- •Управление качеством электронных средств Учебное пособие
- •Содержание
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные
- •3. Современные организационно-экономические методы
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и
- •9. Анализ и контроль качества технологических процессов
- •Предисловие
- •Введение
- •1. Понятие качества, его экономическое и социальное значение
- •1.1. Актуальность проблемы качества
- •Виды качества
- •1.2.1. Подходы к формированию понятия качества
- •1.2.2. Расхождения в понимании качества различными участниками производственного процесса и потребителями
- •1.2.3. Качество с позиций различных технических стандартов
- •1.2.4. «Пирамида качества». Качество жизни
- •История развития управления качеством. Философия обеспечения качества
- •Вопросы для самоконтроля:
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные показатели качества
- •Основные понятия квалиметрии, показатели качества
- •2.2. Методы квалиметрии
- •2.3. Пути обеспечения качества на этапах разработки, производства и эксплуатации изделий
- •Вопросы для самоконтроля:
- •3. Современные организационно-экономические методы управления качеством
- •3.1. Стандартные модели систем управления качеством по исо-9000-87
- •3.2. Цели, задачи и функции системы управления качеством
- •3.3. Документальное обеспечение системы управления качеством
- •3.4. Организация службы управления качеством на предприятии
- •3.5. Учёт и анализ затрат на качество и определение их эффективности
- •3.6. Дальнейшее развитие системы менеджмента качества по стандартам исо-9000-2000
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и поддержания качества продукции на стадии производства
- •4.1. Виды, операции, методы и алгоритмы контроля
- •4.2. Задачи и содержание технологии контроля электронных средств
- •4.3. Испытания электронных средств
- •4.3.1. Классификация испытаний
- •4.3.2. Испытания контроля качества
- •4.3.3. Испытания на надёжность
- •4.3.4. Испытания на воздействие внешних условий
- •5.2. Партия и выборка изделий, обеспечение репрезентативности выборки
- •5.3. Выборочные планы контроля
- •5.4. Математические основы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.5. Организация выборочного контроля по качественному признаку
- •5.6. Стандартные планы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.7. Математические основы выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.1. Общие положения выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.2. Нормальный закон распределения
- •5.7.3. Выборочные оценки параметров нормального распределения
- •5.7.4. Сравнение выборочных средних и дисперсий
- •5.7.5. Проверка нормальности генерального распределения по выборочным данным
- •5.8. Организация выборочного контроля по количественному признаку
- •5.9. Стандартные планы выборочного контроля по количественному признаку
- •6. Электрический контроль электронных узлов и средств
- •6.1. Задачи и методы электрического контроля электронных узлов и электронных средств в целом
- •6.2. Виды диагностического контроля электронных средств
- •6.3. Технические средства электрического контроля электронных средств
- •6.3.1. Индивидуальные средства наладчика
- •6.3.2. Сигнатурные анализаторы
- •6.3.3. Логические анализаторы
- •6.3.4. Автоматические универсальные тестеры
- •6.4. Методы тестирования и синтез тестов
- •6.4.1. Классификация методов тестирования
- •6.4.2. Построение таблицы диагностируемых состояний объекта тестирования
- •6.4.3. Синтез безусловных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.4. Синтез условных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.5. Построение таблицы покрытий и её аналитическое представление
- •6.4.6. Минимизация таблицы покрытий
- •6.4.7. Синтез безусловных тестов путём преобразования таблицы покрытий
- •6.4.8. Синтез тестов по аналитическому представлению таблицы покрытий
- •6.4.9. Синтез тестов методом ветвей и границ
- •6.4.10. Другие методы синтеза тестов
- •7.2. Основные способы улучшения тестопригодности при проектировании электронных средств
- •7.3. Основные показатели ремонтопригодности электронных средств
- •8. Методы самоконтроля и самотестирования электронных средств
- •8.1. Классификация методов самоконтроля
- •8.2. Тестовый самоконтроль электронных средств
- •8.3. Следящий самоконтроль, базирующийся на использовании корректирующих кодов
- •8.3.1. Классификация и теоретические основы построения корректирующих кодов
- •8.3.2. Коды Хэмминга
- •8.3.3. Циклические корректирующие коды
- •8.3.4. Другие избыточные коды
- •8.4. Аппаратные методы следящего самоконтроля
- •8.4.1. Метод дублирования
- •8.4.2. Следящий самоконтроль по модулю
- •8.5. Программные методы следящего самоконтроля
- •9.2. Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •9.2.1. Общая оценка информативных параметров и их отбор для контроля и управления технологическим процессом
- •9.2.2. Диаграмма разброса и её использование для определения корреляционной связи между двумя параметрами
- •9.2.3. Исследование взаимосвязи между технологическими параметрами с помощью корреляционного и регрессионного анализа
- •9.2.4. Методы анализа нелинейных двумерных статистических зависимостей
- •9.3.2. Математический аппарат построения регрессионной модели
- •9.3.3. Выбор стратегии построения регрессионной модели в условиях избыточности факторного пространства
- •9.3.4. Критерии оптимальности многофакторных регрессионных моделей
- •9.3.5. Общий алгоритм построения многофакторной регрессионной модели
- •9.4. Подходы к построению математических моделей динамических технологических процессов
- •9.4.1. Особенности экспериментального исследования
- •9.4.2. Регрессионные методы построения математических моделей технологических процессов, приводимых к условно статическим
- •9.4.3. Рекуррентные методы построения математических моделей
- •Условие минимизации l по â(tN) выражается системой уравнений, которые в матричной форме имеют вид:
- •Заключение
- •Продолжение табл. П3.3.
6.3.2. Сигнатурные анализаторы
В основе принципа действия сигнатурного анализатора лежит свёртка двоичных последовательностей, образующихся во время тестирования в определённых узлах цифровой схемы, в однозначно характеризующую этот узел сигнатуру, представляющую собой четырёхразрядное шестнадцатеричное число. Для образования сигнатур на входы контролируемой цифровой схемы должны подаваться определённые двоичные последовательности – тесты. Обычно тестовая последовательность записывается в ПЗУ тестов самого контролируемого устройства или вводится в её ОЗУ с любого машинного носителя, а на специальной карте сигнатур для каждого проверяемого блока указываются образцовые сигнатуры, для всех контрольных точек. Эти сигнатуры представляют собой шестнадцатеричные четырёхразрядные числа, полученные путём свёртки двоичных последовательностей, которые должны иметь место в данных контрольных точках испытуемого блока при подаче на его вход тестовой последовательности, если блок находится в полной исправности.
В ряде случаев генератор тестовой последовательности непосредственно встраивают в контролируемые платы. Такие генераторы достаточно просты и их встраивание в платы и блоки цифровых устройств не приводит к существенному удорожанию продукции и, в то же время, облегчает процедуру контроля данных блоков. В частности, применение сигнатурного анализатора в виде компактного пробника возможно лишь в том случае, когда генерация тестовой последовательности и тактовых импульсов (синхросигнала) осуществляется самим тестируемым устройством одним из двух рассмотренных способов (программным или аппаратным). Сам сигнатурный анализатор в этом случае достаточно прост и может быть размещён в компактном корпусе размером чуть больше авторучки. Он состоит из шестнадцатиразрядного сдвигового регистра, параллельные выходы которого дешифрируются в модифицированный шестнадцатеричный код и индицируются четырёхразрядным семисегментным цифровым индикатором. На информационный вход регистра поступают импульсы с цепочки 4-х последовательно соединённых сумматоров по модулю 2, на которые заведены обратные связи с 7-го, 9-го, 12-го и 16-го триггеров регистра. Тестовая последовательность поступает на вход первого из них, а тактовые импульсы – через селектор, позволяющий формировать «временные ворота». В итоге получаем схему, показанную на рис. 6.1.
Модифицированный шестнадцатеричный код отличается от обычного шестнадцатеричного кода только буквенной частью. Для обозначения цифр 10, 11, 12, 13, 14 и 15 вместо букв A B C D E F используются буквы A C F H P U. Это делается для того, чтобы при семисегментной индикации не перепутать буквы с цифрами, например, цифру 0 и букву D, цифру 8 и букву В, которые на семисегментном индикаторе отображаются одинаково.
Методика контроля состоит в том, что блок тестируемый блок переводится в тестовый режим, то есть его информационные входы отключаются от функциональных входов и на них циклически подаётся определённая тестовая двоичная последовательность от встроенного генератора тестов, а далее, пробником определяются сигнатуры на всех контрольных точках и сравниваются с заданными на сигнатурной карте. Если они везде совпадают, то блок исправен. Тот функциональный узел, на входе которого сигнатура правильна, а на выходе нет, является неисправным. Таким образом, контроль цифровых устройств и локализация неисправности в них с помощью сигнатурного анализа не составляет труда и не требует от контролёра высокой квалификации.
Особенно удобно применение сигнатурного анализа при ремонте. Но благодаря своей простоте и высокой производительности он достаточно широко применяется и на производстве.
Теоретической базой сигнатурного анализа является теория циклических кодов. Математическое описание циклических кодов основано на возможности отображения любого двоичного числа многочленом фиктивной переменной Х, степень которого определяется разрядностью этого двоичного числа и равна n – 1 (где n – число двоичных разрядов). При этом в полиноме сохраняются лишь те члены, которым соответствуют единичные значения двоичных разрядов. Например, двоичной последовательности 1100101 соответствует полином 1+x+x4+x6. Соответственно при числе разрядов двоичных последовательностей n = 16 максимальная степень отображающих их полиномов равна 15.
Обозначим полиномы, отображающие выходные двоичные последовательности контролируемой цифровой схемы, G(x). Будем делить их на порождающий полином вида
Р(х)=1+х6+х8+х11+х15.
В общем случае при делении мы будем получать частное Q(x) и остаток R(x) и при этом
G(x)
= P(x)Q(x)
R(x), (6.1)
где означает сложение по модулю два соответствующих многочленов.
Если в двоичной последовательности произошли ошибки, то она отобразится уже другим полиномом G`(x), который можно получить из исходного полинома путём сложения по модулю два с полиномом ошибок Е(х):
G`(x) = G(x) Е(х) . (6.2)
При этом выполняется равенство:
Е(х) = G(x) G`(x) . (6.3)
Аналогично (6.1) при делении G`(x) на порождающий полином получим:
G`(x)= P(x)·Q(x) R`(x) . (6.4)
Если остатки R`(x) и R(x) не совпадают:
R`(x) ≠ R(x) , (6.5)
то это позволит обнаружить ошибку в исходной двоичной последовательности.
Операция деления исходного полинома на порождающий полином реализуется с помощью сдвигового регистра и последовательно включённых сумматоров по модулю 2, на которые заведены связи с 7, 9, 12 и 16 разрядов регистра. А на цифровом индикаторе мы и получаем отображение остатка от деления, который и называется сигнатурой.
Вероятность того, что две отличающиеся друг от друга двоичные последовательности дадут одинаковые остатки, можно определить из выражения
, (6.6)
где
при n
– m
≤ 0;
при n
– m
> 0; n
– число разрядов анализируемых двоичных
последовательностей; m
– число разрядов сдвигового регистра.
В нашем случае m = 16. Следовательно, при n ≤ 16 вероятность пропуска ошибки будет равна нулю, при n = 17, она будет равняться:
.
Это означает, что лишь одна пара из 217 возможных двоичных последовательностей будет давать одинаковые остатки.
При длине последовательностей n = 18 из 218 возможных последовательностей лишь 3 пары будут давать одинаковые остатки. При n = 19 таких пар будет 7 и т.д. В пределе, при n вероятность ошибочного распознавания исходной последовательности по её остатку от деления на порождающий полином не будет превышать Р = 0,00002.
Выбор длины двоичной тестовой последовательности n определяется необходимой диагностической способностью теста, которая тем выше, чем больше n. В большинстве случаев для диагностики несложных цифровых устройств вполне достаточно тестовой последовательности длиной в 16 бит (n = 16). При такой их длине, вообще говоря, можно было бы обойтись и без сумматоров по модулю два, непосредственно преобразуя шестнадцатиразрядные двоичные числа, образующиеся в сдвиговом регистре, в соответствующие шестнадцатеричные числа. В этом случае мы так же получили бы вероятность ошибки равную нулю. Но для n больше 16 такое преобразование будет давать большую вероятность ошибки равную
. (6.7)
Подставляя
в эту формулу n
= 17, получаем
n
= 18,
n
= 19,
то есть при n∞ вероятность ошибки будет стремиться к 1.
Отсюда видно, что для n > 16 таким преобразованием для целей диагностики пользоваться нельзя. В этом и состоит преимущество использования свёртки с помощью деления на порождающий полином, используемый в сигнатурных анализаторах.
Учитывая, что технически такая свёртка, реализуется весьма просто, сам сигнатурный анализатор несложно выполнить весьма компактным в виде пробника. Однако при этом, ввод тестовых последовательностей в контролируемый блок должен осуществляться самим этим блоком либо программно, если в блоке имеется процессор и ПЗУ, куда можно записать тест, либо аппаратно. В последнем случае в проверяемый блок при его изготовлении встраивается генератор теста, а в техническую документацию блока входит карта контрольных точек с образцовыми сигнатурами. То есть в данных случаях уже при проектировании цифрового устройства закладывается его диагностический контроль с помощью сигнатурного анализа.
В случае же, если при проектировании цифрового устройства не был предусмотрен его контроль с помощью сигнатурного анализа, одного пробника – сигнатурного анализатора для его осуществления ещё недостаточно. Необходимо также иметь генератор тестовых последовательностей и адаптер для ввода их в контролируемый блок. Поэтому сигнатурный анализатор выполняется уже не в виде пробника, а в виде автономного прибора с развитыми средствами диалога с оператором.
