
0,0425 |
0,0411 |
0,0219 |
0,0206 |
0,0107 |
0,0115 |
0,0059 |
100 |
0,5613 |
0,5465 |
0,3379 |
0,1926 |
0,1878 |
0,1020 |
0,0983 |
0,0527 |
1000 |
0,9996 |
0,9830 |
0,9826 |
0,8731 |
0,8695 |
0,6490 |
0,6419 |
0,4117 |
Таблица 4.21
Безусловная вероятность проявления дефектов бд после комплексной отладки
M |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
АУ |
ДУ |
1 |
0,0006 |
0,0006 |
2,9 •10-4 |
2,9 •10-4 |
1,5•10-4 |
1,5•10-4 |
7,3•10-5 |
7,3•10-5 |
10 |
0,0057 |
0,0058 |
2,9•10-3 |
0,0030 |
0,0015 |
0,0015 |
0,0008 |
0,0008 |
100 |
0,0397 |
0,0473 |
0,0239 |
0,0263 |
0,0133 |
0,0139 |
0,0070 |
0,0072 |
1000 |
0,0707 |
0,1342 |
0,0695 |
0,1192 |
0,0615 |
0,0886 |
0,0454 |
0,0562 |
Из данных, приведенных в табл. 4.17, видно,
что в начале АО первый дефект уверенно
обнаруживается уже после первых 10−15
тестов БД. После АО вероятность проявления
дефекта снижается, но остается довольно
высокой (см. табл. 4.19). Вероятность того,
что после АО в БД не останется ни одного
дефекта, оценивается величиной
при выполнении АУ и
при выполнении ДУ или ОП.
После комплексной отладки, то есть в
начале эксплуатации, вероятность отказа
ИО при однократном выполнении ФСО
оказывается существенно больше (см.
табл. 4.21), чем вероятность отказа ФПО
(см. табл. 4.15), − почти на два порядка.
При многократном выполнении ФСО в число
обращений М включают только
независимые обращения. Фактически могут
наблюдаться многократные обращения к
одному и тому же фрагменту данных, и
тогда вероятность проявления дефектов
не меняется при увеличении числа
обращений. Чтобы учесть этот фактор,
введем поправочный коэффициент
,
равный доле независимых обращений. Для
данной системы принимается
.
Суммарная вероятность отказа ФПО и ИО при однократном выполнении ФСО после комплексной отладки, рассчитанная по схеме независимых событий, приведена в табл. 4.22.
Вероятность отказа существенно зависит
от объема
,
используемого при однократном обращении
фрагмента БД.
Таблица 4.22