- •Лекции по конструкторско-технологическому обеспечению
- •Поколения конструкции электронной аппаратуры
- •Основы микроэлектроники
- •Классификация интегральных схем (ис)
- •Простые и сложные микросхемы
- •Технологические основы микроэлектроники
- •Кристаллическая структура и свойства полупроводника
- •Элементы биполярных ис
- •Типичная конфигурация биполярных транзисторов в плане.
- •Супер β-транзисторы
- •Многоколлекторные n-p-n транзисторы
- •Латеральный (горизонтальный) p-n-p транзистор
- •Схемы с инжекционным питанием (и2л)
- •Диффузионные, ионно-инжекционные и тонкопленочные резисторы
- •Диффузионные и мдп конденсаторы (металл-диэлектрик-полупроводник)
- •Структура мдп интегральных схем
- •Проектирование межэмиттерных элементов
- •Основные технологические операции изготовления ис
- •Методы получения эпитаксиальных слоев кремния
- •Диффузия примеси полупроводников
- •Методы осуществления диффузии
- •Диффузия в открытой трубе
- •Диффузия примеси на этапе разгонки
- •Ионная имплантация
- •Сущность ионного легирования
- •Формирование диэлектрических покрытий
- •Осаждение диэлектрических пленок
- •Литография
- •Основные операции фотолитографического процесса
- •Перспективные методы литографии
- •Методы получения тонких пленок
- •Метод магнетронного распыления
- •Технология тонкопленочных имс
- •Пассивные тонкопленочные элементы имс
- •Методы формирования конфигураций тонкопленочных элементов
- •Технология толстопленочных гис
- •Основные технологические операции изготовления толстопленочных гис
- •Сборка микросхем
- •Технология электромонтажных работ
- •Материалы для печатных плат
- •Основы технологии изготовления рисунка пп
- •Технический процесс получения рисунка
- •Сборка навесных элементов на пп
- •Поверхностный монтаж изделий электронной техники
- •Технологические процессы сборки
- •Единая система конструкторской документации ескд
Технология тонкопленочных имс
Применение:
изготовление ИМС на отдельной подложке обеспечивает высокое качество пассивных элементов и высокосоставных.
технология подготовки персонала проста и требует меньших затрат
использование любых навесных активных элементов
изготовление изделий большой мощности
возможность предварительных испытаний и пассивных компонентов
Основные конструкции и схемы элементов и компонентов толстопленочных и тонкопленочных ИМС : корпус, диэлектрическая подложка, пленочные резисторы, конденсаторы, проводники и контактные площадки, навесные бескорпусные приборы, интегральные схемы, пассивные компоненты.
В подложке ТГИС.
Материал геометрических размеров и состояния поверхности подложек во многом определяет количество, формируемых элементов и надежность функциональных ИМС и микросборок.
Для маломощных ИМС применяют боросиликатные и алюмосиликатные стекла.
А для мощных ГИС – применяют керамит и поликор, для особо мощных применяют берилловую керамику, теплопроводность которой в 200-250 раз больше стекла (но есть недостаток – шероховатость).
Фотосетал – материал, полученный путем кристаллизации светочувствительного стекла.
Габаритные размеры стандартизированы ГОСТ 174.67-88 (размеры баз подложки 90х120 или деление на части кратно 2-3, что дает ряд типа размеров соответствующих размерам мест в корпусах.
Перед нанесением пленок, подложка подвергается очистке. Способы : механическая, в ультразвуковой ванне с инертной жидкостью, химический отжиг в вакууме, очистка ионной и электронной бомбардировкой.
Пассивные тонкопленочные элементы имс
1. Резисторы (Свойства тонкопленочных резисторов определяются материалами и условиями осаждения)
ρs = 10…10000 Ом/квадрат
1,1-0,8 микрон – толщина пленки
Материалы:
- хром, нихром
- кернет
- силицидные сплавы
2. токоведущие элементы (Откладки конденсаторов, межсоединения, контактные площадки)
Широко применяются пленки меди или алюминия с подслоем защищенным никелем или золотом.
Для ГБИС используют золото с подслоем хрома, нихрома, для хорошей адгезии, промежуточный слой обеспечивает высокую адгезию, а золото – нужную проводимость.
3. конденсаторы
основные материалы – золото, алюминий, медь, имеющие нужную адгезию к подложке.
Для предотвращения окисления меди, ее поверхность покрывают золотом или серебром.
Для диэлектрической изоляции променяют пленки моноокислов кремния и германия.
Основной материал защиты ГИС – это фоторезист ФН-103 моноокисла кремния.
Методы формирования конфигураций тонкопленочных элементов
Совокупность операций технологического маршрута производства ГИС включает в себя:
подготовка поверхности подложки
нанесение пленок на подложку
формирование конфигураций тонкопленочных элементов
монтаж и сборка навесных компонентов
защита и герметизация ГИС от внешней среды
Важны контрольные операции, а также подготовка производства, а именно изготовления компонента массы и фотошаблона, приобретение, изготовление, вход контрольных компонентов ГИС и исходных материалов.
Тонкие проводящие и резистивные и диэлектрические пленки наносят на подложку термическим испарением в вакууме, катодным или ионно-плазменным напылением, химическим или электрохимическим осаждением.
Для формирования рисунков пленок используют методы:
масочный, когда соответствующие материалы напыляют на подложку через маску
- съемная маска – лента берилловой бронзы 0,1-0,2 мм (сверху никель – 10 микрон)
- контактная (слой меди 0,3-05 микрон)
2. фотолитографический – пленка наносится на поверхность подложки, а затем вытравливается с участков незащищенных фоторезистом.
3. электронно-лучевой – определенные участки пленки удаляют с подложки по заданной программе под воздействие заданного луча
4. лазерный – аналогично электронно-лучевому, только с использованием лазера
При массивном производстве при масочном методе точность ± 5%.
Основные методы подготовления тонкопленочных резисторов:
- механический (точность 1%)
- лазерный (точность 0,1-0,5%)
При лазерной подготовке так же как и при механической удаляется часть проводящей пленки, что приводит к увеличению сопротивления.
