
- •Управление качеством электронных средств Учебное пособие
- •Содержание
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные
- •3. Современные организационно-экономические методы
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и
- •9. Анализ и контроль качества технологических процессов
- •Предисловие
- •Введение
- •1. Понятие качества, его экономическое и социальное значение
- •1.1. Актуальность проблемы качества
- •Виды качества
- •1.2.1. Подходы к формированию понятия качества
- •1.2.2. Расхождения в понимании качества различными участниками производственного процесса и потребителями
- •1.2.3. Качество с позиций различных технических стандартов
- •1.2.4. «Пирамида качества». Качество жизни
- •История развития управления качеством. Философия обеспечения качества
- •Вопросы для самоконтроля:
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные показатели качества
- •Основные понятия квалиметрии, показатели качества
- •2.2. Методы квалиметрии
- •2.3. Пути обеспечения качества на этапах разработки, производства и эксплуатации изделий
- •Вопросы для самоконтроля:
- •3. Современные организационно-экономические методы управления качеством
- •3.1. Стандартные модели систем управления качеством по исо-9000-87
- •3.2. Цели, задачи и функции системы управления качеством
- •3.3. Документальное обеспечение системы управления качеством
- •3.4. Организация службы управления качеством на предприятии
- •3.5. Учёт и анализ затрат на качество и определение их эффективности
- •3.6. Дальнейшее развитие системы менеджмента качества по стандартам исо-9000-2000
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и поддержания качества продукции на стадии производства
- •4.1. Виды, операции, методы и алгоритмы контроля
- •4.2. Задачи и содержание технологии контроля электронных средств
- •4.3. Испытания электронных средств
- •4.3.1. Классификация испытаний
- •4.3.2. Испытания контроля качества
- •4.3.3. Испытания на надёжность
- •4.3.4. Испытания на воздействие внешних условий
- •5.2. Партия и выборка изделий, обеспечение репрезентативности выборки
- •5.3. Выборочные планы контроля
- •5.4. Математические основы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.5. Организация выборочного контроля по качественному признаку
- •5.6. Стандартные планы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.7. Математические основы выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.1. Общие положения выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.2. Нормальный закон распределения
- •5.7.3. Выборочные оценки параметров нормального распределения
- •5.7.4. Сравнение выборочных средних и дисперсий
- •5.7.5. Проверка нормальности генерального распределения по выборочным данным
- •5.8. Организация выборочного контроля по количественному признаку
- •5.9. Стандартные планы выборочного контроля по количественному признаку
- •6. Электрический контроль электронных узлов и средств
- •6.1. Задачи и методы электрического контроля электронных узлов и электронных средств в целом
- •6.2. Виды диагностического контроля электронных средств
- •6.3. Технические средства электрического контроля электронных средств
- •6.3.1. Индивидуальные средства наладчика
- •6.3.2. Сигнатурные анализаторы
- •6.3.3. Логические анализаторы
- •6.3.4. Автоматические универсальные тестеры
- •6.4. Методы тестирования и синтез тестов
- •6.4.1. Классификация методов тестирования
- •6.4.2. Построение таблицы диагностируемых состояний объекта тестирования
- •6.4.3. Синтез безусловных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.4. Синтез условных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.5. Построение таблицы покрытий и её аналитическое представление
- •6.4.6. Минимизация таблицы покрытий
- •6.4.7. Синтез безусловных тестов путём преобразования таблицы покрытий
- •6.4.8. Синтез тестов по аналитическому представлению таблицы покрытий
- •6.4.9. Синтез тестов методом ветвей и границ
- •6.4.10. Другие методы синтеза тестов
- •7.2. Основные способы улучшения тестопригодности при проектировании электронных средств
- •7.3. Основные показатели ремонтопригодности электронных средств
- •8. Методы самоконтроля и самотестирования электронных средств
- •8.1. Классификация методов самоконтроля
- •8.2. Тестовый самоконтроль электронных средств
- •8.3. Следящий самоконтроль, базирующийся на использовании корректирующих кодов
- •8.3.1. Классификация и теоретические основы построения корректирующих кодов
- •8.3.2. Коды Хэмминга
- •8.3.3. Циклические корректирующие коды
- •8.3.4. Другие избыточные коды
- •8.4. Аппаратные методы следящего самоконтроля
- •8.4.1. Метод дублирования
- •8.4.2. Следящий самоконтроль по модулю
- •8.5. Программные методы следящего самоконтроля
- •9.2. Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •9.2.1. Общая оценка информативных параметров и их отбор для контроля и управления технологическим процессом
- •9.2.2. Диаграмма разброса и её использование для определения корреляционной связи между двумя параметрами
- •9.2.3. Исследование взаимосвязи между технологическими параметрами с помощью корреляционного и регрессионного анализа
- •9.2.4. Методы анализа нелинейных двумерных статистических зависимостей
- •9.3.2. Математический аппарат построения регрессионной модели
- •9.3.3. Выбор стратегии построения регрессионной модели в условиях избыточности факторного пространства
- •9.3.4. Критерии оптимальности многофакторных регрессионных моделей
- •9.3.5. Общий алгоритм построения многофакторной регрессионной модели
- •9.4. Подходы к построению математических моделей динамических технологических процессов
- •9.4.1. Особенности экспериментального исследования
- •9.4.2. Регрессионные методы построения математических моделей технологических процессов, приводимых к условно статическим
- •9.4.3. Рекуррентные методы построения математических моделей
- •Условие минимизации l по â(tN) выражается системой уравнений, которые в матричной форме имеют вид:
- •Заключение
- •Продолжение табл. П3.3.
6.4.2. Построение таблицы диагностируемых состояний объекта тестирования
Задачи диагностирования в общем виде формально можно сформулировать следующим образом.
Задано множество S состояний объекта контроля, которое характеризуется одним исправным состоянием S1 и подмножеством неисправных состояний {Si}. Число неисправных состояний определяется числом возможных или заданных дефектов объекта. Требуемая глубина диагностирования задана разбиением S на непересекающихся подмножеств S, в каждом из которых может находиться несколько состояний Si объекта диагностирования. Система диагностирования должна однозначно различать любую пару состояний (Si, Sк), принадлежащих разным подмножествам S и S. Различать же состояния (Si и Sj), принадлежащие одному и тому же подмножеству не требуется. Задано также множество П допустимых элементарных проверок j объекта диагностирования. Требуемая глубина диагностирования достижима, если множество П элементарных проверок обладает свойствами обнаружения и различения заданных дефектов объекта по классам S.
Применительно к электронным средствам глубина диагностирования обычно задаётся либо до конструктивно законченного узла, либо до компонента, и тогда состояния объекта можно кодировать двоичным кодом, длина которого n равна числу узлов или компонентов (далее будем называть их элементами) в электронном средстве. Исправные состояния элементов кодируются единицей, неисправные – нулём. При этом различают однократные и k-кратные неисправности. Код исправного состояния электронного средства будет состоять только из единиц. Коды состояний с однократными неисправностями будут содержать один нуль и остальные единицы, с двукратными неисправностями – два нуля и т.д. Очевидно, что общее число возможных состояний объекта М будет зависеть и от числа элементов n в нём, и от задаваемой кратности диагностируемых неисправностей k. Если тест должен различать только однократные неисправности (k = 1), то общее число различаемых состояний будет равно М = n+1 (дополнительная единица соответствует исправному состоянию всех элементов). Если тест должен различать и однократные, и двукратные состояния, то их общее число составит М = n+Cn2 +1, где Сп2 – число сочетаний из n по 2 и т.д.
Элементарные проверки подбираются любым способом. Главным условием является, чтобы хотя бы при одном из диагностируемых состояний объекта она бы давала результат, отличный от результатов при других состояниях объекта. Поскольку результатом элементарной проверки может быть либо 0, либо 1, то для одних состояний объекта она будет давать нули, для других – единицы. Элементарные проверки, дающие при всех диагностируемых состояниях нули (или единицы) не имеют смысла (несостоятельны), т.к. не позволяют различить ни одной пары состояний.
Теперь можно приступать к построению таблицы состояний.
Первая строка представляет собой условные обозначения или/и двоичные коды диагностируемых состояний, первый столбец – номера элементарных проверок, остальные строки – результаты элементарных проверок при различных состояниях объекта. Если заданы стоимости элементарных проверок (чаще всего в относительном виде), то справа добавляется ещё один столбец с их указанием. Если заданы вероятности отдельных диагностируемых состояний, то снизу добавляется строка с их указанием.
Рассмотрим методику построения таблицы состояний на следующем примере.
Пример:
Пусть диагностируемый объект состоит из 3-х элементов. Заданные (или подсчитанные методами теории надёжности) вероятности отказов составляют: для первого элемента q1 = 0,01; для второго q2 = 0,02; для третьего q3 = 0,03. Максимальная кратность различаемых неисправностей равна 2 (тест должен различать однократные и двукратные неисправности, поскольку вероятность трёхкратной неисправности будет весьма мала q1,2,3, = 0,01·0,02·0,03=0,000006). Соответственно, число диагностируемых состояний будет М = 3 + С32 +1 = 3 + (3·2)/2 +1 = 7.
Составим двоичные коды этих состояний: 111 – все элементы исправны; 011 – первый элемент неисправен, остальные исправны; и далее: 101; 110; 001; 010; 100.
Вероятности этих состояний рассчитаем как вероятности сложных событий, учитывая, что вероятности исправных состояний элементов pi = 1 – qi . Результаты расчёта представлены в табл. 6.1.
Элементарные проверки зададим произвольным образом с учётом лишь трёх требований: состоятельности (отсутствие сплошных нулей или единиц), отсутствие одинаковых проверок и отсутствие нулевых столбцов. Пусть всего будет 10 элементарных проверок.
В таблице состояний пронумеруем и расположим все указанные состояния в порядке убывания их вероятности, а элементарные проверки пронумеруем и расположим в порядке возрастания их стоимости. В итоге получаем таблицу состояний, представленную табл. 6.2.
Таблица 6.1
Код |
РSi |
|
Код |
РSi |
111 |
0,9411 |
|
001 |
0,0002 |
011 |
0,0095 |
|
010 |
0,0003 |
101 |
0,0192 |
|
100 |
0,0006 |
110 |
0,0291 |
|
|
|
Таблица 6.2.
Si πj |
S1 111 |
S2 110 |
S3 101 |
S4 011 |
S5 100 |
S6 010 |
S7 001 |
Сj |
π1 |
1 |
1 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
1 |
π2 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
1,2 |
π3 |
1 |
0 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1,4 |
π4 |
1 |
0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
1,6 |
π5 |
1 |
0 |
0 |
0 |
1 |
0 |
0 |
2,0 |
π6 |
1 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
2,4 |
π7 |
1 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
1 |
2,8 |
π8 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
0 |
1 |
3,2 |
π9 |
1 |
1 |
0 |
1 |
0 |
0 |
0 |
3,6 |
π10 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
4,0 |
PSi |
0,9411 |
0,0291 |
0,0192 |
0,0095 |
0,0006 |
0,0003 |
0,0002 |
|
Как видим, все элементарные проверки состоятельны, все отличаются друг от друга и пустых (состоящих только из нулей) столбцов нет. Лишь первый столбец, соответствующий исправному состоянию объекта, состоит только из единиц. Это обусловлено тем, что результаты всех элементарных проверок при полностью исправном объекте принято кодировать единицей. Таким образом, безусловный тест, состоящий из всех 10 приведённых в таблице элементарных проверок, будет различать все указанные состояния. Однако такой тест явно не будет минимальным. Различные способы получения минимального или оптимального по стоимости безусловных тестов с безусловной остановкой, а также оптимального по средней стоимости безусловного теста с условной остановкой и оптимального по средней стоимости условного теста рассмотрены в следующих подразделах.