- •Управление качеством электронных средств Учебное пособие
- •Содержание
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные
- •3. Современные организационно-экономические методы
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и
- •9. Анализ и контроль качества технологических процессов
- •Предисловие
- •Введение
- •1. Понятие качества, его экономическое и социальное значение
- •1.1. Актуальность проблемы качества
- •Виды качества
- •1.2.1. Подходы к формированию понятия качества
- •1.2.2. Расхождения в понимании качества различными участниками производственного процесса и потребителями
- •1.2.3. Качество с позиций различных технических стандартов
- •1.2.4. «Пирамида качества». Качество жизни
- •История развития управления качеством. Философия обеспечения качества
- •Вопросы для самоконтроля:
- •2. Качество продукции, методы его оценивания и основные показатели качества
- •Основные понятия квалиметрии, показатели качества
- •2.2. Методы квалиметрии
- •2.3. Пути обеспечения качества на этапах разработки, производства и эксплуатации изделий
- •Вопросы для самоконтроля:
- •3. Современные организационно-экономические методы управления качеством
- •3.1. Стандартные модели систем управления качеством по исо-9000-87
- •3.2. Цели, задачи и функции системы управления качеством
- •3.3. Документальное обеспечение системы управления качеством
- •3.4. Организация службы управления качеством на предприятии
- •3.5. Учёт и анализ затрат на качество и определение их эффективности
- •3.6. Дальнейшее развитие системы менеджмента качества по стандартам исо-9000-2000
- •4. Контроль и испытания – основные методы определения и поддержания качества продукции на стадии производства
- •4.1. Виды, операции, методы и алгоритмы контроля
- •4.2. Задачи и содержание технологии контроля электронных средств
- •4.3. Испытания электронных средств
- •4.3.1. Классификация испытаний
- •4.3.2. Испытания контроля качества
- •4.3.3. Испытания на надёжность
- •4.3.4. Испытания на воздействие внешних условий
- •5.2. Партия и выборка изделий, обеспечение репрезентативности выборки
- •5.3. Выборочные планы контроля
- •5.4. Математические основы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.5. Организация выборочного контроля по качественному признаку
- •5.6. Стандартные планы выборочного контроля по качественному признаку
- •5.7. Математические основы выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.1. Общие положения выборочного контроля по количественному признаку
- •5.7.2. Нормальный закон распределения
- •5.7.3. Выборочные оценки параметров нормального распределения
- •5.7.4. Сравнение выборочных средних и дисперсий
- •5.7.5. Проверка нормальности генерального распределения по выборочным данным
- •5.8. Организация выборочного контроля по количественному признаку
- •5.9. Стандартные планы выборочного контроля по количественному признаку
- •6. Электрический контроль электронных узлов и средств
- •6.1. Задачи и методы электрического контроля электронных узлов и электронных средств в целом
- •6.2. Виды диагностического контроля электронных средств
- •6.3. Технические средства электрического контроля электронных средств
- •6.3.1. Индивидуальные средства наладчика
- •6.3.2. Сигнатурные анализаторы
- •6.3.3. Логические анализаторы
- •6.3.4. Автоматические универсальные тестеры
- •6.4. Методы тестирования и синтез тестов
- •6.4.1. Классификация методов тестирования
- •6.4.2. Построение таблицы диагностируемых состояний объекта тестирования
- •6.4.3. Синтез безусловных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.4. Синтез условных тестов с использованием таблицы состояний
- •6.4.5. Построение таблицы покрытий и её аналитическое представление
- •6.4.6. Минимизация таблицы покрытий
- •6.4.7. Синтез безусловных тестов путём преобразования таблицы покрытий
- •6.4.8. Синтез тестов по аналитическому представлению таблицы покрытий
- •6.4.9. Синтез тестов методом ветвей и границ
- •6.4.10. Другие методы синтеза тестов
- •7.2. Основные способы улучшения тестопригодности при проектировании электронных средств
- •7.3. Основные показатели ремонтопригодности электронных средств
- •8. Методы самоконтроля и самотестирования электронных средств
- •8.1. Классификация методов самоконтроля
- •8.2. Тестовый самоконтроль электронных средств
- •8.3. Следящий самоконтроль, базирующийся на использовании корректирующих кодов
- •8.3.1. Классификация и теоретические основы построения корректирующих кодов
- •8.3.2. Коды Хэмминга
- •8.3.3. Циклические корректирующие коды
- •8.3.4. Другие избыточные коды
- •8.4. Аппаратные методы следящего самоконтроля
- •8.4.1. Метод дублирования
- •8.4.2. Следящий самоконтроль по модулю
- •8.5. Программные методы следящего самоконтроля
- •9.2. Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •9.2.1. Общая оценка информативных параметров и их отбор для контроля и управления технологическим процессом
- •9.2.2. Диаграмма разброса и её использование для определения корреляционной связи между двумя параметрами
- •9.2.3. Исследование взаимосвязи между технологическими параметрами с помощью корреляционного и регрессионного анализа
- •9.2.4. Методы анализа нелинейных двумерных статистических зависимостей
- •9.3.2. Математический аппарат построения регрессионной модели
- •9.3.3. Выбор стратегии построения регрессионной модели в условиях избыточности факторного пространства
- •9.3.4. Критерии оптимальности многофакторных регрессионных моделей
- •9.3.5. Общий алгоритм построения многофакторной регрессионной модели
- •9.4. Подходы к построению математических моделей динамических технологических процессов
- •9.4.1. Особенности экспериментального исследования
- •9.4.2. Регрессионные методы построения математических моделей технологических процессов, приводимых к условно статическим
- •9.4.3. Рекуррентные методы построения математических моделей
- •Условие минимизации l по â(tN) выражается системой уравнений, которые в матричной форме имеют вид:
- •Заключение
- •Продолжение табл. П3.3.
5.8. Организация выборочного контроля по количественному признаку
Как
уже говорилось выше контроль по
количественному признаку возможен лишь
в том случае, если разбраковка изделий
на годные и бракованные ведётся по
измеримому признаку. Выход этого признака
за установленные допустимые значения
рассматривается в этом случае как
критический или главный дефект. Изделий
с такими дефектами должно содержаться
в принимаемой партии не больше заранее
установленного значения. Может показаться,
что при таких рассуждениях мы опять
приходим к уже рассмотренному выше
случаю контроля по качественному
признаку. Так оно и было бы, в случае
сведения сути контроля выборки к
установлению факта: выходит контролируемый
признак за установленные допуски или
нет. Вся разница заключается в том, что
в данном случае контролируемый признак
не просто сравнивается с допустимыми
значениями, а измеряется с определённой
точностью. По результатам измерений
всех изделий выборки рассчитываются
её статистические характеристики (как
правило: среднее арифметическое значение
и выборочная дисперсия S2).
Это даёт больше информации о контролируемой
партии изделий, а, следовательно, при
том же объёме выборки должно повышать
эффективность контроля или же обеспечивать
ту же эффективность контроля при меньшем
объёме выборки, чем при определении
только числа бракованных изделий в
выборке, что имеет место при контроле
по качественному признаку. Ниже мы
убедимся, что так оно и есть. Поэтому на
контроль по количественному признаку
следует переходить в тех случаях, когда
необходимо достичь максимальной
эффективности контроля при минимальном
объёме выборки, а признак, по которому
ведётся контроль, поддаётся количественным
измерениям.
Теория рассматриваемого метода основывается на предположении, что закон распределения контролируемого признака является нормальным. При рассмотрении математических основ выборочных методов мы уже показывали, что это в большинстве случаев соответствует реальности.
Обозначим верхнюю границу допуска на измеряемый признак Тв, а нижнюю – Тн. Это случай двустороннего допуска. Может быть задан и односторонний допуск: либо только Тв, либо только Тн. Если известны параметры распределения генеральной совокупности (а их можно определить по нескольким десяткам выборок, проведённых за достаточно длительный период производства данных изделий), то есть М(х) = μ и , то долю вышедших за верхний Ртв или нижний Ртн пределы допуска (односторонний допуск) легко найти по таблицам (табл. П.2.2 Приложения 2) нормированных функций нормального распределения Ф(), где
,
,
.
(5.64)
Из
тех же таблиц можно получить и суммарную
долю изделий, вышедших за верхний и
нижний пределы допуска (двухстороннее
ограничение). Причём, если границы
допуска расположены симметрично
относительно μ, то значение, найденное
для одностороннего допуска просто
удваивается, если же несимметрично, то
значения РТв
и РТн
находятся отдельно и складываются.
Найденную таким образом долю дефектных
изделий в генеральной совокупности
обозначим РТ.
Сравнивая её с заданным значением
допустимого уровня качества, получаем,
что для принимаемых партий:
,
где
для одностороннего допуска;
или
для двустороннего. Следовательно, должно
выполняться и следующее неравенство:
или, учитывая (5.64), для верхнего предела
допуска:
(5.65)
и для нижнего предела допуска
. (5.66)
Однако задачей выборочного контроля является приёмка или отклонение партии изделий, а её параметры ( и ) могут не соответствовать параметрам генеральной совокупности. При этом чаще всего смещается , а значение остаётся от партии к партии относительно стабильным. В этом случае можно использовать аналогичные неравенства, заменив выборочным средним, а вместо P введя приёмочный критерий k :
для
верхнего допуска:
; (5.67)
для
нижнего допуска:
. (5.68)
(4.68)
Отсюда получим:
для
верхнего допуска:
; (5.69)
для
нижнего допуска:
. (5.70)
Если
для генеральной совокупности неизвестно,
то его заменяют выборочной оценкой S.
Обозначая
и
,
где QB
и QH
называют индексами качества, вместо
неравенств (4.67) и (4.68) получаем
k ≤ QB; (5.71)
k ≤ QH . (5.72)
Выбор величины критерия приёмки k определяется требуемой жёсткостью контроля, зависящей от задаваемых значений рисков изготовителя и потребителя и , а также от соответствующих им значений P и P.
Получить эту зависимость аналитически невозможно. Поэтому при составлении планов выборочного контроля поступают так же, как и при контроле по качественному признаку, а именно, заранее просчитывают множество вариантов выборочных планов, обеспечивающих различную жёсткость контроля, сводят их в стандартные таблицы, из которых затем для каждого конкретного случая выбирается наиболее подходящий план выборочного контроля. Мы будем использовать для этого международный стандарт TGL 14452.
