
- •Методические указания к выполнению
- •Статические погрешности циу.Абсолютное значение статической погрешности циу может быть определено по формуле
- •2 Экспериментальное определение метрологических характеристик ацп
- •Инструментальная погрешность. Инструментальная погрешность определяется для некоторого значения выходного кода n по различию идеальной и реальной характеристик ацп (см. Рис.1)
- •Инструкции к работе 6
- •Определение характеристик погрешности ацп
- •Определение систематической погрешности ацп
Методические указания к выполнению
виртуальной лабораторной работы 6
“Определение основной погрешности АЦП ”
Цель работы
Изучить способы экспериментального определения метрологических характеристик АЦП.
Экспериментально определить метрологические характеристики АЦП.
Задание на работу
Экспериментально определить метрологические характеристики АЦП:
Среднеквадратическое отклонение случайной погрешности
Предельные значения погрешности
3. Аддитивную и мультипликативные составляющие систематической погрешности
4. Инструментальную погрешность
Теоретические сведения
1 Метрологические характеристики цифровых измерительных устройств
Статическая характеристика преобразования. Эта характеристика ЦИУ устанавливает связь между преобразуемой (входной) величиной X и результатом преобразования, за который принимается значение Nq, где N - значение выходного кода, q - квант. Для идеального ЦИУ характеристика преобразования имеет вид показанный на рис. 1 и получена при квантовании путем отождествления с ближайшем уровнем квантования. Изменения значений кода идеального ЦИУ со значений N-1 на N происходят при фиксированных значениях входной величины равных (N-0,5)q, где N - целое число.
Статическая характеристика определяется значением единицы младшего разряда кода, равной кванту q . Значение q может быть найдено при заданном диапазоне измерения (Xмin, Xmax), числе разрядов выходного кода n по формуле для АЦП q = (Xmax - Xмin -) / 2n или q = (Xmax - Xмin -) / 10n для цифрового прибора.
Характеристика реального ЦИУ отличается от идеальной. Различие проявляется в том, что изменение значений выходного кода ЦИУ происходит при отличных от идеального случая значениях входной величины. Причина этого – наличие инструментальных погрешностей ЦИУ. Инструментальная погрешность определяется для некоторого значения выходного кода N (см. рис.1) по отличию реальной характеристики ЦИУ от идеальной
Xи(N)= (N-0.5)q – ХкN,
где ХкN – значение входной величины, при котором значение кода меняется со значения N - 1 на N.
Рис. 1 Статическая характеристика преобразования ЦИУ
Статические погрешности циу.Абсолютное значение статической погрешности циу может быть определено по формуле
X = Xр - X = Nq - X,
где Xр= Nq – результат измерения, N - выходной код ЦИУ, q - квант, X – истинное значение измеряемой величины.
В соответствии с принятой классификацией погрешности делятся на отдельные составляющие. По причинам возникновения погрешности делятся на методические и инструментальные. К методическим погрешностям относят погрешности, обусловленные несовершенством принятого метода измерения (погрешность квантования по уровню), под инструментальными–погрешности обусловленные несовершенством технической реализации ЦИУ.
Погрешность квантования при произвольном входном сигнале рассматривается как случайная величина. В качестве характеристик погрешности квантования используются предельные значения, среднеквадратическое отклонение погрешности.
Для идеального ЦИУ квантование осуществляется путем отождествления с ближайшим или равным уровнем квантования, погрешность квантования имеет равномерную плотность распределения на интервале [-q/2;+q/2], среднеквадратическое отклонение погрешности равно q/(23). Предельные значения абсолютной погрешности квантования равно X = q/2, Приведенная погрешность квантования при заданном числе разрядов АЦП n равна = (100/2n+1) % , а для ЦИП при числе разрядов m десятичного ЦОУ = (100/2 10m) %.
В зависимости от характера изменения погрешности по диапазону измерения СИ погрешности делятся на аддитивные и мультипликативные. Аддитивные погрешности не зависят от значения измеряемой величины X, мультипликативные растут с увеличением X. Обычно для CИ погрешность задается в виде модели
X = a + bX,
где a и bX - аддитивная и мультипликативная составляющая погрешности соответственно.
По характеру изменения погрешности при повторных измерениях одного и того же значения погрешности делятся на систематические и случайные. Систематические остаются постоянными или меняются закономерным образом, значения случайных погрешностей можно предсказать с некоторой вероятностью. В общем случае погрешность является случайной величиной и ее можно представить в виде
X = Xсист + Xсл
где=M[X]
– систематическая погрешность
(математическое ожидание погрешности);
– случайная
составляющая погрешности.
Для
оценки значений погрешности как случайной
величины применяются характеристики:
среднеквадратическое отклонение
погрешности (СКО) (корень квадратный из
дисперсии); доверительный интервал,
задаваемый верхней
и нижней
границами и доверительная вероятность
,
связанные соотношением
,
гдеP{
}–вероятность выполнения неравенства
в { }.
При
=1
и симметричном относительно нулевого
значения доверительном интервале
в качестве характеристики погрешности
используется граничные (предельные)
значения погрешности равные
.