
- •Роках а.Г.
- •Оглавление
- •Учебное издание
- •Введение
- •1. Способность к познанию
- •1.1. История - ключ к современности
- •1.2. Модель психики
- •1.3. История и доистория
- •2. Черты восточного миросозерцания
- •3. Античность
- •3.1. Первые греческие мыслители
- •3.2. Сократ, Платон и Аристотель
- •3.3. Александрийская эпоха
- •3.5. Христианство и физика
- •4. Средневековье и ростки наук
- •4.1. Роль арабской науки
- •4.2. Образование и мыслители средневековой Европы
- •4.3. Загадка средневековья. Магия и алхимия
- •5. Возрождение
- •6. Начало Нового времени
- •6.1. Гелиоцентрическая система и научная революция. Коперник, Галилей, Кеплер
- •6.2. Протестантизм и реформация
- •6.3. Начало философии и физики Нового времени
- •6.4. Исаак Ньютон и триумф механики
- •6.5. Оптика в 17-18 веках
- •7. Восемнадцатый век
- •7.1. Промышленное развитие
- •7.2. Температура и природа теплоты
- •7.3. Электричество. Лейденская банка
- •7.4. Теории электричества
- •8. Девятнадцатый век
- •8.1. Оптика. Интерференция
- •8.2. Поляризация
- •8.3. Волновая теория Френеля
- •8.4. Скорость света
- •8.5. Эфир
- •8.6. Теплота. Тепловое расширение. Сжижение газов
- •8.7. Зарождение термодинамики
- •9.Термодинамика
- •10. Электродинамика
- •10.1. Электрический ток
- •10.2. Электродинамика Ампера
- •11. Электромагнетизм
- •11.1. Майкл Фарадей
- •11.2. Магнитооптика
- •12. Электромагнитная теория. Максвелл
- •13. Электрон, рентгеновские лучи и радиоактивность
- •13.1. Катодные лучи. Электрон
- •13.2. Рентгеновские лучи
- •13.3. Радиоактивность
- •13.4. Фотоэлектрический эффект и термоэлектронная эмиссия
- •14. Двадцатый век
- •14.1. Специальная теория относительности
- •14.2. Общая теория относительности
- •14.3. О предшественниках то
- •14.4. Философская борьба вокруг теории относительности
- •15. Физика дискретного
- •15.1. Квант действия и физика квантов
- •15.2. Кризис в физике. Работа в.И.Ленина “Материализм и эмпириокритицизм”
- •15.3. Радиоактивный распад
- •16. Модели атома, квантовая механика, деление ядра
- •16.1. Модели атома
- •16.2. Квантовая механика
- •16.3. Искусственная радиоактивность и семейство микрочастиц
- •16.4. Циклотрон
- •16.5. Деление ядра
- •16.6. Космические лучи
- •16.7. Ядерные "силы" и цепная реакция
- •17. О методологии современной физики
- •17.1. Физика, философия, мистицизм
- •17.2. Физика и математика
- •17.3. "Физический вакуум"
- •17.4. О творцах современной физики
- •18. Физика в России и в ссср
- •18.1. Физика в царской России
- •18.2. Борьба с "физическим идеализмом" в ссср
- •18.3. Физические общества в России35
- •19. О науке и лженауке
- •19.1. Некоторые публикации
- •19.2. Немного истории
- •19.3. Позиция автора
- •19.4. Обращение Президиума ран научным работникам россии, профессорам и преподавателям вузов, учителям школ и техникумов, всем членам российского интеллектуального сообщества
- •19.5. Грядет ли антинаучная революция?
- •20. Немного о будущем
- •20.1. О прогнозе развития физики в 21 веке
- •20.2. Физика и гуманитарная культура
- •Заключение
- •Литература Основная литература
- •Дополнительная литература
- •Приложения
- •2. Наука и мистицизм53 Размышления и дискуссии
- •2.1. Отклик на статью академика в. Гинзбурга
- •2.2. Ответ в.Л. Гинзбурга
- •2.3. Д. Мережковский поправляет Поликинхорна
- •2.4. Какая наука ближе к объяснению "чудес"?
- •2.5. Мистический хаос на пути к структуре54
- •3. Плодотворна ли религия для ученого?55
- •4. Рифмованный итог
- •5. История электроники63
- •1.Введение
- •2. Фундамент развития электроники
- •3. Этапы развития электроники
- •Третий период развития электроники
- •4.1 Изобретение точечного транзистора.
- •4.2 Изобретение плоскостного биполярного транзистора.
- •4.3 Предпосылки появления транзисторов.
- •4.4 История развития полевых транзисторов.
- •4.5 История развития серийного производства транзисторов в сша и ссср
- •5. Предпосылки появления микроэлектроники
- •5.1 Требования миниатюризации электрорадиоэлементов со стороны разработчиков радиоаппаратуры.
- •5.2 Основы развития технологии микроэлектроники.
- •5.2.2.1 Фотолитография.
- •5.2.2.2 Электронно-лучевая литография.
- •5.2.2.3 Рентгеновская литография.
- •5.2.2.4 Ионно-лучевая литография.
- •IV период развития электроники Изобретение первой интегральной микросхемы
- •Развитие серийного производства интегральных микросхем.
- •6.3 Этапы развития микроэлектроники
- •Именной указатель
- •Abstract From mysticism to physics. And back?
- •About the author
- •Об авторе
- •Вопросы по курсу
- •7) Христианство и физика.
- •29) Радиоактивный распад.
- •32) Специальная теория относительности.
- •Темы рефератов
5.2 Основы развития технологии микроэлектроники.
5.2.1
Развитие микроэлектроники определяется уровнем достигнутой микротехнологии.
Планарная технология. При планарной технологии требуется обеспечить возможность создания рисунка тонких слоев из материала с различными электрическими характеристиками, чтобы получить электронную схему. Важная особенность планарной технологии заключается в ее групповом характере: все интегральные схемы (ИС) на пластине изготавливают в одном технологическом цикле, что позволяет одновременно получать несколько полупроводниковых схем.
5.2.1.1
Технологические процессы получения тонких пленок.
1)
Эпитаксия (упорядочение) – процесс
наращивания на кристаллической подложке
атомов упорядоченных в монокристаллическую
структуру. с тем чтобы структура
наращиваемой пленки полностью повторила
кристаллическую ориентацию подложки.
Основное достоинство техники эпитаксии
состоит в возможности получения
чрезвычайно чистых пленок при сохранении
возможности регулирования уровня
легирования. Применяют три типа
эпитаксиального наращивания: газовую,
жидкостную и молекулярную.
При
газовой эпитаксии водород с примесью
четырех хлористого кремния (SiCl4
+ H2) с контролируемой
концентрацией пропускают через реактор
(Рис. 5.1), в котором на графитовом основании
(1) расположены кремниевые пластины (2).
С помощью индукционного нагревателя
графит прогревается выше 1000 0С
эта температура необходима для обеспечения
правильной ориентации осаждаемых атомов
в решетке и получении монокристаллической
пленки. В основе процесса лежит обратимая
реакция: SiCl4 + 2H2
↔ Si + 4HCl –
прямая реакция соответствует получению
эпитаксиальной пленки, обратная реакция
травлению подложки. Для легирования
эпитаксиальной пленки в газовый поток
добавляют примесные атомы. Фосфорит
(PH3) используют в
качестве донорной примеси, а диборан
(B2 H3) в качестве
акцепторной примеси.
При
жидкостной эпитаксии получают
многочисленные структуры из разных
материалов. На Рис. 5.2: 1, 2, 3, 4 – растворы
5 – скользящий графитовый держатель растворов
6 – подложка
7 – основной графитовый держатель
8 – толкатель
9 – электрическая печь
10 – кварцевая труба
11 – термофара
Подвижная конструкция с различными растворами последовательно подводит растворы к подложке. Таким образом получают гетеропереходы с различными материалами толщиной менее 1 мкм (Ge – Si, GaAs – GaP)
Молекулярно-лучевая эпитаксия проводится в сверхвысоком вакууме и основана на взаимодействии нескольких молекулярных пучков с нагретой монокристаллической подложкой. На Рис. 5.3 иллюстрируется процесс получения соединения AlxGa1–xAs. Каждый нагреватель содержит тигель, являющимся источником молекулярного пучка одного из основных элементов пленки. Температура каждого нагревателя выбирается таким образом, чтобы давление паров, испаренных материалов, было достаточно для образования молекулярных пучков. Подбором температуры нагревателя и подложки получают пленки со сложным химическим составом. Дополнительное управление процессом выращивания осуществляется с помощью специальных заслонок, расположенных между нагревателем и подложкой. Метод молекулярно-лучевой эпитаксии наиболее перспективен для твердотельной электроники в которой существенную роль играют слоистые структуры субмикронных размеров.
2) Окисление. Слой двуокиси кремния формируется обычно на подложке за счет химического соединения атомов кремния с кислородом, который подается к поверхности кремниевой подложки нагретой технической печи до температуры 900-1200 оС.
Рис.
5.4 : 1 – подложка
2 – кварцевая лодочка
3 – нагреватель
4 – кварцевая труба
Окислительной средой может быть сухой или влажный кислород. Окисление происходит быстрее в атмосфере влажного кислорода, поэтому оно используется для получения толстых пленок SiO2. Наиболее часто используется толщина окисла составляющая десятые доли мкм, а верхний практический предел 1–2 мкм.
5.2.2 Литографические процессы используемые для формирования токологии микросхем.