- •Управление качеством электронных средств Учебное пособие
- •Содержание
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные
- •3. Современные организационно-экономические методы
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и
- •9. Анализ и контроль качества технологических процессов
- •Предисловие
- •Введение
- •1. Понятие качества, его экономическое и социальное значение
- •1.1. Актуальность проблемы качества
- •Виды качества
- •1.2.1. Подходы к формированию понятия качества
- •1.2.2. Расхождения в понимании качества различными участниками производственного процесса и потребителями
- •1.2.3. Качество с позиций различных технических стандартов
- •1.2.4. «Пирамида качества». Качество жизни
- •История развития управления качеством. Философия обеспечения качества
- •Вопросы для самоконтроля:
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные показатели качества
- •Основные понятия квалиметрии, показатели качества
- •2.2. Методы квалиметрии
- •2.3. Пути обеспечения качества на этапах разработки, производства и эксплуатации изделий
- •Вопросы для самоконтроля:
- •3. Современные организационно-экономические методы управления качеством
- •3.1. Стандартные модели систем управления качеством по исо-9000-87
- •3.2. Цели, задачи и функции системы управления качеством
- •3.3. Документальное обеспечение системы управления качеством
- •3.4. Организация службы управления качеством на предприятии
- •3.5. Учёт и анализ затрат на качество и определение их эффективности
- •3.6. Дальнейшее развитие системы менеджмента качества по стандартам исо-9000-2000
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и поддержания качества продукции на стадии производства
- •4.1. Виды, операции, методы и алгоритмы контроля
- •4.2. Задачи и содержание технологии контроля электронных средств
- •4.3. Испытания электронных средств
- •4.3.1. Классификация испытаний
- •4.3.2. Испытания контроля качества
- •4.3.3. Испытания на надёжность
- •4.3.4. Испытания на воздействие внешних условий
- •5.2. Партия и выборка изделий, обеспечение репрезентативности выборки
- •5.3. Выборочные планы контроля
- •5.4. Математические основы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.5. Организация выборочного контроля по качественному признаку
- •5.6. Стандартные планы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.7. Математические основы выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.1. Общие положения выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.2. Нормальный закон распределения
- •5.7.3. Выборочные оценки параметров нормального распределения
- •5.7.4. Сравнение выборочных средних и дисперсий
- •5.7.5. Проверка нормальности генерального распределения по выборочным данным
- •5.8. Организация выборочного контроля по количественному признаку
- •5.9. Стандартные планы выборочного контроля по количественному признаку
- •6. Электрический контроль электронных узлов и средств
- •6.1. Задачи и методы электрического контроля электронных узлов и электронных средств в целом
- •6.2. Виды диагностического контроля электронных средств
- •6.3. Технические средства электрического контроля электронных средств
- •6.3.1. Индивидуальные средства наладчика
- •6.3.2. Сигнатурные анализаторы
- •6.3.3. Логические анализаторы
- •6.3.4. Автоматические универсальные тестеры
- •6.4. Методы тестирования и синтез тестов
- •6.4.1. Классификация методов тестирования
- •6.4.2. Построение таблицы диагностируемых состояний объекта тестирования
- •6.4.3. Синтез безусловных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.4. Синтез условных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.5. Построение таблицы покрытий и её аналитическое представление
- •6.4.6. Минимизация таблицы покрытий
- •6.4.7. Синтез безусловных тестов путём преобразования таблицы покрытий
- •6.4.8. Синтез тестов по аналитическому представлению таблицы покрытий
- •6.4.9. Синтез тестов методом ветвей и границ
- •6.4.10. Другие методы синтеза тестов
- •7.2. Основные способы улучшения тестопригодности при проектировании электронных средств
- •7.3. Основные показатели ремонтопригодности электронных средств
- •8. Методы самоконтроля и самотестирования электронных средств
- •8.1. Классификация методов самоконтроля
- •8.2. Тестовый самоконтроль электронных средств
- •8.3. Следящий самоконтроль, базирующийся на использовании корректирующих кодов
- •8.3.1. Классификация и теоретические основы построения корректирующих кодов
- •8.3.2. Коды Хэмминга
- •8.3.3. Циклические корректирующие коды
- •8.3.4. Другие избыточные коды
- •8.4. Аппаратные методы следящего самоконтроля
- •8.4.1. Метод дублирования
- •8.4.2. Следящий самоконтроль по модулю
- •8.5. Программные методы следящего самоконтроля
- •9.2. Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •9.2.1. Общая оценка информативных параметров и их отбор для контроля и управления технологическим процессом
- •9.2.2. Диаграмма разброса и её использование для определения корреляционной связи между двумя параметрами
- •9.2.3. Исследование взаимосвязи между технологическими параметрами с помощью корреляционного и регрессионного анализа
- •9.2.4. Методы анализа нелинейных двумерных статистических зависимостей
- •9.3.2. Математический аппарат построения регрессионной модели
- •9.3.3. Выбор стратегии построения регрессионной модели в условиях избыточности факторного пространства
- •9.3.4. Критерии оптимальности многофакторных регрессионных моделей
- •9.3.5. Общий алгоритм построения многофакторной регрессионной модели
- •9.4. Подходы к построению математических моделей динамических технологических процессов
- •9.4.1. Особенности экспериментального исследования
- •9.4.2. Регрессионные методы построения математических моделей технологических процессов, приводимых к условно статическим
- •9.4.3. Рекуррентные методы построения математических моделей
- •Условие минимизации l по â(tN) выражается системой уравнений, которые в матричной форме имеют вид:
- •Заключение
- •Продолжение табл. П3.3.
6.4.5. Построение таблицы покрытий и её аналитическое представление
Таблица покрытий строится по таблице состояний и отличается от неё только тем, что столбцы в ней образованы не самими состояниями, а всеми возможными парами состояний и, если любая конкретная пара состояний данной элементарной проверкой различается, то в соответствующей клетке таблицы ставится 1, если не различается – то 0. Всё множество пар состояний обозначим U, а любую конкретную пару Ui , i=1, 2, …, N. Таким образом, в каждой клетке этой таблицы (j, Ui) проставим значения двоичной переменной aji , определяемые по правилу:
.
Для улучшения обозримости таблицы условимся нули в клетках таблицы не проставлять, оставляя их пустыми. Общий вид таблицы покрытий показан на рис. 6.6.
А |
U |
||||||
U1 |
U2 |
… |
Ui |
… |
UN |
||
П |
1 |
a11 |
a12 |
|
a1i |
|
a1N |
2 |
a21 |
a22 |
|
а2i |
|
a2N |
|
. . . |
|
|
|
|
|
|
|
j |
aj1 |
aj2 |
|
aji |
|
ajN |
|
. . .
|
|
|
|
|
|
|
|
п |
aп1 |
aп2 |
|
aпi |
|
апN |
|
Рис. 6.5. Общий вид таблицы покрытий
Из сформулированных условий следует, что, если в каждой строке и в каждом столбце таблицы содержится хотя бы одна единица, то задача диагностирования окажется решённой.
Возьмём столбец Ui таблицы покрытий, найдём все её строки, для которых aji = 1, и объединим их в подмножество i , а его элементы обозначим символами ji , j=1, 2, …,n . Тогда условие, состоящее в том, что для различения состояний Sq и Sк достаточно любой одной элементарной проверки jiПi , можно представить дизъюнкцией двоичных переменных
, (6.9)
а условие различения каждой пары состояний UiU хотя бы одной элементарной проверкой можно записать в виде конъюнкции U дизъюнкций выражений вида (6.9):
. (6.10)
Выражение (6.10) является логическим произведением логических сумм двоичных переменных jl, представляющих собой входные воздействия на контролируемый объект, и поэтому обозначается формой ПС (или П) – «произведение сумм». Форма ПС является аналитическим представлением таблицы покрытий. С учётом правил логического сложения и умножения форма ПС может быть упрощена путём использования упрощений вида XX = X и X(XVY) = XY, где X и Y – отдельные переменные jl или их дизъюнкции. Если раскрыть все скобки в исходной или сокращённой форме ПС, то будет получено выражение, представляющее собой логическую сумму логических произведений двоичных переменных jl и называемое формой СП (или П). В процессе преобразования формы ПС в форму СП целесообразно производить такие же упрощения.
По построению каждая конъюнкция формы СП содержит хотя бы по одной переменной из каждой дизъюнкции формы ПС. Таким образом, каждая конъюнкция формы СП представляет своими переменными совокупность элементарных проверок jП, среди которых для каждой пары состояний из U возможных найдётся хотя бы одна элементарная проверка, различающая эту пару. Любую такую совокупность будем называть покрытием таблицы покрытий. Они и будут представлять собой все возможные тесты, которые можно получить из данной таблицы покрытий. Очевидно минимальным (по числу элементарных проверок) покрытиям соответствуют те конъюнкции формы СП, которые содержат наименьшее число двоичных переменных j. Это и будут минимальные тесты.
Таким образом, по таблице покрытий можно построить форму ПС, преобразовать её в форму СП (произведя при этом возможные упрощения) и получить все возможные и, в том числе, минимальные тесты.
Пример синтеза тестов данным методом рассмотрен в п. 6.4.7.
