
- •Кристалографiя, кристалохiмiя та мiнералогiя
- •Основні визначення кристалографічних термінів
- •Частина і Кристалографія Розділ 1 Кристалографія і її зв'язок з іншими науками
- •1.1 Етапи розвитку
- •1.2 Кристали
- •1.3 Елементи внутрішньої будови кристалічних мінералів
- •1.4 Елементи структури кристалів та їх взаємозв'язок з елементами просторових ґраток
- •1.5 Властивості кристалічних речовин
- •1.6 Аморфні тіла
- •1.7 Закон сталості кутів кристалів
- •1.8 Гоніометри
- •1.9 Формула Вульфа-Брегга
- •Розділ 2 Метод кристалографічного індицирування. Закон цілих чисел
- •2.1 Символи вузлів
- •2.2 Символи рядів (ребер)
- •2.3 Символи площин (граней)
- •2.4 Параметри Вейса й індекси Міллера
- •2.5 Закон цілих чисел
- •2.6 Визначення ретикулярних щільностей атомних площин кристала
- •Розділ 3 Кристалографічні проекції
- •3.1 Сферична проекція
- •3.2 Стереографічна проекція
- •3.3 Гномостереографічна проекція
- •3.4 Гномонічна проекція
- •3.5 Сітка Вульфа
- •Розділ 4 Симетрія кристалів
- •4.1 Загальні поняття про симетрію кристалів
- •4.2 Центр інверсії (c)
- •4.3 Площина симетрії (l)
- •4 .4 Поворотні осі симетрії (l)
- •4.5 Інверсійні осі симетрії (Li)
- •4.6 Принцип Кюрі
- •4.7 Одиничні напрямки (він)
- •4.8 Сингонії кристалів
- •4.9 Решітки Браве
- •4.10 Зворотні гратки
- •4.11 Антисиметрія
- •Частина іі Кристалохімія Розділ 1 Кристалохімія. Типи зв'язків у кристалах
- •1.1 Іонні (атомні) радіуси
- •1.2 Межі стійкості структури
- •1.3 Щільні упакування частинок у структурах
- •1.4 Координаційні числа й координаційні
- •1.5 Визначення стехіометричної формули речовини
- •1.6 Поляризація
- •Частина ііі Мінералогія Розділ 1 Основні поняття та історія мінералогії
- •Фізичні властивості мінералів. Форма
- •1.2 Механічні властивості мінералів
- •1.3 Теплові властивості мінералів
- •1.4 Електричні властивості мінералів
- •1.5 Магнітні властивості мінералів
- •Розділ 2 Генезис мінералів
- •Розділ 3 Хімічний склад і розрахунок формул мінералів
- •Розділ 4 Класифікація мінералів
- •4.1 Хімічний склад мінералів
- •4.2 Класифікація кристалів
- •4.3 Самородні елементи
- •4.4 Штучні мінерали
- •Розділ 5 Основи петрографії
- •Розділ 6 Магматичні гірські породи
- •6.1 Походження, класифікація, форма залягання
- •6.2 Хімічний і мінеральний склад
- •Розділ 7 Методи діагностики й дослідження мінеральних тіл
- •Частина IV Дефекти кристалічних структур
- •1.1 Фізичні передумови утворення дефектів
- •1.2 Визначення точкових дефектів
- •1.3 Визначення одновимірних дефектів
- •1.4 Енергія дислокацій
- •Гвинтового і змішаного типу
- •Розрахункові формули геометричної кристалографії
- •Додаток б
- •Розрахункові формули структурної кристалографії
- •Тема 1 Основні властивості кристалічних та аморфних мінералів
- •Тема 2 Симетрія і класифікація кристалічних багатогранників
- •Тема 3 Прості форми і комбінації кристалів
- •Тема 4 Проекції кристалів та методика їх побудови
- •Тема 5 Розв’язання кристалографічних задач
- •Тема 6 Основні фізичні властивості кристалів і мінералів Запитання для самоконтролю
- •Методика розв’язання типових кристалографічних задач з допомогою стереографічної сітки г.В. Вульфа
- •Список літератури
- •Кристалографія, кристалохімія, мінералогія
Розділ 3 Кристалографічні проекції
3.1 Сферична проекція
В
Рисунок 3.1
- Нормалі кристалографічного багатогранника
Сферичну проекцію можна будувати без заміни граней кристала їхніми нормалями. У цьому випадку всі грані кристала шляхом паралельного перенесення переміщають у центр сфери проекцій (одержують так званий кристалічний комплекс) і будують відбитки перетину цих граней зі сферою проекцій.
Положення будь-якої точки на поверхні сфери проекцій можна охарактеризувати двома сферичними координатами: - полярна відстань, відлічувана за будь-яким напрямком від нуля (північний полюс) до 180° (південний полюс); - довгота, відлічувана по екватору від меридіана, взятого за нульовий меридіан (рис. 3.3).
С
ферична
проекція кристала наочна, але для
практичного засто-сування її треба
спро-
ктувати на площину й користуватися стерео-графічними, гномо-стереографічним й гно-монічними проекція-ми.
Рисунок 3.2
- Побудова сфери проекції(а) та сферичної
проекції (б);сферична проекція
додекаедра(в)
Рисунок 3.3
- Сферичні координати на поверхні сфери
проекцій
3.2 Стереографічна проекція
За площину стереографічної проекції Q вибирається екваторіальна площина, на яку сфера проектується у вигляді кола проекцій (рисунок 3.4). В одному з полюсів цієї сфери міститься точка зору («очна точка») S.
Рисунок 3.4
- Принцип побудови стереографічної
проекції
Щоб спроектувати пряму, наприклад ОA, проводимо лінію AS від полюсної точки А на сфері проекцій до точки зору S. Точка а є перетином лінії AS із стереографічною проекцією напрямку ОА.
Стереографічні проекції напрямків зображуються точками всередині кола проекцій (рисунок 3.5).
Рисунок
3.5 - Стереографічні
проекції площин розміщених
відносно площини проекції : a -
перпендикулярно; б - у самій площині; в
- під косим кутом до неї
Очевидно, вертикальний напрямок проектується як точка в центрі кола проекцій, горизонтальний - як дві точки на екваторі. Площина, що проходить через точку O і перетинає сферу, проектується на стереографічну проекцію у вигляді відповідної дуги великого кола.
Щоб не завантажувати креслення, проектують тільки перетин площини з верхньою півсферою, а нижню частину площини звичайно не проектують.
Рисунок
3.6 - Стереографічні проекції напрямків,
розміщених відносно площини проекцій:
а- перпендикулярно; б- у самій площині;
в- під косим кутом до неї
Стереографічні проекції горизонтальних площин (рисунок 3.6) являють собою коло, що збігається із границями кола проекцій; проекції вертикальних площин збігаються з діаметрами кола проекцій, а проекції похилих площин зображуються дугами, що опираються на кінці діаметра кола проекцій.
Для побудови стереографічної проекції особливо важливі дві її властивості:
1) будь-яке коло, проведене на сфері, зображується на стереографічній проекції також колом (в окремому випадку прямою лінією);
2) на цій проекції не спотворюються кутові співвідношення: кут між полюсами граней на сфері, вимірюваний по дугах більших кутів, дорівнює куту між стереографічними проекціями тих самих дуг.
Стереографічні проекції використовуються головним чином для відображення симетрії кристала.