- •1.Общая хар-ка органолептич.Анализа
- •2.Классифик.Видов органол.Анализа и их хар-ка
- •3. Основы визуального анализа
- •4. Основы обонятельного органолептического характера.
- •5. Основы вкусового органолептического анализа.
- •6. Основы осязательного органолептического анализа.
- •7. Требования, предъявляемые к дегустаторам.
- •8. Оценка сенсорной чувствительности.
- •9. Формирование групп дегустаторов.
- •10. Дегустационная комиссия
- •11. Метод предпочтений в органолептическом анализе
- •12. Методы сравнений в органолептическом анализе.
- •13. Методы бальной оценки в органолептическом анализе
- •15.Физ основы рефр-ии.
- •16. Сущность рефрактометрического метода анализа
- •20. Сущность поляриметрического метода анализа
- •21. Оптически активные вещества. Их характеристика.
- •17. Принцип действия рефрактометров
- •22. Принцип действия поляриметров.
- •23. Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа
- •24. Классификация фотометрических методов анализа.
- •25. Физические законы фотометрии ( законы Бугера-Ламберта, Бера, Бугера-Ламберта-Бера)
- •26. Приборы для фотометрического анализа. Схема фотоэлектроколориметра(ф).
- •27. Применение фотометрии (качественный и количественный анализ)
- •28. Сущность спектрофотометрии. Схема спектрофотометра.
- •29. Задачи, решаемые фотометрическими методами.
- •30. Сущность нефелометрического и турбодиметрического методов анализа.
- •32.Применение нефелометрического и турбодиметрического методов анализа.
- •33.Устройство и принцип действия фотонефелометра.
- •35. Практическое применение фотофлуориметрии
- •36. Основы спектроскопии. Классификация спектральных методов.
- •40.Принципиальная схема атомно-абсорбционного спектрометра
- •41. Источники излучения, их виды и область применения
- •42. Лампы с полым катодом
- •43. Пламенный атомизатор для аас
- •44. Электрический атомизатор для аас.
- •45. Фотоэлектрическое детектирование
- •46. Количественный атомно-абсорбционный анализ и его применение.
- •47. Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра.
- •48. Пламенная атомизация веществ.
- •49. Способы атомизации в-ва. Дуга
- •50.Индуктивно-связанная плазма. Достоинства и недостатки.
- •51. Колич аэс анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий.
- •52. Основы рентгеноскопии.
- •53. Возбуждение внутр.Электронов рентген.Излучением.
- •54. Рентгено-флуоресцентный анализ.
- •55. Устройство рентгеновского спектрометра
- •56. Устройство и принцип работы рентгеновской трубки
- •57. Устройство и принцип действия кристалла- анализатора
- •58. Детекторы. Газоразрядная трубка. Полупроводниковый детектор.
- •59. Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение.
- •60. Физические основы ик-спектрометрии.
- •63. Особенности конструкции ик-спектрометров.Схема
- •64. Интерпретация ик-спектров. Качественный и количественный анализ.
49. Способы атомизации в-ва. Дуга
Дуговой и искровый разряды.
Дуговой разряд представляет собой стационарный электрич газовый разряд между электродами. Напряжение при этом 30-80 Вт, сила тока 1-35 А, t=4000-8000 кельвин ( разряд обусловлен переносом ионов и электронов в плазме). При таких темпер. Атомы большинства элементов находятся в неионизированном состоянии, поэтому дуговые спектры состоят из атомных линий. Доля ионных линий незначительна. Воспроизводимость результатов хуже, чем при искровом разряде. Исп.для анализа металлич проб.
Искровый разряд явл нестационарным и возникает при кратковременном замыкании конденсатора колебательногог контура.
50.Индуктивно-связанная плазма. Достоинства и недостатки.
Источником атомизации и возбуждения явл индуктивно-связ плазма.
Устройство плазменной грелки рисунок.
Плазм грелка состоит из концентрических кварцевых трубок непрерывно продуваемых аргоном. Верхняя часть горелки помещена внутрь катушки индуктивности высокочастотного генератора. Высокочастотная аргоновая плазма индуцируется с помощью искрового заряда. При этом аргон частично ионизируется и в нем возник свободные носители зарядаю затем в электропроводящем газе индуцируется высокочастотный ток, вызывающий дальнейшую лавинообразную ионизацию газа. В виду малого сопротивления плазмы она быстро нагревается до 10000 кельвина без прямого контакта с электродами. В центральный канал горелки в виде аэрозоля поступает р-р пробы. При этом стабильность плазмы не нарушается. В плазме происходит высушивание пробы, диссоциация на атомы, ионизация и термическое возбуждение атомов и ионов. Недостаток-большой расход аргона. Плюсы позволяет проводить многоэлементный анализ, диапазон линейчатости 56 порядков.
51. Колич аэс анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий.
Для колич анализа АЭС наиб предпочительным источником возбужд явл плазма.
АЭС исп в металлургии, медицине, при иссл состава руд, воды, и где требуется многоэлементный анализ.
52. Основы рентгеноскопии.
Такие методы спектроскопии как атомная, ат.-абсорб., ат.-эмиссионная основаны на возбуждение валентных электронов. Для возбуждения электронов внутр.оболочек необходимо излучение более высокой энергии. Такое излучение нах.в рентгеновской области. Использование рентг.изл-я лежит в основе методов рентгенофлуорисцентной спектроскопии, методах рентгеновской дифракции, ожеспектроскопии и т.д. Взаимодейст. рент.изл-я с вещ-м имеет ряд особенностей. При прохождение ч/з тв.образец интенсивность изл-я на выходе из образца зависит от толщины, плотности мат-ла образца и коэф.поглощения. На ряду с поглощением часть рент.изл-я рассеивается. Явление рассеив-я рент.изл-я исп-ют для установления кристаллической стр-ры вещ-ва. В случае когда и источник возбуждения и возник-щие изл-е им.одну и ту же природу (рент.изл-е) процесс наз.рентг.флуорисценция. Если для возбужд-я атомов исп-ть эл-ны с более высокой энергией, то процесс наз. рент.эмиссия. Переход внутр.электрона на нижний уровень м.сопровождаться и безизлучевым процессом . Энергия освоб-ся в рез-те такого перехода м.пойти на выбивание 1-го из эл-нов более более высокого энерг.уровня. Это процесс-ожеэффект и протекает он парал-но с исп-м рент.изл-ем. Доля оже-электронов зависит от поряд.номера элемента. В конце по энергиям и количеству испущенных квантов судят о количественном и качественном составе анализируемого вещества (м.опр-ть 83 элемента; метод анал-ет в основном тв.образцы).