4 Классиф-ия м-дов опр-ия кач-ва хби и ки

Уровень кач-ва прод-ии оценивают одним из 3-х м-дов: дифференциальный, комплексный и смешанный. Диф-ый м-д основан на исп-ии единичный пок-лей. Если уровень кач-ва испытуемой прод-ии выше или равен базисному образцу, то пок-ль выше или равен 1. Если уровень кач-ва ниже, чем базисный, то диф. пок-ль ниже 1. Комплексный м-д основан на прим-ии обобщающего пок-ля кач-ва прод-ии, к-рый представляет ф-цию от единичного группового комплексного пок-ля продукции, но в кач-ве обобщающего м/т быть использован главный пок-ль, отражающий осн-ое назначение прод-ии. Для оценки кач-ва разнородной прод-ии опр-ся и исп-ся так наз-ый индекс кач-ва и индекс дефектности. Индекс кач-ва–пок-ль кач-ва разнородной прод-ии, выпущенной за опр-ый интервал времени, равный средневзвешенному относит-ых знач-ий пок-ля кач-ва этой прод-ии.Индекс дефект-ти–пок-ль кач-ва прод-ии, выпущенной за опр-ый период времени,равный средневзвеш-ой величине коэф-та дефектов этой прод-ии.

Выделяют 3 осн-ых м-да опр-ия кач-ва: химический, физ.-хим, чисто физический. Сущ-ть хим. м-дов лежит во взаимод-ии реагентов друг с другом. Соотн-ие реагентов и кол-ва продуктов р-ции опр-ют опр-ием объема или массы (титр-ие). Преимущ-вом явл-ся простота опр-ия, min кол-во приборов, отсутствие спец. аппаратуры. Гл-ый недостаток – длит-ть подгот-ки и проведения анализа. При физ.-хим. м-дах исп-ся не только взаимод-ие в-в м/у собой, но и взаимод-ие в-в с эл., магн. полями, излучением (н-р, поляриметрия и рефрактометрия). Хим. р-ция исп-ся для выделения определяемого в-ва путем раств-ия или д/осаждения мешающих в-в, или для обр-ия комплексного соед-ия, к-рое м/о легко обнаружить колориметр-ки. Сущ-тью инструмент-ых (физ. м-дов) явл-ся опр-ие св-в в-в на уровне мол-л и атомов. Делятся на оптические, электрометрические, резонансные, хроматограф-ие и масс-спектральные. Для их проведения треб. спец. приборы, способные измерять те или иные св-ва опр-го в-ва. На оптических св-вах основана рефрактометрия. Поляриметрия-на способ-ти р-ров вращать пл-ть поляризации луча. Электрометрия-на измер-ии эл-их св-в в-ва (кондуктометрия). Резонансный м-д (ядерно-магн-ый анализ, ИК-спектрофотометрия). Хроматограф-ий м-д-на разделении по молекулярной массе при прохождении смеси ч/з ультратонкие мембраны. Масс-спектральный – измер-ие массы ионизр-ых осколков мол-л (пламенная фотометрия).

5 Классиф-ия инструментальных м-дов анализа кач-ва прод-ии. Селективность и чувствительность.

Инструмент-ые (физ. м-ды). Сущ-тью этих м-дов явл-ся опр-ие св-в в-в на уровне мол-л и атомов. Подразд-ся на оптические, электрометрические, резонансные, хроматографические и масс-спектральные. Для их проведения треб-ся спец. приборы, способные измерять те или иные св-ва опр-го в-ва. На оптических св-вах основана рефрактометрия. Поляриметрия основана на способ-ти р-ров вращать пл-ть поляризации луча. Электрометрия основана на измерении эл-их св-в в-ва (кондуктометрия). Резонансный м-д (ядерно-магн-ый анализ, ИК-спектрофотометрия). Хроматограф-ий м-д основан на разделении по молекулярной массе при прохождении смеси ч/з ультратонкие мембраны. Масс-спектральный – измер-ие массы ионизр-ых осколков мол-л (пламенная фотометрия).