
- •Оглавление
- •I. Исследование линий задержки
- •1.1. Цель работы
- •1.2. Подготовка к работе
- •1.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •1.4. Лабораторное задание
- •1.7. Ультразвуковые линии задержки с пьезоэлектрическими преобразователями
- •1.8. Линии задержки на поверхностных акустических волнах
- •2. Исследование импульсных трансформаторов
- •2.1. Цель работы
- •2.2. Подготовка к работе
- •2.3. Лабораторный стенд и методика измерения
- •2.4. Погрешности измерений
- •2.5. Лабораторное задание
- •3. Исследование динамических характеристик сердечников с ппг
- •3.1. Цель работы
- •3.2. Подготовка к работе
- •3.3. Лабораторный стенд и методика измерения
- •3.4. Погрешности измерения
- •3.5. Лабораторное задание
- •4. Исследование частотных свойств стандартных резисторов и конденсаторов
- •4.1. Цель работы
- •4.2. Подготовка к работе
- •4.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •4.4. Погрешности измерений
- •4.5. Лабораторное задание
- •5. Исследование приборов индикации
- •5.1. Цель работы
- •5.2. Подготовка к работе
- •5.3. Лабораторной стенд и методика измерений
- •5.4. Лабораторное задание
- •5.5.Простейшие, устройства отображения информации
- •6. Исследование оптоэлекгронных ксшутационкых элементов
- •6.1. Цель работы
- •6.2. Подготовка к работе
- •6.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •6.4. Лабораторное задание
- •6.5. Классификация и области применения коммутационных устройств
- •Коммутационные устройства
- •6.7. Промышленные типы оптоэлектронных коммутаторов
- •Библиографический список
- •Приложение
- •1. Инструкция по эксплуатации куметра вм-560
- •2. Инструкция по эксплуатации полуавтоматического универсального моста вм-509
- •3. Упрощенная процедура многофакторного эксперимента
- •4. Процедура статистической обработки результатов эксперимента
- •5. Содержание отчета
- •6. Определение коэффициента корреляции
3.4. Погрешности измерения
Осциллограф C1-72 позволяет измерить напряжение с погрешностью не превышающей ± 10%, если амплитуда напряжения лежит в пределах 40В - 60В, >0,2 мкс, fn < 2 мГц, размах изображения на экране трубки лежит в пределах 2-6 делений.
Погрешность измерений временных интервалов осциллографом (С1-72 не превышает ±10%, если = 0,2 мкс - 5 мс и переключатель "Время/Дел." установлен в положение 0,05 мкс/дел - 5 мс/дел.
Если размеры
сердечников, число витков, величина
сопротивления измерены с точностью до
3%,
то
среднеквадратичная погрешность
измерения напряжения поля и
не превышает ±11%,
Sw,
П, Rm
- 20%
3.5. Лабораторное задание
3.5.1. Ознакомиться c конструкциями матриц памяти на ферритовых сердечниках по стендам и документации.
3.5.2. Изменяя величину Eк на коллекторах транзисторов через 1 В в пределах от 3 до 14 В, измерить ∆Ur, tn, Е1,ЕО..
3.5.3. Рассчитать величины намагничивающего тока и соответствующие им напряженности поля для каждого значения амплитуды импульса на коллекторах транзисторов.
3.5.4. Построить график
зависимости Н=f
1
,
=f
2 (H)
, П=f
з (H)
по которым определить коэффициент перемагничивания S w , максимальное дифференциальное динамическое сопротивление Tm.
3.5.5. Измерить импульсный коэффициент прямоугольности при постоянной напряженности поля для 20 ферритовых сердечников, построить гистограмму, определить математическое ожидание, дисперсию, среднеквадратичное отклонение и поле допуска (производственный разброс) коэффициента прямоугольности (см. приложение, разд.4).
Содержание отчета приведено в приложении, разд.4.
4. Исследование частотных свойств стандартных резисторов и конденсаторов
4.1. Цель работы
Исследование частотой зависимости модуля сопротивления и угла сдвига фаз между током и напряжением (фазового угла) ряда стандартных резисторов и конденсаторов, определение области их рабочих частот, исследование связи между рабочими частотами и конструкцией резисторов и конденсаторов.
4.2. Подготовка к работе
Пользуясь литературой [11], [4] , [5], АОМ на ЭBM CMI420, а также приложением, необходимо ознакомиться с основными параметрами, типовыми конструкциями, методами расчета резисторов и конденсаторов, методами статистической обработки экспериментальных данных и определения коэффициента корреляции между случайными величинами, изучить лабораторное задание и методику измерения модуля сопротивления, фазового угла резисторов и конденсаторов. При этом следует дать ответ на следующие вопросы:
1. Какие функции выполняют резисторы и конденсаторы?
2. Какими основными параметрами характеризуются резисторы и конденсаторы?
3. Какие известны конструктивные разновидности стандартных резисторов и конденсаторов?
4. Какие материалы используются в резисторах и конденсаторах?
5. Какие паразитные элементы включаются в схемы замещения резисторов и конденсаторов?
6. Что ограничивает рабочие частоты резисторов?
7. Как зависит добротность конденсаторов от частоты?
8. Как связано допустимое напряжение на резисторе и конденсаторе с формой и частотой сигнала?
9. Как определяется математическое ожидание случайной величины, дисперсия, среднеквадратичное отклонение и поле допуска?
10. Как измеряются модуль сопротивления, фазовый угол, граничные частоты резисторов и конденсаторов на приборе ВМ-508?