- •Управление качеством электронных средств Учебное пособие
- •Содержание
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные
- •3. Современные организационно-экономические методы
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и
- •9. Анализ и контроль качества технологических процессов
- •Предисловие
- •Введение
- •1.1. Актуальность проблемы качества
- •Виды качества
- •1.2.1. Подходы к формированию понятия качества
- •1. Понятие качества, его экономическое и социальное значение
- •1.2.2. Расхождения в понимании качества различными участниками производственного процесса и потребителями
- •1.2.3. Качество с позиций различных технических стандартов
- •1.2.4. «Пирамида качества». Качество жизни
- •История развития управления качеством. Философия обеспечения качества
- •Вопросы для самоконтроля:
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные показатели качества
- •Основные понятия квалиметрии, показатели качества
- •2.2. Методы квалиметрии
- •2.3. Пути обеспечения качества на этапах разработки, производства и эксплуатации изделий
- •Вопросы для самоконтроля:
- •3. Современные организационно-экономические методы управления качеством
- •3.1. Стандартные модели систем управления качеством по исо-9000-87
- •3.2. Цели, задачи и функции системы управления качеством
- •3.3. Документальное обеспечение системы управления качеством
- •3.4. Организация службы управления качеством на предприятии
- •3.5. Учёт и анализ затрат на качество и определение их эффективности
- •3.6. Дальнейшее развитие системы менеджмента качества по стандартам исо-9000-2000
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и поддержания качества продукции на стадии производства
- •4.1. Виды, операции, методы и алгоритмы контроля
- •4.2. Задачи и содержание технологии контроля электронных средств
- •4.3. Испытания электронных средств
- •4.3.1. Классификация испытаний
- •4.3.2. Испытания контроля качества
- •4.3.3. Испытания на надёжность
- •4.3.4. Испытания на воздействие внешних условий
- •5.2. Партия и выборка изделий, обеспечение репрезентативности выборки
- •5.3. Выборочные планы контроля
- •5.4. Математические основы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.5. Организация выборочного контроля по качественному признаку
- •5.6. Стандартные планы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.7. Математические основы выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.1. Общие положения выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.2. Нормальный закон распределения
- •5.7.3. Выборочные оценки параметров нормального распределения
- •5.7.4. Сравнение выборочных средних и дисперсий
- •5.7.5. Проверка нормальности генерального распределения по выборочным данным
- •5.8. Организация выборочного контроля по количественному признаку
- •5.9. Стандартные планы выборочного контроля по количественному признаку
- •6. Электрический контроль электронных узлов и средств
- •6.1. Задачи и методы электрического контроля электронных узлов и электронных средств в целом
- •6.2. Виды диагностического контроля электронных средств
- •6.3. Технические средства электрического контроля электронных средств
- •6.3.1. Индивидуальные средства наладчика
- •6.3.2. Сигнатурные анализаторы
- •6.3.3. Логические анализаторы
- •6.3.4. Автоматические универсальные тестеры
- •6.4. Методы тестирования и синтез тестов
- •6.4.1. Классификация методов тестирования
- •6.4.2. Построение таблицы диагностируемых состояний объекта тестирования
- •6.4.3. Синтез безусловных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.4. Синтез условных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.5. Построение таблицы покрытий и её аналитическое представление
- •6.4.6. Минимизация таблицы покрытий
- •6.4.7. Синтез безусловных тестов путём преобразования таблицы покрытий
- •6.4.8. Синтез тестов по аналитическому представлению таблицы покрытий
- •6.4.9. Синтез тестов методом ветвей и границ
- •6.4.10. Другие методы синтеза тестов
- •7.2. Основные способы улучшения тестопригодности при проектировании электронных средств
- •7.3. Основные показатели ремонтопригодности электронных средств
- •8. Методы самоконтроля и самотестирования электронных средств
- •8.1. Классификация методов самоконтроля
- •8.2. Тестовый самоконтроль электронных средств
- •8.3. Следящий самоконтроль, базирующийся на использовании корректирующих кодов
- •8.3.1. Классификация и теоретические основы построения корректирующих кодов
- •8.3.2. Коды Хэмминга
- •8.3.3. Циклические корректирующие коды
- •8.3.4. Другие избыточные коды
- •8.4. Аппаратные методы следящего самоконтроля
- •8.4.1. Метод дублирования
- •8.4.2. Следящий самоконтроль по модулю
- •8.5. Программные методы следящего самоконтроля
- •9.2. Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •9.2.1. Общая оценка информативных параметров и их отбор для контроля и управления технологическим процессом
- •9.2.2. Диаграмма разброса и её использование для определения корреляционной связи между двумя параметрами
- •9.2.3. Исследование взаимосвязи между технологическими параметрами с помощью корреляционного и регрессионного анализа
- •9.2.4. Методы анализа нелинейных двумерных статистических зависимостей
- •9.3.2. Математический аппарат построения регрессионной модели
- •9.3.3. Выбор стратегии построения регрессионной модели в условиях избыточности факторного пространства
- •9.3.4. Критерии оптимальности многофакторных регрессионных моделей
- •9.3.5. Общий алгоритм построения многофакторной регрессионной модели
- •9.4. Подходы к построению математических моделей динамических технологических процессов
- •9.4.1. Особенности экспериментального исследования
- •9.4.2. Регрессионные методы построения математических моделей технологических процессов, приводимых к условно статическим
- •9.4.3. Рекуррентные методы построения математических моделей
- •Условие минимизации l по â(tN) выражается системой уравнений, которые в матричной форме имеют вид:
- •Заключение
- •Продолжение табл. П3.3.
9.2.2. Диаграмма разброса и её использование для определения корреляционной связи между двумя параметрами
Простейшим и наиболее наглядным средством обнаружения зависимости между двумя параметрами, представленной полученными с помощью эксперимента (активного или пассивного) данными, является диаграмма разброса. С помощью диаграмм разброса обычно исследуются зависимости между выходным параметром и одним из входных, но могут исследоваться и взаимосвязи между двумя входными параметрами. Для построения диаграммы разброса между двумя величинами X и Y по результатам наблюдений, содержащих n попарных значений хi и yi обычно определяют диапазоны вариаций этих величин x = хmax – xmin и y = ymax – ymin. Округляя хmax и ymax до ближайших больших значений, кратных 1, 2, 5 или 10, а хmin и ymin – до ближайших меньших значений, тоже кратных тем же числам, а затем, откладывая по оси абцисс значения хi, а по оси ординат – yi, строят в плоскости x-y множество n точек, соответствующих парам xi – yi . По расположению точек на диаграмме можно судить о наличии взаимозависимости между этими величинами, характере этой зависимости (линейная, нелинейная) и тесноте связи или величине разброса (см. рис. 9.2.).
Основными недостатками этого метода является возможность лишь качественной оценки тесноты связи между изучаемыми параметрами и величины разброса, а также трудность использования диаграмм разброса при большом количестве взаимодействующих факторов. Последнее обстоятельство требует пояснения. Дело в том, что если величина Y зависит не от одного, а от многих параметров хj (j = 1,2,3,…,N) и нет возможности в процессе эксперимента варьировать их поочередно, то есть все они изменяются одновременно и независимо друг от друга, то мы, хотя и можем построить диаграммы разброса (поле корреляции) параметра Y с каждым из влияющих на него параметров Xj, однако, судить по ним о наличии, характере и тесноте связи с данным параметром затруднительно, так как одновременное воздействие на параметр Y других параметров Xk (k j) размывает эту связь и увеличивает степень разброса.
9.2.3. Исследование взаимосвязи между технологическими параметрами с помощью корреляционного и регрессионного анализа
В силу указанных недостатков диаграммы разброса редко применяются как самостоятельный инструмент исследования. Чаще всего их используют совместно с корреляционным и регрессионным анализом, что позволяет в значительной мере устранить указанные выше недостатки.
В самом деле, если между параметрами Y и X имеет место статистическая линейная зависимость, то тесноту статистической связи можно численно оценить величиной парного коэффициента корреляции Ryx, а саму линейную зависимость определить уравнением регрессии
, (9.1)
где
, (9.2)
а
, (9.3)
где – угол между линией регрессии и осью абсцисс (см. рис. 9.2.)
Уравнение регрессии, как следует из (9.2) и (9.3) определяется методом наименьших квадратов.
Величина парного коэффициента корреляции Ryx между параметрами Y и X определяется по формуле
. (9.4)
Коэффициент корреляции может принимать значения от 0, когда линейная зависимость полностью отсутствует до 1, когда имеет место функциональная линейная связь, то есть все экспериментальные точки ложатся на прямую регрессии. Причём положительным значениям соответствует прямо пропорциональная зависимость (угол – положительный), отрицательным значениям – обратно пропорциональная зависимость (угол – отрицательный).
В силу случайного разброса экспериментальных данных значения коэффициента корреляции Ryx практически никогда не бывают равными нулю, даже если X и Y – независимые случайные величины, представленные выборками ограничен-ного объёма. Поэтому необходим критерий, который бы позволял установить, случайно ли отклонение численного значения коэффициента корреляции от нуля или имеет место корреляционная связь между двумя исследуемыми величинами. Для этого используется критерий Стьюдента, который в данном случае рассчитывается следующим образом
. (9.5)
Вычисленное
по (9.5) значение
сравнивается с табличным значением
t(Р, m)
для выбранного значения доверительной
вероятности Р
(или риска
ошибки
= = 1– Р)
и числа степеней свободы m
= n – 2.
Если неравенство (9.5) выполняется, то справедлива нулевая гипотеза, т.е. статистическая связь между величинами Y и X отсутствует, а коэффициент корреляции не равен нулю в силу ограниченности объёма и случайности выборочных данных. В противном случае статистическая зависимость между этими величинами имеет место.
Таким образом, подсчёт коэффициента корреляции и его проверка по t-кри-терию позволяют установить факт наличия линейной статистической зависимости между двумя произвольными параметрами и количественно оценить тесноту этой связи. А расчёт параметров уравнения регрессии позволяет определить наилучшую аналитическую аппроксимацию этой зависимости. Наилучшей она будет в том смысле, что сумма квадратов отклонений действительных, то есть экспериментально измеренных значений параметра Y, от значений, рассчитанных по уравнению регрессии при подстановке в него соответствующих значений параметра Х, будет минимальной. Это означает, что любое другое линейное уравнение будет давать большую сумму квадратов отклонений, чем уравнение регрессии.
Однако следует помнить, что при этом остаются в силе два существенных ограничения. Во-первых, коэффициент корреляции объективно определяет тесноту именно линейной связи между двумя исследуемыми параметрами. Если эта связь будет нелинейной, то коэффициент корреляции не может служить объективной характеристикой степени тесноты этой связи. Он будет давать заниженную характеристику степени тесноты этой связи. Во-вторых, если имеет место многомерная зависимость, когда одновременно с исследуемым параметром на величину Y влияют и другие параметры, то парные коэффициенты корреляции величины Y c каждым из этих влияющих параметров не дают объективного представления о степени влияния каждого из них на параметр Y. Опять же они будут занижать степень тесноты этой связи по сравнению с той, которая была бы, если бы остальные параметры оставались неизменными.
Чтобы обойти первое ограничение, используют либо кусочно-линейную аппроксимацию выявленной статистической зависимости и тесноту связи характеризуют корреляционным отношением, либо применяют нелинейную (чаще всего полиномиальную) аппроксимацию исследуемой статистической зависимости, а тесноту связи в этом случае характеризуют остаточной дисперсией.
Чтобы обойти второе ограничение используют различные методы множественного статистического анализа.
