- •Лекции по конструкторско-технологическому обеспечению
- •Поколения конструкции электронной аппаратуры
- •Основы микроэлектроники
- •Классификация интегральных схем (ис)
- •Простые и сложные микросхемы
- •Технологические основы микроэлектроники
- •Кристаллическая структура и свойства полупроводника
- •Элементы биполярных ис
- •Типичная конфигурация биполярных транзисторов в плане.
- •Супер β-транзисторы
- •Многоколлекторные n-p-n транзисторы
- •Латеральный (горизонтальный) p-n-p транзистор
- •Схемы с инжекционным питанием (и2л)
- •Диффузионные, ионно-инжекционные и тонкопленочные резисторы
- •Диффузионные и мдп конденсаторы (металл-диэлектрик-полупроводник)
- •Структура мдп интегральных схем
- •Проектирование межэмиттерных элементов
- •Основные технологические операции изготовления ис
- •Методы получения эпитаксиальных слоев кремния
- •Диффузия примеси полупроводников
- •Методы осуществления диффузии
- •Диффузия в открытой трубе
- •Диффузия примеси на этапе разгонки
- •Ионная имплантация
- •Сущность ионного легирования
- •Формирование диэлектрических покрытий
- •Осаждение диэлектрических пленок
- •Литография
- •Основные операции фотолитографического процесса
- •Перспективные методы литографии
- •Методы получения тонких пленок
- •Метод магнетронного распыления
- •Технология тонкопленочных имс
- •Пассивные тонкопленочные элементы имс
- •Методы формирования конфигураций тонкопленочных элементов
- •Технология толстопленочных гис
- •Основные технологические операции изготовления толстопленочных гис
- •Сборка микросхем
- •Технология электромонтажных работ
- •Материалы для печатных плат
- •Основы технологии изготовления рисунка пп
- •Технический процесс получения рисунка
- •Сборка навесных элементов на пп
- •Поверхностный монтаж изделий электронной техники
- •Технологические процессы сборки
- •Единая система конструкторской документации ескд
Методы получения тонких пленок
Основные методы нанесения тонких пленок на подложку и друг на друга
– термическое (вакуумное) напыление.
– электрохимическое напыление
– ионно-плазменоое напыление
· катодное
· ионно-плазмическое
Метод основан на подаче направленного потока пара вещества и последовательной конденсации его на поверхности подложки, имеющей температуру ниже температуры источника пара.
Пленка при конденсации формируется из отдельных атомов или молекул пара вещества. Процесс термо-вакуумного напыления состоит из 4 этапов:
1 – образование пара вещества
2 – перемещение частиц пара от источника к подложкам
3 – конденсация пара на подложках
4 – образование зародышей и рост пленки
Достоинство метода: простота и возможность получения чистых пленок.
Недостатки:
- трудность напыления тугоплавких материалов.
- трудность или невозможность воспроизведения на подложке химического состава испаряемого вещества, так как при высокой температуре химические соединения диссоциируют (разделятся), а их составляющие конденсируются на подложке раздельно. Есть вероятность того, что новая комбинация на подложке не будет соответствовать структуре исходной молекулы.
При катодном и ионно-плазменный распылении энергия, необходимая для отрыва атом испаряемого вещества получается в результате бомбардировки ее поверхности ионами плазмы. Атомы вылетают с поверхности катода при его разрушении, распространяются в окружающем пространстве и конденсируют на подложке. Плазму получают возбуждением тлеющего разряда между двумя электродами, находящимися под разностью потенциалов 3-6 кВ и при давлении 13-0,1 Па.
Г
азовая
среда при катодном напылении может
быть инертной (аргон) или химически
активной (кислород).
Процесс распыления в химически активной среде называется реактивным напылением.
Метод катодного напыления позволяет получить тонкие пленки металлов, а также пленки различных сплавов, характеризующиеся высокой адгезией (прилипанию) и однородностью.
Пример:
распыление не с высокой температурой
м
ожно
получить большую поверхность и лучшую
равномерность толщины пленки, так как
напыление идет не с точечного источника,
а с плоской поверхности катода
Ионно-плазменный метод – разновидность катодного распыления, но осуществляется не бомбардированием катода, возбужденного ионом тлеющего разряда, а бомбардировкой специальной массой газового разряда.
Катодное распыление – двухэлектродное.
Основные недостатки:
трудность изготовления мишеней определенной формы и размеров из материалов высокой чистоты (наличие остаточных газов)
сложность контроля процессов распыления и управления ими
низкая скорость роста пленок
Метод магнетронного распыления
Это дальнейшее развитие ионно-плазменного напыления.
Метод основан на распылении материала засчет бомбардировки поверхности решетки ионами рабочего газа (аргона), образующегося в плазме тлеющего разряда при наложении неоднородных скрещенных электрического и магнитного полей. При этом в локализации плазмы у распыляемой поверхности мишеней, с помощью сильного поперечного магнитного поля, увеличенного плотность ионного тока.
Совершенствование систем магнетропии распыления – создания сканирующего над поверхностью мишеней магнитного поля, установок периодического и непрерывного действия с помощью автоматизации процесса.
Для микроэлектропии наиболее перспективно для нанесения пленок из металлов сплавов и соединений.
В производстве ИМС и БИС расширено применение для формирования внутренних соединений и контролируемых узлов БГИС и полупроводников ИМС, а также электродов с затвором МОП-структуры.
