Условная вероятность обнаружения дефекта в км r-го ранга

r
	m=0	m=1	m=2	m=3	m=4	m=5
1	0,5	1	1	1	1	1
2	0,25	0,75	1	1	1	1
3	0,125	0,50	0,875	1	1	1
4	0,0625	0,3125	0,6875	0,9325	1	1
5	0,03125	0,1875	0,5000	0,8175	0,96875	1

Из данных, приведенных в табл. 4.1, видно, что труднее всего обнаруживаются дефекты в КМ более высокого ранга. При длительности теста, составляющей 50 от длительности полного теста , в первых двух КМ дефекты обнаруживаются гарантированно, а в КМ 5-го ранга − лишь с вероятностью 0,5. Расчет безусловной вероятности обнаружения дефекта, которая является показателем эффективности отладки, проводится по формуле (10.21). Результаты расчетов приведены в первой строке табл. 4.2.

Таблица 4.2

Безусловная вероятность обнаружения дефекта

Модель
	m=0	m=1	m=2	m=3	m=4	m=5
KM	0,194	0,55	0,813	0,950	0,994	1
Экспонента	0,125	0,55	0,881	0,969	0,984	0,986
Степенная	0,290	0,55	0,781	0,929	0,989	1
Средняя	0,207	0,55	0,831	0,949	0,986	0,993

Эффективность отладки достигает значения 0,95 при длительности отладки, достигающей значения 81,25% от длительности полного теста. Зависимость вероятности от , как и в моделях (10.17)−(10.19), нелинейная. Для сравнения в табл. 4.2 приведены результаты расчетов для экспоненциальной и степенной моделей. Для определения параметров а и т используется точка L = 6:

Отсюда а = 4,26, т = 2,8. Из табл. 10.2 видно, что почти всюду экспоненциальная и степенная модели дают двустороннюю оценку значения, полученного по модели КМ. Поэтому среднее арифметическое этих значений довольно близко к значениям модели КМ. Максимальное относительное отклонение (при т = 2) не превышает 10%.

Среднее остаточное число дефектов, рассчитанное по формуле (10.25), уменьшается более чем вдвое уже при коэффициенте полноты тестирования и в 20 раз при (табл. 4.3).

Таблица 4.3